Les accessoires pour fibres optiques XRD et FTIR offrent des solutions complètes de caractérisation des matériaux. Les unités XRD analysent la structure cristalline et l'orientation, tandis que les systèmes FTIR identifient la composition grâce à la micro-imagerie et à la technologie ATR. Parmi les accessoires figurent la diffraction aux petits angles, l'analyse de couches minces par faisceau parallèle et les platines thermiques in situ pour l'analyse à l'échelle nanométrique. La manipulation automatisée des échantillons améliore l'efficacité. Les applications couvrent la recherche sur les matériaux, le contrôle qualité industriel et les études scientifiques du dichroïsme des polymères. Ces outils continuent d'évoluer, stimulant l'innovation dans le domaine des fibres et leurs applications industrielles.

L'accessoire de mesure intégré multifonctionnel est utilisé pour analyser les films sur les cartes, les blocs et les substrats, et peut effectuer des tests tels que la détection de phase cristalline, l'orientation, la texture, la contrainte et la structure dans le plan des films minces. Caractéristiques fonctionnelles des accessoires de mesure intégrés multifonctionnels : Effectuer des tests de diagramme polaire en utilisant des méthodes de transmission ou de réflexion ; Les tests de résistance peuvent être effectués soit en utilisant la méthode d’inclinaison parallèle, soit en utilisant la même méthode d’inclinaison ; Essais de couches minces (rotation dans le plan des échantillons) Domaines d'application des accessoires de mesure intégrés multifonctionnels : Évaluation des structures d'assemblage métalliques telles que les plaques laminées ; Evaluation de l'orientation de la céramique ; Évaluation de l'orientation prioritaire des cristaux dans des échantillons de films minces ; Essais de contraintes résiduelles de divers matériaux métalliques et céramiques (évaluation de la résistance à l'usure, de la résistance à la coupe, etc.) ; Essais de contraintes résiduelles de films multicouches (évaluation du décollement du film, etc.) ; Analyse de l'oxydation de surface et des films de nitrure sur des matériaux supraconducteurs à haute température tels que des films minces et des plaques métalliques ; Verre Si、 Analyse de films multicouches sur substrats métalliques (films minces magnétiques, films durcissants de surface métalliques, etc.) ; Analyse de matériaux de galvanoplastie tels que les matériaux macromoléculaires, le papier et les lentilles. Spécifications techniques des accessoires de mesure intégrés multifonctionnels : Axe alpha (inclinaison) distance de pas minimale : 0,001 °/pas, plage dynamique : -45°-90° Pas minimum de l'axe β (rotation) : 0,001 °/pas, plage dynamique : 0 ° -360 ° Distance de pas minimale sur l'axe z : 0,001 °/pas, plage dynamique : 0-10 mm Taille de l'échantillon : diamètre maximum de 100 mm, épaisseur réglable

