La diffraction des rayons X sur poudre permet une analyse non destructive des contraintes résiduelles en détectant les déformations du réseau cristallin par le biais des déplacements des pics de diffraction, grâce à la méthode à ψ fixe et à la loi de Hooke. Elle est essentielle pour les matériaux, l'aérospatiale, l'automobile et la fabrication.

Un diffractomètre à rayons X monocristallin révèle la structure atomique 3D en analysant les diagrammes de diffraction des rayons X (loi de Bragg). Grâce à l'acquisition de données, à la transformation de Fourier et à l'affinement du modèle, il génère des cartes de densité électronique permettant de déterminer les configurations moléculaires.

Un monocristal de qualité pour la diffraction des rayons X nécessite un choix optimal de solvant (solubilité/volatilité modérée), une méthode de croissance appropriée (évaporation/diffusion), une pureté élevée de l'échantillon et un environnement sans vibrations pour garantir une morphologie bien définie et des défauts minimaux.

Cet article décrit une stratégie complète en trois volets pour éliminer les interférences de diffraction d'ordre supérieur lors de l'analyse de monocristaux par diffraction des rayons X. Les méthodes comprennent la filtration matérielle à la source à l'aide de monochromateurs et de fentes, l'optimisation des paramètres pendant l'acquisition des données afin de supprimer la détection, et des algorithmes de correction logicielle pour les effets résiduels lors du traitement des données. Cette approche combinée garantit une détermination de la structure cristalline de haute précision en contrôlant les erreurs d'intensité.

Les analyseurs XRD utilisent la loi de Bragg pour mesurer les angles de diffraction, permettant un décodage non destructif des phases cristallines, des constantes de réseau, de la taille des grains et des contraintes à partir des variations d'espacement interplanaire.

La maintenance des diffractomètres de rayons X (DRX) repose sur la prévention et l'inspection régulière. Les protocoles de sécurité exigent une protection prioritaire et des procédures standardisées. Les pratiques clés comprennent le contrôle de l'environnement, l'entretien des composants, des contrôles de sécurité rigoureux et un arrêt correct. Leur respect garantit la longévité de l'instrument, la sécurité de l'opérateur et la fiabilité des données.

Un analyseur de cristaux à rayons X de pointe permettant une exploration précise des microstructures des matériaux. Son contrôle PLC avancé, sa conception modulaire et sa puissance de sortie robuste de 5 kW garantissent une fiabilité élevée pour les applications de R&D mondiales et de contrôle qualité industriel.

Dandong Tongda Technology Co., Ltd. est une entreprise chinoise de haute technologie spécialisée dans l'analyse par rayons X et les équipements de contrôle non destructif. Forte d'une expertise reconnue en diffraction des rayons X (DRX), elle fournit des outils de précision à la recherche et à l'industrie à l'échelle mondiale.

L'efficacité d'un diffractomètre à poudre peut être doublée en optimisant la préparation des échantillons (broyage, chargement), les paramètres de l'instrument (plage et vitesse de balayage), et en adoptant un traitement par lots et une maintenance régulière. Ces mesures garantissent des données de haute qualité tout en réduisant considérablement le temps d'expérimentation et les reprises.

