Les analyseurs XRD utilisent la loi de Bragg pour mesurer les angles de diffraction, permettant un décodage non destructif des phases cristallines, des constantes de réseau, de la taille des grains et des contraintes à partir des variations d'espacement interplanaire.

Fondements physiques du diffractomètre à rayons X (pour la mesure des contraintes) : Dérivation approfondie de la géométrie de diffraction et de la relation contrainte-déformation

La technologie HR-XRD de nouvelle génération réduit la consommation d'énergie grâce à des mises à niveau matérielles, des commandes intelligentes et une gestion complète du cycle de vie, maintenant la précision tout en diminuant les coûts et les émissions pour les laboratoires écologiques.

Ce guide détaille la maintenance essentielle des systèmes de diffraction des rayons X de paillasse, notamment la génération de rayons X, l'optique, les détecteurs et la sécurité. Un entretien régulier garantit la précision, prévient les pannes et prolonge la durée de vie de l'équipement. Le diffractomètre de rayons X de paillasse TDM-20 de Dandong Tongda Technology répond à tous vos besoins analytiques.

La maintenance des diffractomètres de rayons X (DRX) repose sur la prévention et l'inspection régulière. Les protocoles de sécurité exigent une protection prioritaire et des procédures standardisées. Les pratiques clés comprennent le contrôle de l'environnement, l'entretien des composants, des contrôles de sécurité rigoureux et un arrêt correct. Leur respect garantit la longévité de l'instrument, la sécurité de l'opérateur et la fiabilité des données.

Les diffractomètres de paillasse permettent une identification rapide des phases sur site. Leur format compact et leur simplicité d'utilisation permettent de surmonter les limitations des diffractomètres à rayons X traditionnels, améliorant ainsi l'efficacité du contrôle qualité, de la recherche et du développement, ainsi que des applications de terrain telles que le criblage et l'analyse des matériaux.

L'efficacité d'un diffractomètre à poudre peut être doublée en optimisant la préparation des échantillons (broyage, chargement), les paramètres de l'instrument (plage et vitesse de balayage), et en adoptant un traitement par lots et une maintenance régulière. Ces mesures garantissent des données de haute qualité tout en réduisant considérablement le temps d'expérimentation et les reprises.

La diffraction des rayons X (DRX) permet une quantification précise de la phase TiO2, essentielle pour la qualité du produit. Les diffractomètres de la série TD de Dandong Tongda, dotés de programmes spécialisés, garantissent une analyse précise du rutile/anatase (<0.2% error).

Le diagramme de diffraction des rayons X constitue la base la plus fiable pour déterminer les diagrammes polycristallins, et le diagramme de diffraction des rayons X est souvent considéré comme « l’empreinte digitale » des diagrammes cristallins.

La structure cristalline des films de pérovskite modifiés par le liquide ionique (IL) BMIMAc sous différentes durées de recuit a été caractérisée par diffraction des rayons X.