Dans le diffractomètre à rayons X, les accessoires de mesure intégrés multifonctions sont essentiels pour améliorer considérablement la fonctionnalité et la flexibilité de l'instrument. Utilisés pour l'analyse des films sur cartes, blocs et substrats, ils permettent d'effectuer des tests tels que la détection de phase cristalline, l'orientation, la texture, la contrainte et la structure plane des films minces. Aperçu de base des accessoires de mesure intégrés multifonctionnels : Définition : Il s'agit d'un terme général désignant une série de dispositifs ou de modules supplémentaires utilisés dans un diffractomètre à rayons X pour étendre les fonctions de l'instrument, améliorer la précision et l'efficacité des mesures. Objectif : Ces accessoires visent à permettre au diffractomètre à rayons X de répondre à une plus large gamme de besoins expérimentaux et de fournir des informations plus complètes et plus précises sur la structure des matériaux. Les caractéristiques fonctionnelles des accessoires de mesure intégrés multifonctionnels : Effectuer des tests de diagramme polaire en utilisant des méthodes de transmission ou de réflexion ; Les tests de résistance peuvent être effectués soit en utilisant la méthode d’inclinaison parallèle, soit en utilisant la même méthode d’inclinaison ; Test de couche mince (rotation dans le plan de l'échantillon). Caractéristiques techniques des accessoires de mesure intégrés multifonctionnels : Haute précision : ils utilisent généralement une technologie de détection et des systèmes de contrôle avancés pour garantir une haute précision et une répétabilité des mesures. Automatisation : de nombreux accessoires prennent en charge les opérations automatisées et peuvent être intégrés de manière transparente à l'hôte du diffractomètre à rayons X pour réaliser une mesure en un clic. Conception modulaire : permet aux utilisateurs de sélectionner et de combiner différents modules d'accessoires en fonction de leurs besoins réels. Domaines d'application des accessoires de mesure intégrés multifonctionnels : Largement utilisé dans des domaines tels que la science des matériaux, la physique, la chimie, la biologie et la géologie ; Évaluation des structures d'assemblage métalliques telles que les plaques laminées ; Evaluation de l'orientation de la céramique ; Évaluation de l'orientation prioritaire des cristaux dans des échantillons de films minces ; Essais de contraintes résiduelles de divers matériaux métalliques et céramiques (évaluation de la résistance à l'usure, de la résistance à la coupe, etc.) ; Essais de contraintes résiduelles de films multicouches (évaluation du décollement du film, etc.) ; Analyse de l'oxydation de surface et des films de nitrure sur des matériaux supraconducteurs à haute température tels que des films minces et des plaques métalliques ; Verre Si, Analyse de films multicouches sur substrats métalliques (films minces magnétiques, films durcissants de surface métalliques, etc.) ; Analyse de matériaux de galvanoplastie tels que les matériaux macromoléculaires, le papier et les lentilles. Les accessoires de mesure multifonctionnels intégrés au diffractomètre à rayons X sont essentiels pour améliorer les performances de l'instrument. Ils optimisent non seulement les fonctionnalités de l'instrument, mais aussi la précision et l'efficacité des mesures, offrant aux chercheurs des méthodes d'analyse des matériaux plus complètes et plus approfondies. Grâce aux progrès technologiques constants, ces accessoires continueront de jouer un rôle important dans la promotion de la recherche scientifique dans des domaines connexes et permettront de nouvelles avancées.

L'accessoire haute température d'un diffractomètre est un dispositif supplémentaire permettant d'effectuer une analyse par diffraction des rayons X sur des échantillons soumis à des températures élevées. Il permet de comprendre les modifications de la structure cristalline des échantillons lors d'un chauffage à haute température et les variations de dissolution mutuelle de diverses substances lors de ce chauffage. Principe de fonctionnement de l'accessoire haute température : Grâce à des méthodes telles que le chauffage par résistance, le chauffage par induction ou le chauffage par rayonnement, l'échantillon est chauffé dans une plage de température définie. Parallèlement, l'appareil est équipé de capteurs de température et de systèmes de contrôle de haute précision pour surveiller et ajuster la température de l'échantillon en temps réel, garantissant ainsi sa stabilité et sa précision. La précision du contrôle de température peut atteindre ±0,5 °C, voire plus. Afin de maintenir la stabilité de l'échantillon à haute température et d'éviter toute réaction avec l'oxygène de l'air, les accessoires haute température nécessitent généralement un système de protection de l'atmosphère. Les atmosphères courantes comprennent des gaz inertes tels que l'argon et l'azote. Ce système de contrôle de l'atmosphère permet de contrôler avec précision le débit et la pression de l'atmosphère, offrant ainsi un environnement expérimental stable pour l'échantillon. Les principales fonctions de l'accessoire haute température sont : La surveillance en temps réel des transitions de phase, des réactions chimiques, des modifications de la structure cristalline et d'autres processus d'un échantillon peut être réalisée dans des environnements à haute température afin d'obtenir des informations sur la structure et les propriétés des substances à différentes températures. L'analyse de la position, de l'intensité et de la forme des pics de diffraction permet d'obtenir les paramètres de la cellule cristalline, la structure cristalline, la composition de la phase et d'autres informations sur l'échantillon, et de mesurer avec précision la teneur de chaque composant. L'étude de la vitesse, du mécanisme et du comportement de diffusion des réactions chimiques permet, par exemple, d'observer les modifications structurelles des catalyseurs lors de réactions à haute température, de comprendre la formation et la disparition de leurs centres actifs et d'optimiser leurs performances. Domaine d'application de l'accessoire haute température : Utilisé pour étudier la transition de phase, l'évolution de la structure cristalline et les variations de performances des matériaux supraconducteurs haute température, des alliages métalliques, des matériaux céramiques, etc. à différentes températures, fournissant ainsi une base pour la conception et la préparation des matériaux. Le suivi des modifications des substances au cours des réactions chimiques, comme l'étude des changements structuraux des catalyseurs et de l'évolution des centres actifs dans les réactions catalytiques à haute température, peut contribuer au développement de catalyseurs efficaces. Étudiez les propriétés physiques des substances à haute température, telles que le magnétisme, la structure électronique et leur relation avec la température, et explorez de nouveaux phénomènes et lois physiques. Paramètre technique de l'accessoire haute température : Réglage de la température : environnement de gaz inerte de la température ambiante à 1200 ℃ Environnement sous vide : température élevée de 1600 ℃ Précision du contrôle de la température : ± 0,5 ℃ Matériau de la fenêtre : Film polyester Méthode de refroidissement : refroidissement par circulation d'eau déionisée En résumé, l'accessoire haute température du diffractomètre est un outil de test important qui peut effectuer une analyse par diffraction des rayons X sur des échantillons dans des conditions de température élevée, offrant un soutien solide à la recherche dans des domaines tels que la science des matériaux, le génie chimique et la physique.

