L'analyseur de cristaux à rayons X de Dandong Tongda adopte une technologie avancée de diffraction des rayons X, permettant la détection non destructive des informations microstructurales de divers matériaux. Qu'il s'agisse d'orientation de monocristal, d'inspection de défauts, de mesure des paramètres de réseau ou d'analyse des contraintes résiduelles, cet instrument fournit des données d'essai précises et fiables, offrant un support solide à la recherche sur les matériaux et au contrôle qualité. L'instrument est équipé d'un générateur de rayons X hautement stable offrant des performances exceptionnelles. La tension du tube est réglable avec précision entre 10 et 60 kV, et le courant entre 2 et 60 mA, avec une stabilité maximale de ± 0,005 %. Cela garantit des résultats de test hautement reproductibles et précis, offrant aux chercheurs une garantie de données fiables. L'analyseur de cristaux à rayons X de Dandong Tongda intègre un contrôle intelligent et une protection de sécurité complète. Il est équipé d'un système de contrôle automatique PLC importé, permettant des mesures automatiques et chronométrées sans surveillance. Le système de protection multi-niveaux inclut des protections contre l'absence de pression, l'absence de courant, les surtensions, les surintensités, les surtensions, l'absence d'eau et la surchauffe du tube à rayons X, garantissant ainsi la sécurité des opérateurs. L'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF est doté d'un boîtier tubulaire vertical avec quatre fenêtres utilisables simultanément. Il utilise une technologie de contrôle PLC importée, offrant une haute précision et de solides capacités anti-interférences, garantissant un fonctionnement fiable du système. Le PLC contrôle la commutation et le réglage de la haute tension et intègre une fonction d'apprentissage automatique du tube à rayons X, prolongeant ainsi efficacement la durée de vie de ce dernier et de l'instrument. L'enceinte de protection contre les radiations de l'instrument est construite avec du verre au plomb haute densité et haute transparence, avec des fuites de rayonnement externes bien inférieures aux normes de sécurité nationales, permettant aux chercheurs de mener des études expérimentales dans un environnement sécurisé. Entreprise nationale de haute technologie, Dandong Tongda Technology Co., Ltd. dispose d'un système complet de gestion de la qualité et d'une équipe de R&D technique. Ses produits répondent non seulement aux exigences du marché intérieur, mais sont également exportés vers de nombreux pays et régions, démontrant ainsi la force et le potentiel de la fabrication d'instruments scientifiques en Chine. L'analyseur de cristaux à rayons X de Dandong Tongda, grâce à ses performances exceptionnelles et à sa qualité fiable, est devenu un outil précieux dans le domaine de l'analyse des matériaux. Il aide les chercheurs et les ingénieurs à dévoiler les couches du monde des matériaux et à explorer des possibilités encore plus inexplorées.

L'accessoire de diffraction aux petits angles est un composant spécialisé utilisé dans les instruments de diffraction des rayons X, principalement pour l'analyse de la structure et de l'épaisseur des matériaux à l'échelle nanométrique. 1. Fonctions principales des accessoires de diffraction aux petits angles (1) Plage d'angles de diffraction : couvrant une petite plage d'angles de 0° à 5°, adaptée à l'analyse par diffraction de matériaux à l'échelle nanométrique. (2) Application principale : Il peut tester avec précision l'épaisseur des films nano multicouches et prendre en charge l'étude de la surface du matériau ou de la structure de l'interface. 2. Appareils compatibles pour les accessoires de diffraction à petit angle Cet accessoire est généralement utilisé en conjonction avec des diffractomètres à rayons X (tels que TD-3500, TD-3700, TDM-20, etc.). 3. Scénarios d'application des accessoires de diffraction aux petits angles (1) Science des matériaux : Caractérisation des structures de nanofilms et de films multicouches. (2) Chimie et génie chimique : traitement de surface des matériaux, essai d'épaisseur de revêtement. (3) Autres domaines : Analyse à l’échelle nanométrique de matériaux tels que la géologie, les minéraux, la céramique et les produits pharmaceutiques. 4. Informations sur le fabricant Dandong Tongda Technology Co., Ltd. est le principal fabricant de ce type d'accessoires. Ses instruments d'analyse de la série TD sont réputés pour approcher ou atteindre les normes internationales et sont exportés vers des pays comme les États-Unis et l'Azerbaïdjan. En général, les accessoires de diffraction aux petits angles sont des outils essentiels pour l'analyse des nanomatériaux et la mesure de l'épaisseur des couches minces, et doivent être utilisés en conjonction avec des instruments de diffraction des rayons X spécialisés. Leurs applications se concentrent dans des domaines de pointe tels que la science des matériaux et le génie chimique.

