Dans les domaines de la science des matériaux et des essais industriels, l'analyse précise des échantillons repose sur des instruments fiables. La platine porte-échantillon rotative de Dandong Tongda Technology Co., Ltd. est précisément un accessoire essentiel pour améliorer la qualité de l'analyse par diffraction des rayons X (DRX). En analyse par diffraction des rayons X, les caractéristiques de l'échantillon lui-même posent souvent problème. Par exemple, lorsque les grains sont excessivement grossiers, que le matériau présente une texture importante (ou « orientation préférentielle », ce qui signifie que les grains ne sont pas disposés aléatoirement), ou que l'échantillon présente des caractéristiques cristallines spécifiques (modèles de croissance cristalline), il devient difficile d'obtenir des données de diffraction statistiquement représentatives et reflétant fidèlement les propriétés globales du matériau. Lors de la mesure de tels échantillons avec des platines statiques traditionnelles, l'intensité de diffraction peut être faussée en raison des facteurs mentionnés ci-dessus, ce qui affecte la précision de l'identification de phase, de l'analyse de texture et d'autres évaluations. La philosophie de conception de la platine rotative de Tongda Technology vise à relever ces défis en permettant une rotation fluide de l'échantillon dans son propre plan. Fonction principale : Éliminer les erreurs d’orientation et améliorer la fiabilité des données Le principe de fonctionnement de cette platine porte-échantillon rotative est intuitif et efficace. En faisant tourner l'échantillon en continu ou par paliers, le faisceau de rayons X couvre davantage de grains d'orientations différentes sur l'échantillon pendant l'irradiation. Les principaux avantages de cette approche sont : Réduction efficace des erreurs de mesure : grâce à l'effet de moyenne de rotation, il atténue considérablement les écarts de mesure causés par les gros grains ou l'orientation préférée, rendant les données de diffraction plus représentatives des propriétés globales du matériau. Assurer la reproductibilité des résultats : que l'échantillon lui-même ait de la texture ou non, il garantit une bonne reproductibilité de l'intensité de diffraction sur plusieurs mesures ou entre différents laboratoires, améliorant ainsi la fiabilité et la comparabilité des données. Exigences simplifiées en matière de préparation d'échantillons : cela réduit dans une certaine mesure les exigences strictes en matière de préparation parfaite des échantillons, améliorant ainsi l'efficacité de l'analyse. Spécifications techniques : Contrôle de précision et adaptabilité flexible La platine d'échantillon rotative de Dandong Tongda Technology offre les paramètres techniques clés suivants pour répondre aux exigences rigoureuses de la recherche scientifique et des tests industriels : Description des paramètres Méthode de rotation axe β (l'échantillon tourne dans son propre plan) Plage de vitesse de rotation 1 ~ 60 tr/min (tours par minute) Réglable en fonction des exigences expérimentales Précision de pas Largeur de pas minimale : 0,1º Prend en charge la numérisation de positionnement de haute précision Modes de fonctionnement Rotation à vitesse constante (pour la numérisation d'échantillons), pas à pas, continu et autres modes S'adapte à divers flux de travail de test et besoins d'acquisition de données Applications typiques Contrôle qualité et R&D dans des secteurs tels que la protection de l'environnement et l'électronique Compatibilité Principalement utilisé comme accessoire pour les spectromètres à diffraction des rayons X (DRX) Scénarios d'application : Au service des industries de la protection de l'environnement et de l'électronique Cette platine d'échantillonnage rotative n'est pas seulement une « pièce maîtresse » dans le laboratoire ; elle sert directement les industries ayant des exigences élevées en matière d'analyse des matériaux, telles que la protection de l'environnement et l'électronique. Dans des domaines tels que le contrôle qualité, le développement de nouveaux produits et l'analyse des défaillances dans ces domaines, il aide les ingénieurs et les chercheurs à effectuer des analyses de phase plus précises sur des échantillons de diverses formes, notamment des poudres, des matériaux en vrac et des films minces, garantissant ainsi l'authenticité et la fiabilité des données.

