L'accessoire de mesure intégré multifonctionnel de Dandong Tongda est une plateforme d'analyse d'échantillons de haute précision montée sur des goniomètres grand angle pour améliorer considérablement les capacités d'analyse par rayons X. Ce système multiaxes permet des analyses de matériaux sophistiquées, incluant l'identification de phases, les tests de contraintes résiduelles et la caractérisation de la structure plane des couches minces. Doté d'une inclinaison de l'axe α (-45°-90°), d'une rotation de 360° sur l'axe β et d'une translation XYZ (±10 mm) avec une résolution de 0,001°/0,001 mm, il prend en charge les mesures de figures de pôle en transmission/réflexion et les méthodes de contrainte iso-/latérale. Indispensable à la recherche avancée sur les matériaux, il facilite l'analyse de texture, l'évaluation des contraintes et l'étude des films multicouches sur les métaux, les céramiques et divers substrats, ce qui en fait un outil puissant pour la recherche et l'inspection industrielle.

Dans le domaine de la recherche en science des matériaux, la précision des mesures est essentielle pour exploiter pleinement les propriétés des matériaux. L'accessoire de mesure intégré multifonction développé par Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. est un outil de haute précision conçu pour améliorer les capacités d'analyse par diffraction des rayons X. Cet accessoire de mesure intégré multifonctionnel est spécialement conçu pour être installé sur des goniomètres grand angle. Sa mission principale est d'analyser avec précision les matériaux en plaques, les matériaux en vrac et les couches minces déposées sur des substrats. Cet accessoire permet d'effectuer diverses tâches de mesure, notamment la détection de phase cristalline, l'analyse du degré d'orientation et les tests de contrainte. Il prend en charge l'analyse de texture, la détermination des contraintes résiduelles et les tests de structure en plan des couches minces, fournissant ainsi un support de données complet pour la recherche sur les matériaux. Les principales caractéristiques techniques de cet accessoire se reflètent dans son système mécanique de précision coordonné multi-axes et ses méthodes de mesure hautement adaptables. L'accessoire de mesure intégré multifonctionnel prend en charge les mesures de figures polaires à l'aide de méthodes de transmission ou de réflexion, offrant une flexibilité pour différents échantillons et exigences de test. Pour les essais de contrainte, il peut utiliser à la fois la méthode d'inclinaison latérale et la méthode d'inclinaison normale. Pour les échantillons de couches minces, l'accessoire permet également des essais de rotation dans le plan, permettant une analyse approfondie des structures des couches. Son système mécanique de précision assure une grande précision de mesure et une répétabilité élevée, avec des incréments minimum de 0,001° (pour les axes de rotation) et 0,001 mm (pour les axes de translation). Le champ d'application de l'accessoire de mesure intégré multifonctionnel est extrêmement large, couvrant presque tous les domaines de fabrication et de R&D avancés qui nécessitent une analyse de la structure des matériaux. Dans le domaine des matériaux métalliques, il est utilisé pour évaluer l'organisation collective des métaux tels que les plaques laminées ; dans le domaine de la céramique, il se concentre sur l'évaluation de l'orientation de la céramique. Pour les matériaux à couches minces, l'accessoire peut analyser l'orientation cristalline préférée des échantillons de films et tester la contrainte résiduelle des films multicouches (en évaluant des propriétés telles que le pelage du film). Il peut également analyser les films d'oxydation et de nitruration de surface sur les films de matériaux supraconducteurs à haute température et les plaques métalliques, ainsi que les films multicouches sur les substrats de verre, de silicium et de métal. Il peut notamment être appliqué à l’analyse de matériaux macromoléculaires, de papier, de matériaux de placage de lentilles, etc., démontrant ainsi son potentiel d’application interdisciplinaire. Accessoire de mesure