L'instrument de diffraction des rayons X de bureau TDM-10 est un instrument utilisé pour analyser la structure de phase des matériaux, qui peut être équipé de détecteurs à scintillation/proportionnels/à réseau linéaire. 1. Principe de fonctionnement de l'instrument de diffraction des rayons X de bureau TDM-10 : selon la loi de Bragg, lorsqu'un faisceau de rayons X monochromatique frappe un cristal, si la condition de diffraction de Bragg est satisfaite (n λ = 2 d sin θ, où λ est la longueur d'onde du rayon X, d l'espacement interplanaire et θ l'angle d'incidence), les atomes ou molécules du cristal se dispersent et interfèrent avec le rayon X, formant un motif de diffraction spécifique. La mesure de l'intensité de diffraction sous différents angles permet d'obtenir des informations structurelles du cristal. 2. Caractéristiques de l'instrumentation de diffraction des rayons X de bureau TDM-10 : La haute résolution d'un instrument de diffraction des rayons X de bureau permet une mesure précise de la structure cristalline des substances, ce qui est crucial pour étudier des mélanges complexes ou rechercher des phases polycristallines et traces à faible teneur. Analyse non destructive de l'instrumentation de diffraction des rayons X de bureau : pendant le processus de test, cela n'endommagera pas l'échantillon et l'échantillon peut rester dans son état d'origine pour des tests ou une utilisation supplémentaires. Le fonctionnement de l'équipement de diffraction des rayons X sur poudre de bureau est simple : les équipements de diffraction des rayons X sur poudre de bureau modernes disposent généralement de fonctions d'automatisation et d'intelligence, ce qui rend l'opération plus pratique et réduit les exigences en matière de connaissances et de compétences professionnelles de l'opérateur. La polyvalence de l'équipement de diffraction des rayons X sur poudre de bureau : l'équipement de diffraction des rayons X sur poudre peut effectuer diverses analyses telles que l'analyse qualitative et quantitative de phase, l'analyse de la constante de réseau, l'analyse des contraintes, etc. 3. Paramètres techniques de l'équipement de diffraction des rayons X sur poudre de bureau TDM-10 : La machine de diffraction des rayons X de bureau a un petit volume ; L'alimentation haute fréquence et haute tension réduit la consommation électrique globale de la machine ; Peut calibrer et tester rapidement des échantillons ; Contrôle de circuit simple, facile à déboguer et à installer ; La précision de mesure de la position du pic de diffraction est de 0,001 ° ; Détecteur : scintillation, proportionnel, réseau linéaire ; Plage de 2 θ : -10°~150° Puissance : 600 W ; Tension maximale : 40 kV ; Courant maximal : 15 mA ; Tubes à rayons X : tubes céramiques ondulés, tubes métallo-céramiques, tubes en verre. 4. Domaines d'application de la machine de diffraction des rayons X de bureau TDM-10 : Science des matériaux : utilisée pour étudier la structure cristalline, la composition des phases, la granulométrie, la cristallinité, etc. des métaux, des céramiques, des semi-conducteurs et d'autres matériaux, aidant les scientifiques des matériaux à comprendre les propriétés et les caractéristiques des matériaux. Dans le domaine de la chimie, la machine de diffraction des rayons X peut être utilisée dans l'industrie de fabrication de catalyseurs, de ciment, de produits pharmaceutiques et d'autres produits pour identifier les phases dans des échantillons inconnus, ainsi que pour analyser quantitativement les phases connues dans des échantillons mixtes. Géologie : Réalisation d'analyses de phase sur des minerais, des roches, etc. pour déterminer leur composition minérale et leur structure. Sciences de l’environnement : utilisées pour analyser la composition minérale et les formes de polluants dans des échantillons environnementaux tels que le sol et les sédiments. Industrie alimentaire : détection de composants cristallins, d'additifs, etc. dans les aliments. La machine de diffraction des rayons X de bureau TDM-10 est un instrument d'analyse puissant avec une valeur d'application importante dans de nombreux domaines.

Les accessoires en fibre sont testés pour leur structure cristalline unique à l'aide de la méthode de diffraction des rayons X (transmission). Testez l'orientation de l'échantillon en fonction de données telles que la texture de la fibre et la largeur à mi-pic.

Les accessoires de fibre sont testés pour leur structure cristalline unique à l'aide de la méthode de diffraction des rayons X (transmission). Testez l'orientation de l'échantillon en fonction de la cristallinité de la fibre et de la largeur à mi-pic des fibres. Ce type d'accessoire est généralement installé sur un diffractomètre grand angle et est principalement utilisé pour étudier la texture des films minces sur le substrat, effectuer la détection de phase cristalline, l'orientation, les tests de contrainte et d'autres tests.