L'analyseur de cristaux à rayons X de Dandong Tongda adopte une technologie avancée de diffraction des rayons X, permettant la détection non destructive des informations microstructurales de divers matériaux. Qu'il s'agisse d'orientation de monocristal, d'inspection de défauts, de mesure des paramètres de réseau ou d'analyse des contraintes résiduelles, cet instrument fournit des données d'essai précises et fiables, offrant un support solide à la recherche sur les matériaux et au contrôle qualité. L'instrument est équipé d'un générateur de rayons X hautement stable offrant des performances exceptionnelles. La tension du tube est réglable avec précision entre 10 et 60 kV, et le courant entre 2 et 60 mA, avec une stabilité maximale de ± 0,005 %. Cela garantit des résultats de test hautement reproductibles et précis, offrant aux chercheurs une garantie de données fiables. L'analyseur de cristaux à rayons X de Dandong Tongda intègre un contrôle intelligent et une protection de sécurité complète. Il est équipé d'un système de contrôle automatique PLC importé, permettant des mesures automatiques et chronométrées sans surveillance. Le système de protection multi-niveaux inclut des protections contre l'absence de pression, l'absence de courant, les surtensions, les surintensités, les surtensions, l'absence d'eau et la surchauffe du tube à rayons X, garantissant ainsi la sécurité des opérateurs. L'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF est doté d'un boîtier tubulaire vertical avec quatre fenêtres utilisables simultanément. Il utilise une technologie de contrôle PLC importée, offrant une haute précision et de solides capacités anti-interférences, garantissant un fonctionnement fiable du système. Le PLC contrôle la commutation et le réglage de la haute tension et intègre une fonction d'apprentissage automatique du tube à rayons X, prolongeant ainsi efficacement la durée de vie de ce dernier et de l'instrument. L'enceinte de protection contre les radiations de l'instrument est construite avec du verre au plomb haute densité et haute transparence, avec des fuites de rayonnement externes bien inférieures aux normes de sécurité nationales, permettant aux chercheurs de mener des études expérimentales dans un environnement sécurisé. Entreprise nationale de haute technologie, Dandong Tongda Technology Co., Ltd. dispose d'un système complet de gestion de la qualité et d'une équipe de R&D technique. Ses produits répondent non seulement aux exigences du marché intérieur, mais sont également exportés vers de nombreux pays et régions, démontrant ainsi la force et le potentiel de la fabrication d'instruments scientifiques en Chine. L'analyseur de cristaux à rayons X de Dandong Tongda, grâce à ses performances exceptionnelles et à sa qualité fiable, est devenu un outil précieux dans le domaine de l'analyse des matériaux. Il aide les chercheurs et les ingénieurs à dévoiler les couches du monde des matériaux et à explorer des possibilités encore plus inexplorées.

Dandong Tongda Technology est spécialisée dans le développement d'accessoires de diffraction aux petits angles, des composants dédiés aux diffractomètres à rayons X. Couvrant une plage d'angles de diffraction de 0° à 5°, ces accessoires permettent une mesure précise de l'épaisseur des films multicouches nanométriques et facilitent l'analyse structurale des nanomatériaux. Conçus pour une compatibilité optimale avec les diffractomètres des séries TD-3500, TD-3700 et autres, ils sont largement utilisés pour la caractérisation des matériaux nanométriques dans des domaines tels que la science des matériaux, le génie chimique, la géologie et la minéralogie. Grâce à l'intégration d'une technologie de contrôle PLC importée et à une conception modulaire, ces accessoires améliorent considérablement l'automatisation et la stabilité de fonctionnement des équipements. Les instruments de la série TD répondent désormais aux normes internationales et ont été exportés avec succès vers des pays comme les États-Unis et l'Azerbaïdjan, apportant un soutien technique essentiel à la recherche mondiale sur les nanomatériaux.

Les accessoires pour fibres optiques XRD et FTIR offrent des solutions complètes de caractérisation des matériaux. Les unités XRD analysent la structure cristalline et l'orientation, tandis que les systèmes FTIR identifient la composition grâce à la micro-imagerie et à la technologie ATR. Parmi les accessoires figurent la diffraction aux petits angles, l'analyse de couches minces par faisceau parallèle et les platines thermiques in situ pour l'analyse à l'échelle nanométrique. La manipulation automatisée des échantillons améliore l'efficacité. Les applications couvrent la recherche sur les matériaux, le contrôle qualité industriel et les études scientifiques du dichroïsme des polymères. Ces outils continuent d'évoluer, stimulant l'innovation dans le domaine des fibres et leurs applications industrielles.