L'accessoire de mesure intégré multifonction du diffractomètre à rayons X (DRX) est un élément clé pour l'analyse multi-scènes et multi-échelles. Grâce à sa conception modulaire, il répond aux besoins de la diffraction des poudres, de la diffusion aux petits angles, de l'analyse des contraintes résiduelles, des essais in situ, etc. Voici une liste des accessoires de mesure intégrés multifonctions courants et de leurs principales fonctions : 1. L'accessoire de mesure intégré multifonctionnel est un accessoire de contrôle de la température et de l'environnement (1) Fonction : Prend en charge les tests d'échantillons sous contrôle de température élevée, de basse température et d'humidité, utilisé pour étudier les changements de structure cristalline des matériaux dans différentes conditions de température ou d'humidité. (2) Caractéristiques : Plage de température : de la température ambiante à 1500 ℃ ; Contrôle automatique de la température et de l'humidité, adapté à la catalyse in situ, à l'analyse des changements de phase et à d'autres expériences. (3) Application : Transition de phase des matériaux métalliques, analyse de la cristallinité des polymères, recherche sur la stabilité thermique des matériaux inorganiques. 2. Échantillonneur automatique et platine d'échantillonnage pour accessoires de mesure intégrés multifonctionnels (1) Fonction : mettre en œuvre la commutation automatique et le positionnement précis de plusieurs échantillons pour améliorer l'efficacité des tests. (2) Caractéristiques : Accessoires de support tels que tables de rotation d'échantillons et tables de microdiffraction pour les tests directionnels d'échantillons complexes ; Collaborez avec un logiciel intelligent pour optimiser les paramètres de mesure et identifier automatiquement les configurations d'échantillons. (3) Application : Test d'échantillons par lots, analyse de films minces ou de micro-zones. 3. Accessoires de mesure intégrés multifonctionnels adaptés aux détecteurs bidimensionnels et aux détecteurs unidimensionnels à grande vitesse (1) Fonction : Prend en charge la collecte de données multidimensionnelles pour améliorer la capacité d'analyse d'échantillons complexes. (2) Caractéristiques : Détecteur unidimensionnel à grande vitesse, adapté à la diffraction de poudre conventionnelle ; Détecteur à réseau semi-conducteur bidimensionnel qui peut basculer entre les modes zéro dimensionnel, unidimensionnel ou bidimensionnel, étendant la micro-zone ou les capacités de test dynamique in situ. (3) Application : analyse de l'orientation des cristaux de matériaux 2D, surveillance dynamique des réactions in situ. 4. L'accessoire de mesure intégré multifonctionnel est un accessoire de diffraction de contrainte résiduelle et de micro-zone (1) Fonction : Effectuer des tests directionnels sur la répartition des contraintes ou sur de petites zones à la surface des matériaux. (2) Caractéristiques : Combinaison du système optique θ/θ avec une source de rayons X microfocus pour obtenir une micro-diffraction de niveau submillimétrique ; Mesure non destructive, utilisée pour l'analyse des contraintes des pièces métalliques et des dispositifs semi-conducteurs. (3) Application : Essais de fatigue de composants aérospatiaux, caractérisation des contraintes de films minces semi-conducteurs. 5. L'accessoire de mesure intégré multifonctionnel est un accessoire intelligent de contrôle d'étalonnage et d'automatisation (1) Fonction : Assurer la précision et la cohérence des tests grâce à la reconnaissance des composants et à la technologie d'étalonnage automatique. (2) Caractéristiques : Configuration de la pièce jointe de reconnaissance automatique du code QR, conditions de test optimales guidées par logiciel ; programme d'étalonnage entièrement automatique pour réduire les erreurs de fonctionnement humain. (3) Application : commutation d'accessoires complexes (tels que le mode haute température + AXS), fonctionnement convivial pour les débutants. La conception des accessoires des diffractomètres à rayons X modernes privilégie la modularité, l'intelligence et l'automatisation. Grâce à la collaboration entre logiciels et matériel, les accessoires peuvent être rapidement remplacés, les paramètres optimisés et les données standardisées. Les tendances futures incluent des capacités d'analyse de microzones de plus grande précision, des solutions intégrées pour les essais dynamiques in situ et des systèmes intelligents de gestion des accessoires pilotés par l'intelligence artificielle.