L'accessoire de mesure de film optique parallèle est un composant optique utilisé pour améliorer l'intensité du signal des films minces et réduire l'influence des signaux du substrat sur les résultats de mesure. Il est généralement utilisé dans les expériences ou instruments optiques, principalement pour générer des faisceaux parallèles ou effectuer des mesures optiques sur des échantillons de films minces. En augmentant la longueur du réseau, un contrôle et un filtrage plus précis de la lumière peuvent être obtenus. Lorsque la lumière passe à travers, la plaque de réseau peut filtrer davantage de lignes diffusées, rendant la lumière transmise plus pure et plus concentrée, réduisant ainsi l'interférence de la lumière diffusée sur le signal du film mince et améliorant la force du signal du film mince lui-même, améliorant ainsi la précision et la fiabilité de la mesure. 1. Fonction principale de l'accessoire de mesure de film optique parallèle Amélioration de la précision de mesure : dans la détection et l'analyse liées aux films minces, telles que la mesure de l'épaisseur des films minces, la détermination de la constante optique, etc., les fixations de films minces à lumière parallèle peuvent réduire efficacement l'influence des signaux de substrat, rendant les résultats de mesure plus proches des véritables caractéristiques du film mince, améliorant ainsi la précision et l'exactitude de la mesure. Amélioration de la puissance du signal : elle permet d'augmenter l'intensité du signal lumineux réfléchi ou transmis par le film mince, ce qui est particulièrement important pour certains échantillons de film mince avec des signaux plus faibles. Le signal amélioré peut être reçu et reconnu plus clairement par le détecteur, réduisant ainsi la limite de détection et améliorant la sensibilité de l'instrument pour la détection d'échantillons de film mince. Amélioration de la qualité de l'image : dans certaines applications qui nécessitent une observation d'imagerie de films minces, comme l'observation de la morphologie de surface de films minces au microscope, les fixations de films minces à lumière parallèle peuvent réduire le bruit de fond et le flou causés par la lumière diffusée, rendant l'image du film mince plus claire, avec un contraste plus élevé et plus facile à observer et à analyser la structure détaillée du film mince. 2. Principaux composants de l'accessoire de mesure de film optique parallèle Source de lumière : En général, des lasers, des LED ou d’autres sources de lumière monochromatique sont utilisés. Lentille collimatrice : convertit les faisceaux lumineux divergents en lumière parallèle. Support d'échantillon : utilisé pour placer des échantillons de films, généralement réglable en position et en angle. Détecteur : utilisé pour recevoir des signaux lumineux transmis ou réfléchis à des fins de mesure et d'analyse. 3. Domaines d'application de l'accessoire de mesure de film optique parallèle Recherche optique : utilisée pour étudier les propriétés optiques des films minces, telles que les interférences, la diffraction, etc. Science des matériaux : utilisée pour mesurer l'épaisseur et l'indice de réfraction des films minces et évaluer les propriétés des matériaux. Tests industriels : utilisés pour le contrôle qualité et les tests dans la production de films. 4. Instructions pour l'accessoire de mesure de film optique parallèle Ajustez la source lumineuse : Assurez-vous que la source lumineuse est stable et que le faisceau est uniforme. Faisceau collimaté : Ajustez le faisceau lumineux à travers une lentille de collimation pour le rendre parallèle. Placer l'échantillon : Placez l'échantillon de film sur la platine d'échantillon, ajustez la position et l'angle. Mesure et analyse : utiliser des détecteurs pour recevoir des signaux lumineux, enregistrer des données et effectuer des analyses. 5. Précautions Stabilité de la source lumineuse : Assurez la stabilité de la source lumineuse pour éviter les erreurs de mesure. Nettoyage des composants optiques : Gardez les composants optiques propres pour éviter que la poussière et les taches n'affectent les résultats de mesure. Préparation de l'échantillon : assurez-vous que l'échantillon de film est uniforme et sans défaut pour obtenir des résultats de mesure précis. En résumé, l'accessoire de mesure de film optique parallèle est un composant optique important qui joue un rôle crucial dans de nombreux domaines et revêt une grande importance dans la promotion de la recherche scientifique et du progrès technologique dans les domaines connexes.