L'instrument de diffraction des rayons X de bureau TDM-10 est un instrument utilisé pour analyser la structure de phase des matériaux, qui peut être équipé de détecteurs à scintillation/proportionnels/à réseau linéaire. 1. Principe de fonctionnement de l'instrument de diffraction des rayons X de bureau TDM-10 : selon la loi de Bragg, lorsqu'un faisceau de rayons X monochromatique frappe un cristal, si la condition de diffraction de Bragg est satisfaite (n λ = 2 d sin θ, où λ est la longueur d'onde du rayon X, d l'espacement interplanaire et θ l'angle d'incidence), les atomes ou molécules du cristal se dispersent et interfèrent avec le rayon X, formant un motif de diffraction spécifique. La mesure de l'intensité de diffraction sous différents angles permet d'obtenir des informations structurelles du cristal. 2. Caractéristiques de l'instrumentation de diffraction des rayons X de bureau TDM-10 : La haute résolution d'un instrument de diffraction des rayons X de bureau permet une mesure précise de la structure cristalline des substances, ce qui est crucial pour étudier des mélanges complexes ou rechercher des phases polycristallines et traces à faible teneur. Analyse non destructive de l'instrumentation de diffraction des rayons X de bureau : pendant le processus de test, cela n'endommagera pas l'échantillon et l'échantillon peut rester dans son état d'origine pour des tests ou une utilisation supplémentaires. Le fonctionnement de l'équipement de diffraction des rayons X sur poudre de bureau est simple : les équipements de diffraction des rayons X sur poudre de bureau modernes disposent généralement de fonctions d'automatisation et d'intelligence, ce qui rend l'opération plus pratique et réduit les exigences en matière de connaissances et de compétences professionnelles de l'opérateur. La polyvalence de l'équipement de diffraction des rayons X sur poudre de bureau : l'équipement de diffraction des rayons X sur poudre peut effectuer diverses analyses telles que l'analyse qualitative et quantitative de phase, l'analyse de la constante de réseau, l'analyse des contraintes, etc. 3. Paramètres techniques de l'équipement de diffraction des rayons X sur poudre de bureau TDM-10 : La machine de diffraction des rayons X de bureau a un petit volume ; L'alimentation haute fréquence et haute tension réduit la consommation électrique globale de la machine ; Peut calibrer et tester rapidement des échantillons ; Contrôle de circuit simple, facile à déboguer et à installer ; La précision de mesure de la position du pic de diffraction est de 0,001 ° ; Détecteur : scintillation, proportionnel, réseau linéaire ; Plage de 2 θ : -10°~150° Puissance : 600 W ; Tension maximale : 40 kV ; Courant maximal : 15 mA ; Tubes à rayons X : tubes céramiques ondulés, tubes métallo-céramiques, tubes en verre. 4. Domaines d'application de la machine de diffraction des rayons X de bureau TDM-10 : Science des matériaux : utilisée pour étudier la structure cristalline, la composition des phases, la granulométrie, la cristallinité, etc. des métaux, des céramiques, des semi-conducteurs et d'autres matériaux, aidant les scientifiques des matériaux à comprendre les propriétés et les caractéristiques des matériaux. Dans le domaine de la chimie, la machine de diffraction des rayons X peut être utilisée dans l'industrie de fabrication de catalyseurs, de ciment, de produits pharmaceutiques et d'autres produits pour identifier les phases dans des échantillons inconnus, ainsi que pour analyser quantitativement les phases connues dans des échantillons mixtes. Géologie : Réalisation d'analyses de phase sur des minerais, des roches, etc. pour déterminer leur composition minérale et leur structure. Sciences de l’environnement : utilisées pour analyser la composition minérale et les formes de polluants dans des échantillons environnementaux tels que le sol et les sédiments. Industrie alimentaire : détection de composants cristallins, d'additifs, etc. dans les aliments. La machine de diffraction des rayons X de bureau TDM-10 est un instrument d'analyse puissant avec une valeur d'application importante dans de nombreux domaines.

Les accessoires en fibre sont testés pour leur structure cristalline unique à l'aide de la méthode de diffraction des rayons X (transmission). Testez l'orientation de l'échantillon en fonction de données telles que la texture de la fibre et la largeur à mi-pic.

Les accessoires de fibre sont testés pour leur structure cristalline unique à l'aide de la méthode de diffraction des rayons X (transmission). Testez l'orientation de l'échantillon en fonction de la cristallinité de la fibre et de la largeur à mi-pic des fibres. Ce type d'accessoire est généralement installé sur un diffractomètre grand angle et est principalement utilisé pour étudier la texture des films minces sur le substrat, effectuer la détection de phase cristalline, l'orientation, les tests de contrainte et d'autres tests.