L'accessoire de mesure de film optique parallèle est un outil spécialisé pour l'analyse par diffraction des rayons X, qui filtre les lignes plus dispersées en augmentant la longueur de la plaque de réseau, réduisant ainsi l'influence du signal du substrat sur les résultats et améliorant l'intensité du signal du film mince. Dans le domaine de la science des matériaux, l'accessoire de mesure de film optique parallèle est couramment utilisé pour étudier la structure cristalline, le comportement de transition de phase et l'état de contrainte des matériaux à film mince. Avec le développement de la nanotechnologie, l'accessoire de mesure de film optique parallèle a également été largement utilisé dans les tests d'épaisseur et l'analyse par diffraction à petit angle des films multicouches nanométriques. La conception et la fabrication de l'accessoire de mesure de film optique parallèle visent une haute précision pour répondre aux exigences de la recherche scientifique et de la production industrielle en matière de précision des données. Pendant l'utilisation, l'accessoire de mesure de film optique parallèle doit maintenir un degré élevé de stabilité pour garantir la fiabilité des résultats des tests. Avec l'avancement de la technologie et le développement de l'industrie, la demande d'instruments d'analyse de haute précision et de haute stabilité augmente constamment. Les accessoires de mesure de film optique parallèle, en tant que composant important, connaissent également une croissance soutenue de la demande du marché. Afin de répondre à la demande du marché et d'améliorer les performances des produits, la technologie des accessoires de mesure de film optique parallèle innove et s'améliore constamment. Par exemple, l'amélioration du matériau et de la conception des plaques de réseau, l'optimisation du système optique et d'autres moyens peuvent améliorer l'effet de filtrage et la capacité d'amélioration du signal. En résumé, les accessoires de mesure de film optique parallèle jouent un rôle crucial dans l'analyse par diffraction des rayons X. Avec l'avancement de la technologie et le développement de l'industrie, ses perspectives d'application s'élargiront encore.

Les accessoires de diffractomètre à petit angle sont des appareils spéciaux utilisés dans les expériences de diffraction des rayons X (DRX), principalement pour mesurer les pics de diffraction dans la plage d'angles faibles afin d'étudier la microstructure et les propriétés des matériaux. Les accessoires de diffractomètre à petit angle sont des appareils spécialisés pour les diffractomètres à rayons X qui permettent des mesures de diffraction précises dans une plage d'angles 2θ inférieure (généralement de 0° à 5° ou moins). Cette technologie est d'une grande importance pour l'étude des nanostructures, des matériaux mésoporeux, des films multicouches et d'autres matériaux. En configurant les accessoires de diffractomètre à petit angle correspondants, l'épaisseur des films multicouches nano peut être mesurée avec précision. Dans l'ensemble, les accessoires de diffractomètre à petit angle sont un composant indispensable et important des diffractomètres à rayons X, avec de larges perspectives d'application dans la science des matériaux, la chimie, la physique et d'autres domaines.

Les accessoires de fibre sont testés pour leur structure cristalline unique à l'aide de la méthode de diffraction des rayons X (transmission). Testez l'orientation de l'échantillon en fonction de données telles que la cristallinité de la fibre et la largeur à mi-pic. Les accessoires en fibre ont une large gamme d'applications dans divers domaines, notamment la science des matériaux, la biomédecine, le génie chimique, la nanotechnologie, l'exploration géologique, la surveillance de l'environnement, etc.

Le diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700, doté de tous les avantages du diffractomètre à rayons X TD-3500, est équipé d'un détecteur matriciel hautes performances. Par rapport aux détecteurs à scintillation ou aux détecteurs proportionnels, l'intensité de calcul de diffraction peut être augmentée de plusieurs dizaines de fois et des diagrammes de diffraction complets à haute sensibilité et haute résolution ainsi qu'une intensité de comptage plus élevée peuvent être obtenus dans une période d'échantillonnage plus courte. Le diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700 prend en charge à la fois les méthodes de numérisation de données de diffraction conventionnelles et les méthodes de numérisation de données de transmission. La résolution du mode de transmission est bien supérieure à celle du mode de diffraction, ce qui convient à l'analyse structurelle et à d'autres domaines. Le mode de diffraction a des signaux de diffraction puissants et est plus adapté à l'identification de phase de routine en laboratoire. De plus, en mode de transmission, l'échantillon de poudre peut être présent en quantités infimes, ce qui convient à l'acquisition de données dans les cas où la taille de l'échantillon est relativement petite et ne répond pas aux exigences de la méthode de diffraction pour la préparation de l'échantillon.

Utilisation de la méthode de diffraction (transmission) des rayons X pour tester la structure cristalline unique des fibres. Testez l’orientation de l’échantillon en fonction de données telles que la texture des fibres et la largeur du demi-pic.

L'utilisation de la technique des quatre cercles concentriques garantit que le centre de l'instrument de mesure d'angle reste inchangé quelle que soit la rotation, ce qui permet d'obtenir les données les plus précises et les plus complètes. Les quatre cercles concentriques sont une condition nécessaire pour le balayage conventionnel des monocristallins.