L'accessoire de mesure de films optiques parallèles de Dandong Tongda est un composant spécialisé pour les diffractomètres à rayons X, améliorant considérablement les performances des tests d'échantillons de couches minces. Sa conception de réseau allongé supprime efficacement les interférences de diffusion, améliorant la clarté du signal pour les films ultra-minces et nanomulticouches. Cet accessoire permet l'analyse par diffraction aux petits angles (0°–5°), assurant ainsi une mesure précise de l'épaisseur des films et des structures d'interface. Compatible avec les diffractomètres TD-3500, TD-5000, TD-3700 et TDM-20, il garantit des performances homogènes sur toutes les plateformes. Largement utilisé dans l'inspection des semi-conducteurs, l'évaluation des revêtements optiques et la recherche sur les matériaux pour les nouvelles énergies, cet outil permet de surmonter les difficultés liées aux signaux faibles et au bruit de fond. Avec les progrès réalisés dans les domaines des nanomatériaux et des semi-conducteurs, cet accessoire est appelé à jouer un rôle de plus en plus crucial dans la recherche de pointe et le contrôle qualité.

L'accessoire de mesure de film optique parallèle est un composant optique utilisé pour améliorer l'intensité du signal des films minces et réduire l'influence des signaux du substrat sur les résultats de mesure. Il est généralement utilisé dans les expériences ou instruments optiques, principalement pour générer des faisceaux parallèles ou effectuer des mesures optiques sur des échantillons de films minces. En augmentant la longueur du réseau, un contrôle et un filtrage plus précis de la lumière peuvent être obtenus. Lorsque la lumière passe à travers, la plaque de réseau peut filtrer davantage de lignes diffusées, rendant la lumière transmise plus pure et plus concentrée, réduisant ainsi l'interférence de la lumière diffusée sur le signal du film mince et améliorant la force du signal du film mince lui-même, améliorant ainsi la précision et la fiabilité de la mesure. 1. Fonction principale de l'accessoire de mesure de film optique parallèle Amélioration de la précision de mesure : dans la détection et l'analyse liées aux films minces, telles que la mesure de l'épaisseur des films minces, la détermination de la constante optique, etc., les fixations de films minces à lumière parallèle peuvent réduire efficacement l'influence des signaux de substrat, rendant les résultats de mesure plus proches des véritables caractéristiques du film mince, améliorant ainsi la précision et l'exactitude de la mesure. Amélioration de la puissance du signal : elle permet d'augmenter l'intensité du signal lumineux réfléchi ou transmis par le film mince, ce qui est particulièrement important pour certains échantillons de film mince avec des signaux plus faibles. Le signal amélioré peut être reçu et reconnu plus clairement par le détecteur, réduisant ainsi la limite de détection et améliorant la sensibilité de l'instrument pour la détection d'échantillons de film mince. Amélioration de la qualité de l'image : dans certaines applications qui nécessitent une observation d'imagerie de films minces, comme l'observation de la morphologie de surface de films minces au microscope, les fixations de films minces à lumière parallèle peuvent réduire le bruit de fond et le flou causés par la lumière diffusée, rendant l'image du film mince plus claire, avec un contraste plus élevé et plus facile à observer et à analyser la structure détaillée du film mince. 2. Principaux composants de l'accessoire de mesure de film optique parallèle Source de lumière : En général, des lasers, des LED ou d’autres sources de lumière monochromatique sont utilisés. Lentille collimatrice : convertit les faisceaux lumineux divergents en lumière parallèle. Support d'échantillon : utilisé pour placer des échantillons de films, généralement réglable en position et en angle. Détecteur : utilisé pour recevoir des signaux lumineux transmis ou réfléchis à des fins de mesure et d'analyse. 3. Domaines d'application de l'accessoire de mesure de film optique parallèle Recherche optique : utilisée pour étudier les propriétés optiques des films minces, telles que les interférences, la diffraction, etc. Science des matériaux : utilisée pour mesurer l'épaisseur et l'indice de réfraction des films minces et évaluer les propriétés des matériaux. Tests industriels : utilisés pour le contrôle qualité et les tests dans la production de films. 4. Instructions pour l'accessoire de mesure de film optique parallèle Ajustez la source lumineuse : Assurez-vous que la source lumineuse est stable et que le faisceau est uniforme. Faisceau collimaté : Ajustez le faisceau lumineux à travers une lentille de collimation pour le rendre parallèle. Placer l'échantillon : Placez l'échantillon de film sur la platine d'échantillon, ajustez la position et l'angle. Mesure et analyse : utiliser des détecteurs pour recevoir des signaux lumineux, enregistrer des données et effectuer des analyses. 5. Précautions Stabilité de la source lumineuse : Assurez la stabilité de la source lumineuse pour éviter les erreurs de mesure. Nettoyage des composants optiques : Gardez les composants optiques propres pour éviter que la poussière et les taches n'affectent les résultats de mesure. Préparation de l'échantillon : assurez-vous que l'échantillon de film est uniforme et sans défaut pour obtenir des résultats de mesure précis. En résumé, l'accessoire de mesure de film optique parallèle est un composant optique important qui joue un rôle crucial dans de nombreux domaines et revêt une grande importance dans la promotion de la recherche scientifique et du progrès technologique dans les domaines connexes.