L'accessoire de mesure de film optique parallèle est un outil spécialisé pour l'analyse par diffraction des rayons X, qui filtre les lignes plus dispersées en augmentant la longueur de la plaque de réseau, réduisant ainsi l'influence du signal du substrat sur les résultats et améliorant l'intensité du signal du film mince. Dans le domaine de la science des matériaux, l'accessoire de mesure de film optique parallèle est couramment utilisé pour étudier la structure cristalline, le comportement de transition de phase et l'état de contrainte des matériaux à film mince. Avec le développement de la nanotechnologie, l'accessoire de mesure de film optique parallèle a également été largement utilisé dans les tests d'épaisseur et l'analyse par diffraction à petit angle des films multicouches nanométriques. La conception et la fabrication de l'accessoire de mesure de film optique parallèle visent une haute précision pour répondre aux exigences de la recherche scientifique et de la production industrielle en matière de précision des données. Pendant l'utilisation, l'accessoire de mesure de film optique parallèle doit maintenir un degré élevé de stabilité pour garantir la fiabilité des résultats des tests. Avec l'avancement de la technologie et le développement de l'industrie, la demande d'instruments d'analyse de haute précision et de haute stabilité augmente constamment. Les accessoires de mesure de film optique parallèle, en tant que composant important, connaissent également une croissance soutenue de la demande du marché. Afin de répondre à la demande du marché et d'améliorer les performances des produits, la technologie des accessoires de mesure de film optique parallèle innove et s'améliore constamment. Par exemple, l'amélioration du matériau et de la conception des plaques de réseau, l'optimisation du système optique et d'autres moyens peuvent améliorer l'effet de filtrage et la capacité d'amélioration du signal. En résumé, les accessoires de mesure de film optique parallèle jouent un rôle crucial dans l'analyse par diffraction des rayons X. Avec l'avancement de la technologie et le développement de l'industrie, ses perspectives d'application s'élargiront encore.

Les accessoires de diffractomètre à petit angle sont des appareils spéciaux utilisés dans les expériences de diffraction des rayons X (DRX), principalement pour mesurer les pics de diffraction dans la plage d'angles faibles afin d'étudier la microstructure et les propriétés des matériaux. Les accessoires de diffractomètre à petit angle sont des appareils spécialisés pour les diffractomètres à rayons X qui permettent des mesures de diffraction précises dans une plage d'angles 2θ inférieure (généralement de 0° à 5° ou moins). Cette technologie est d'une grande importance pour l'étude des nanostructures, des matériaux mésoporeux, des films multicouches et d'autres matériaux. En configurant les accessoires de diffractomètre à petit angle correspondants, l'épaisseur des films multicouches nano peut être mesurée avec précision. Dans l'ensemble, les accessoires de diffractomètre à petit angle sont un composant indispensable et important des diffractomètres à rayons X, avec de larges perspectives d'application dans la science des matériaux, la chimie, la physique et d'autres domaines.

Les accessoires de fibre sont testés pour leur structure cristalline unique à l'aide de la méthode de diffraction des rayons X (transmission). Testez l'orientation de l'échantillon en fonction de données telles que la cristallinité de la fibre et la largeur à mi-pic. Les accessoires en fibre ont une large gamme d'applications dans divers domaines, notamment la science des matériaux, la biomédecine, le génie chimique, la nanotechnologie, l'exploration géologique, la surveillance de l'environnement, etc.

Le diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700, doté de tous les avantages du diffractomètre à rayons X TD-3500, est équipé d'un détecteur matriciel hautes performances. Par rapport aux détecteurs à scintillation ou aux détecteurs proportionnels, l'intensité de calcul de diffraction peut être augmentée de plusieurs dizaines de fois et des diagrammes de diffraction complets à haute sensibilité et haute résolution ainsi qu'une intensité de comptage plus élevée peuvent être obtenus dans une période d'échantillonnage plus courte. Le diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700 prend en charge à la fois les méthodes de numérisation de données de diffraction conventionnelles et les méthodes de numérisation de données de transmission. La résolution du mode de transmission est bien supérieure à celle du mode de diffraction, ce qui convient à l'analyse structurelle et à d'autres domaines. Le mode de diffraction a des signaux de diffraction puissants et est plus adapté à l'identification de phase de routine en laboratoire. De plus, en mode de transmission, l'échantillon de poudre peut être présent en quantités infimes, ce qui convient à l'acquisition de données dans les cas où la taille de l'échantillon est relativement petite et ne répond pas aux exigences de la méthode de diffraction pour la préparation de l'échantillon.

Utilisation de la méthode de diffraction (transmission) des rayons X pour tester la structure cristalline unique des fibres. Testez l’orientation de l’échantillon en fonction de données telles que la texture des fibres et la largeur du demi-pic.