La méthode d'assistance au stress interne sans énergie supplémentaire proposée dans cet article fournit une nouvelle stratégie économique et pratique pour améliorer la dynamique de réaction de la batterie.
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La technologie de diffraction des rayons X est largement utilisée dans la recherche sur les batteries lithium-ion. La DRX est une méthode conventionnelle d'analyse qualitative et quantitative des phases dans les matériaux.
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Le principe de nombreux dispositifs de caractérisation est de faire interagir les électrons avec les substances qui doivent être détectées, d'exciter les électrons secondaires, ou d'effectuer des transitions et des retours en arrière au niveau atomique, et de libérer une énergie caractéristique.
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Alors que la demande de batteries au lithium continue de croître, leurs normes de production et de sécurité doivent être améliorées de toute urgence. Des systèmes d’inspection 3D à haute résolution et à haut débit sont donc essentiels.
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XRD peut mesurer des échantillons en vrac et en poudre et a des exigences différentes pour différentes tailles et propriétés d'échantillon.
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Le diffractomètre à rayons X (DRX) mondial s’est développé régulièrement ces dernières années et la Chine est un marché offrant de grandes perspectives de développement.
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Prenant comme exemple la mise à l'échelle des dépôts, cet article présente comment utiliser le diffractomètre à rayons X pour l'analyse qualitative et quantitative.
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L’application de nouvelles technologies et de nouveaux produits tels que la 5G, le big data et l’intelligence artificielle entraînera une énorme demande sur le marché des semi-conducteurs, et les dépenses mondiales en équipements semi-conducteurs sont entrées dans un cycle ascendant.
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Ces dernières années, la mesure d’échantillons biologiques à haute pression a suscité un intérêt croissant. Cela se traduit par le développement de nouvelles techniques de mesure de pression différentes de celles mises en œuvre par DAC. L’une d’elles est la technique de congélation des cristaux sous pression.
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La XRD haute résolution (HR-XRD) est une méthode courante pour mesurer la composition et l'épaisseur de semi-conducteurs composés tels que SiGe, AlGaAs, InGaAs, etc.
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