L'accessoire de mesure de film optique parallèle augmente la longueur de la plaque de réseau pour filtrer davantage de lignes dispersées, ce qui est bénéfique pour réduire l'influence du signal du substrat sur les résultats et améliorer l'intensité du signal du film.

L'accessoire de mesure de film optique parallèle augmente la longueur de la plaque de réseau pour filtrer davantage de lignes dispersées, ce qui est bénéfique pour réduire l'influence du signal du substrat sur les résultats et améliorer l'intensité du signal du film.

L'accessoire de mesure de film optique parallèle augmente la longueur de la plaque de réseau pour filtrer les lignes plus dispersées, ce qui est bénéfique pour réduire l'influence du signal du substrat sur les résultats et améliorer l'intensité du signal du film.

Les accessoires de mesure intégrés multifonctionnels sont utilisés pour analyser les films sur les cartes, les blocs et les substrats, et peuvent effectuer des tests tels que la détection de phase cristalline, l'orientation, la texture, la contrainte et la structure dans le plan des films minces. Les accessoires de mesure intégrés multifonctionnels sont généralement conçus pour améliorer la fonctionnalité du diffractomètre à rayons X, leur permettant de s'adapter à des besoins de test plus divers. Il existe une relation étroite entre les accessoires de mesure intégrés multifonctionnels et le diffractomètre à rayons X. Ces accessoires améliorent non seulement la fonctionnalité et les performances du diffractomètre à rayons X, mais améliorent également sa facilité d'utilisation et sa sécurité. Dans les applications pratiques, les utilisateurs peuvent choisir des accessoires adaptés à leurs besoins spécifiques pour élargir les scénarios d'application du diffractomètre à rayons X et améliorer l'efficacité de la mesure.

L'accessoire de mesure de film optique parallèle est un outil spécialisé pour l'analyse par diffraction des rayons X, qui filtre les lignes plus dispersées en augmentant la longueur de la plaque de réseau, réduisant ainsi l'influence du signal du substrat sur les résultats et améliorant l'intensité du signal du film mince. Dans le domaine de la science des matériaux, l'accessoire de mesure de film optique parallèle est couramment utilisé pour étudier la structure cristalline, le comportement de transition de phase et l'état de contrainte des matériaux à film mince. Avec le développement de la nanotechnologie, l'accessoire de mesure de film optique parallèle a également été largement utilisé dans les tests d'épaisseur et l'analyse par diffraction à petit angle des films multicouches nanométriques. La conception et la fabrication de l'accessoire de mesure de film optique parallèle visent une haute précision pour répondre aux exigences de la recherche scientifique et de la production industrielle en matière de précision des données. Pendant l'utilisation, l'accessoire de mesure de film optique parallèle doit maintenir un degré élevé de stabilité pour garantir la fiabilité des résultats des tests. Avec l'avancement de la technologie et le développement de l'industrie, la demande d'instruments d'analyse de haute précision et de haute stabilité augmente constamment. Les accessoires de mesure de film optique parallèle, en tant que composant important, connaissent également une croissance soutenue de la demande du marché. Afin de répondre à la demande du marché et d'améliorer les performances des produits, la technologie des accessoires de mesure de film optique parallèle innove et s'améliore constamment. Par exemple, l'amélioration du matériau et de la conception des plaques de réseau, l'optimisation du système optique et d'autres moyens peuvent améliorer l'effet de filtrage et la capacité d'amélioration du signal. En résumé, les accessoires de mesure de film optique parallèle jouent un rôle crucial dans l'analyse par diffraction des rayons X. Avec l'avancement de la technologie et le développement de l'industrie, ses perspectives d'application s'élargiront encore.

Le goniomètre est le cœur du diffractomètre à rayons X, et le diffractomètre à rayons X de la série TD présente une précision de mesure extrêmement élevée