Le diffractomètre à rayons X est principalement utilisé pour l'analyse qualitative et quantitative de phase, l'analyse de la structure cristalline, l'analyse de la structure des matériaux, l'analyse de l'orientation des cristaux, la détermination des contraintes macroscopiques ou microscopiques, la détermination de la taille des grains, la détermination de la cristallinité, etc.

L'utilisation d'un détecteur de pixels hybride permet d'obtenir la meilleure qualité de données tout en garantissant une faible consommation d'énergie et un faible refroidissement. Ce détecteur combine les technologies clés du comptage de photons uniques et des pixels hybrides et est appliqué dans divers domaines tels que le rayonnement synchrotron et les sources lumineuses de laboratoire conventionnelles, éliminant efficacement les interférences du bruit de lecture et du courant d'obscurité. La technologie des pixels hybrides peut détecter directement les rayons X, ce qui facilite la distinction des signaux, et le détecteur peut fournir efficacement des données de haute qualité.

L'instrument de mesure d'angle multifonctionnel de haute précision de Tongda Technology peut non seulement mesurer des échantillons de poudre conventionnels, mais également tester des échantillons liquides, des échantillons colloïdaux, des échantillons visqueux, des poudres en vrac et de gros échantillons solides.

Le goniomètre est le cœur du diffractomètre à rayons X, et le diffractomètre à rayons X de la série TD présente une précision de mesure extrêmement élevée

Le diffractomètre à rayons X est principalement utilisé pour l'analyse qualitative ou quantitative des phases d'échantillons, l'analyse de la structure cristalline, la détermination de la cristallinité, etc. Divers accessoires fonctionnels spéciaux et les logiciels de contrôle et d'application correspondants peuvent être installés en fonction des besoins réels pour former un système de diffraction avec des fonctions spéciales. Le diffractomètre à rayons X est un instrument d'analyse de laboratoire de haute précision.

Le diagramme de diffraction des rayons X constitue la base la plus fiable pour déterminer les diagrammes polycristallins, et le diagramme de diffraction des rayons X est souvent considéré comme « l’empreinte digitale » des diagrammes cristallins.

La structure cristalline des films de pérovskite modifiés par le liquide ionique (IL) BMIMAc sous différentes durées de recuit a été caractérisée par diffraction des rayons X.

La diffraction des rayons X est une technique de contrôle non destructif rapide, précise et efficace des matériaux. Comme moyen de caractériser la structure cristalline et sa règle de changement, il est largement utilisé dans de nombreux domaines tels que la biologie, la médecine, la céramique, etc.

Les propriétés des matériaux sont souvent déterminées par leur composition de phase, et la DRX est largement utilisée comme l'un des principaux moyens d'analyse de phase.