En août 2023, sous la direction de l'entreprise, la grande famille de Dandong Tongda Technology Co., Ltd. dans la province du Liaoning a organisé un dîner en plein air à la veille de la fin du mois.
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Le diffractomètre à rayons X (DRX) mondial s’est développé régulièrement ces dernières années et la Chine est un marché offrant de grandes perspectives de développement.
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Prenant comme exemple la mise à l'échelle des dépôts, cet article présente comment utiliser le diffractomètre à rayons X pour l'analyse qualitative et quantitative.
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L’application de nouvelles technologies et de nouveaux produits tels que la 5G, le big data et l’intelligence artificielle entraînera une énorme demande sur le marché des semi-conducteurs, et les dépenses mondiales en équipements semi-conducteurs sont entrées dans un cycle ascendant.
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La précédente introduction détaillée et complète du service de pré-vente, de vente et après-vente de l'entreprise, présentée aujourd'hui, est le contenu lié à la formation sur les produits de notre entreprise.
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La XRD haute résolution (HR-XRD) est une méthode courante pour mesurer la composition et l'épaisseur de semi-conducteurs composés tels que SiGe, AlGaAs, InGaAs, etc.
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Le diffractomètre à rayons X (XRD) peut être divisé en diffractomètre à poudre à rayons X et diffractomètre monocristallin à rayons X, le principe physique de base des deux est le même.
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La fluorescence des rayons X à réflexion totale (TXRF) est une technique d'analyse des éléments de surface couramment utilisée pour analyser les particules, les résidus et les impuretés sur des surfaces lisses.
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XRD est un moyen de recherche qui est la diffraction par diffraction des rayons X d'un matériau pour analyser son diagramme de diffraction afin d'obtenir des informations telles que la composition du matériau, la structure ou la forme des atomes ou des molécules à l'intérieur du matériau.
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La diffraction des rayons X à incidence rasante (GI-XRD) est une sorte de technique de diffraction des rayons X, qui diffère de l'expérience XRD traditionnelle, principalement en modifiant l'angle d'incidence des rayons X et l'orientation de l'échantillon.
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