L'accessoire moyenne et basse température d'un diffractomètre à rayons X est un élément clé utilisé pour l'analyse par diffraction des rayons X dans des environnements à basse température. L'accessoire moyenne et basse température est largement utilisé dans les travaux de recherche et développement en science des matériaux, physique, chimie et d'autres domaines, particulièrement adapté aux scénarios qui nécessitent une analyse structurelle des matériaux dans différentes conditions de température. Afin de comprendre les changements de structure cristalline au cours du processus de réfrigération à basse température, voici les paramètres techniques de l'accessoire moyenne et basse température : Environnement sous vide : - 196~500℃ Précision du contrôle de la température : ± 0,5 ℃ Méthode de réfrigération : azote liquide (consommation inférieure à 4L/h) Matériau de la fenêtre : Film polyester Méthode de refroidissement : refroidissement par circulation d'eau déionisée En bref, l'accessoire moyenne et basse température du diffractomètre à rayons X est un composant d'équipement important qui peut fournir un soutien solide à la recherche scientifique et à l'analyse des matériaux. L'accessoire moyenne et basse température d'un diffractomètre est l'un des outils importants dans le domaine de l'analyse de la structure des matériaux, avec de larges perspectives d'application et une valeur de recherche significative. L'accessoire moyenne et basse température du diffractomètre est un composant clé pour assurer le fonctionnement normal et la mesure précise de l'instrument dans des conditions de basse température. Sa conception et ses performances affectent directement la précision et la fiabilité des résultats expérimentaux. Lors de la sélection et de l'application de l'accessoire moyenne et basse température, les exigences expérimentales, les caractéristiques de l'échantillon, ainsi que les paramètres techniques et les caractéristiques de performance des accessoires doivent être pleinement pris en compte pour garantir les meilleurs résultats expérimentaux.

Les accessoires pour diffractomètres à petit angle sont des accessoires importants utilisés dans les diffractomètres à rayons X. Les accessoires pour diffractomètres à petit angle permettent de prendre des mesures de diffraction des rayons X dans une plage d'angle très réduite, de 0° à 5°, pour tester l'épaisseur des films multicouches nanométriques. Ils jouent un rôle important dans des domaines tels que la science des matériaux, la physique, la chimie et la biologie. Types et caractéristiques courants : Accessoire pour film mince à lumière parallèle : cet accessoire peut générer des faisceaux de rayons X parallèles et convient aux mesures de diffraction à petit angle d'échantillons de films minces. Il peut améliorer la précision et la résolution des mesures, réduire les erreurs de mesure causées par la divergence du faisceau et mieux s'adapter aux échantillons de films minces de différentes épaisseurs et propriétés. Platine d'échantillon multifonctionnelle : équipée d'accessoires de diffraction à petit angle, la platine d'échantillon multifonctionnelle peut fournir divers environnements de test pour les échantillons, tels que le chauffage, le refroidissement, l'étirement in situ, etc. Cela rend plus pratique l'étude des changements structurels des matériaux dans différentes conditions externes et permet l'observation en temps réel de la réponse structurelle des matériaux pendant la température, la contrainte et d'autres changements. Les accessoires de diffractomètre à petit angle jouent un rôle important dans de nombreux domaines tels que la science des matériaux, la physique, la chimie et la biologie en réalisant une diffraction à petit angle et une mesure précise de l'épaisseur du film multicouche nano, offrant aux chercheurs un outil puissant pour une exploration approfondie des microstructures et des propriétés des matériaux.

Les accessoires en fibre sont testés pour leur structure cristalline unique à l'aide de la méthode de diffraction des rayons X (transmission). Testez l'orientation de l'échantillon en fonction de données telles que la cristallinité des fibres et la largeur à mi-pic. Un composant spécialisé utilisé pour analyser les matériaux fibreux tels que les textiles, les fibres polymères, les fibres biologiques, etc. Il est couramment utilisé pour étudier la structure cristalline, l'orientation et la disposition moléculaire des fibres. Fonctions principales des accessoires de fibre : 1. Fixation de l'échantillon de fibre : les accessoires de fibre sont utilisés pour fixer l'échantillon de fibre, garantissant sa position et la stabilité de sa direction dans le faisceau de rayons X. 2. Analyse de l’orientation des fibres : En ajustant la position et l’angle de l’échantillon, l’orientation cristalline et la disposition moléculaire des fibres sont étudiées. 3. Diffusion des rayons X aux petits angles (SAXS) : certains accessoires de fibre prennent en charge la SAXS pour analyser la structure nanométrique des fibres. Types courants d’accessoires de fibre : 1. Dispositif d'étirement des fibres : il peut appliquer une tension aux fibres pendant l'analyse XRD pour étudier les changements structurels sous contrainte. 2. Platine d'échantillon rotative : permet aux échantillons de fibres de tourner, facilitant la collecte de données de diffraction sous différents angles. 3. Accessoires de contrôle de la température : utilisés pour analyser les matériaux fibreux à des températures spécifiques et étudier l'effet de la température sur la structure. Domaines d’application des accessoires en fibre : 1. Science des matériaux : Étudier la structure cristalline et les propriétés mécaniques des fibres synthétiques telles que le nylon et le polyester. 2. Biomatériaux : Analyser la structure des fibres naturelles telles que le collagène et la cellulose. 3. Textiles : Évaluer l’orientation et la cristallinité des fibres textiles. Étapes d'utilisation des accessoires en fibre : 1. Préparation de l'échantillon : Fixez l'échantillon de fibre sur le support. 2. Ajustez les paramètres : définissez la source de rayons X, le détecteur et les positions de l'échantillon. 3. Collecte de données : Collectez les diagrammes de diffraction. 4. Analyse des données : utiliser un logiciel pour analyser les données de diffraction et obtenir des informations structurelles. Questions nécessitant une attention particulière : -Alignement de l'échantillon : assurez-vous que l'échantillon est précisément aligné avec le faisceau de rayons X. - Optimisation des paramètres : optimisez l'énergie des rayons X, le temps d'exposition, etc. en fonction des caractéristiques de l'échantillon. - Qualité des données : garantit des modèles de diffraction clairs et évite les interférences de bruit. Notre société propose des formations sur site sur l'utilisation des instruments et les connaissances industrielles connexes, ainsi que sur l'utilisation et la maintenance ultérieures des logiciels d'analyse et sur des services complets de maintenance des machines.

L'accessoire de mesure de film optique parallèle augmente la longueur de la plaque de réseau pour filtrer davantage de lignes dispersées, ce qui est bénéfique pour réduire l'influence du signal du substrat sur les résultats et améliorer l'intensité du signal du film.

Les accessoires en fibre sont testés pour leur structure cristalline unique à l'aide de la méthode de diffraction des rayons X (transmission). Testez l'orientation de l'échantillon en fonction de données telles que la texture de la fibre et la largeur à mi-pic.

L'accessoire moyenne et basse température est conçu pour comprendre les changements de structure cristalline au cours du processus de réfrigération à basse température.

L'accessoire de mesure de film optique parallèle augmente la longueur de la plaque de réseau pour filtrer davantage de lignes dispersées, ce qui est bénéfique pour réduire l'influence du signal du substrat sur les résultats et améliorer l'intensité du signal du film.