Dans les domaines de la science des matériaux et des essais industriels, l'analyse précise des échantillons repose sur des instruments fiables. La platine porte-échantillon rotative de Dandong Tongda Technology Co., Ltd. est précisément un accessoire essentiel pour améliorer la qualité de l'analyse par diffraction des rayons X (DRX). En analyse par diffraction des rayons X, les caractéristiques de l'échantillon lui-même posent souvent problème. Par exemple, lorsque les grains sont excessivement grossiers, que le matériau présente une texture importante (ou « orientation préférentielle », ce qui signifie que les grains ne sont pas disposés aléatoirement), ou que l'échantillon présente des caractéristiques cristallines spécifiques (modèles de croissance cristalline), il devient difficile d'obtenir des données de diffraction statistiquement représentatives et reflétant fidèlement les propriétés globales du matériau. Lors de la mesure de tels échantillons avec des platines statiques traditionnelles, l'intensité de diffraction peut être faussée en raison des facteurs mentionnés ci-dessus, ce qui affecte la précision de l'identification de phase, de l'analyse de texture et d'autres évaluations. La philosophie de conception de la platine rotative de Tongda Technology vise à relever ces défis en permettant une rotation fluide de l'échantillon dans son propre plan. Fonction principale : Éliminer les erreurs d’orientation et améliorer la fiabilité des données Le principe de fonctionnement de cette platine porte-échantillon rotative est intuitif et efficace. En faisant tourner l'échantillon en continu ou par paliers, le faisceau de rayons X couvre davantage de grains d'orientations différentes sur l'échantillon pendant l'irradiation. Les principaux avantages de cette approche sont : Réduction efficace des erreurs de mesure : grâce à l'effet de moyenne de rotation, il atténue considérablement les écarts de mesure causés par les gros grains ou l'orientation préférée, rendant les données de diffraction plus représentatives des propriétés globales du matériau. Assurer la reproductibilité des résultats : que l'échantillon lui-même ait de la texture ou non, il garantit une bonne reproductibilité de l'intensité de diffraction sur plusieurs mesures ou entre différents laboratoires, améliorant ainsi la fiabilité et la comparabilité des données. Exigences simplifiées en matière de préparation d'échantillons : cela réduit dans une certaine mesure les exigences strictes en matière de préparation parfaite des échantillons, améliorant ainsi l'efficacité de l'analyse. Spécifications techniques : Contrôle de précision et adaptabilité flexible La platine d'échantillon rotative de Dandong Tongda Technology offre les paramètres techniques clés suivants pour répondre aux exigences rigoureuses de la recherche scientifique et des tests industriels : Description des paramètres Méthode de rotation axe β (l'échantillon tourne dans son propre plan) Plage de vitesse de rotation 1 ~ 60 tr/min (tours par minute) Réglable en fonction des exigences expérimentales Précision de pas Largeur de pas minimale : 0,1º Prend en charge la numérisation de positionnement de haute précision Modes de fonctionnement Rotation à vitesse constante (pour la numérisation d'échantillons), pas à pas, continu et autres modes S'adapte à divers flux de travail de test et besoins d'acquisition de données Applications typiques Contrôle qualité et R&D dans des secteurs tels que la protection de l'environnement et l'électronique Compatibilité Principalement utilisé comme accessoire pour les spectromètres à diffraction des rayons X (DRX) Scénarios d'application : Au service des industries de la protection de l'environnement et de l'électronique Cette platine d'échantillonnage rotative n'est pas seulement une « pièce maîtresse » dans le laboratoire ; elle sert directement les industries ayant des exigences élevées en matière d'analyse des matériaux, telles que la protection de l'environnement et l'électronique. Dans des domaines tels que le contrôle qualité, le développement de nouveaux produits et l'analyse des défaillances dans ces domaines, il aide les ingénieurs et les chercheurs à effectuer des analyses de phase plus précises sur des échantillons de diverses formes, notamment des poudres, des matériaux en vrac et des films minces, garantissant ainsi l'authenticité et la fiabilité des données.

L'analyseur de cristaux à rayons X de Dandong Tongda adopte une technologie avancée de diffraction des rayons X, permettant la détection non destructive des informations microstructurales de divers matériaux. Qu'il s'agisse d'orientation de monocristal, d'inspection de défauts, de mesure des paramètres de réseau ou d'analyse des contraintes résiduelles, cet instrument fournit des données d'essai précises et fiables, offrant un support solide à la recherche sur les matériaux et au contrôle qualité. L'instrument est équipé d'un générateur de rayons X hautement stable offrant des performances exceptionnelles. La tension du tube est réglable avec précision entre 10 et 60 kV, et le courant entre 2 et 60 mA, avec une stabilité maximale de ± 0,005 %. Cela garantit des résultats de test hautement reproductibles et précis, offrant aux chercheurs une garantie de données fiables. L'analyseur de cristaux à rayons X de Dandong Tongda intègre un contrôle intelligent et une protection de sécurité complète. Il est équipé d'un système de contrôle automatique PLC importé, permettant des mesures automatiques et chronométrées sans surveillance. Le système de protection multi-niveaux inclut des protections contre l'absence de pression, l'absence de courant, les surtensions, les surintensités, les surtensions, l'absence d'eau et la surchauffe du tube à rayons X, garantissant ainsi la sécurité des opérateurs. L'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF est doté d'un boîtier tubulaire vertical avec quatre fenêtres utilisables simultanément. Il utilise une technologie de contrôle PLC importée, offrant une haute précision et de solides capacités anti-interférences, garantissant un fonctionnement fiable du système. Le PLC contrôle la commutation et le réglage de la haute tension et intègre une fonction d'apprentissage automatique du tube à rayons X, prolongeant ainsi efficacement la durée de vie de ce dernier et de l'instrument. L'enceinte de protection contre les radiations de l'instrument est construite avec du verre au plomb haute densité et haute transparence, avec des fuites de rayonnement externes bien inférieures aux normes de sécurité nationales, permettant aux chercheurs de mener des études expérimentales dans un environnement sécurisé. Entreprise nationale de haute technologie, Dandong Tongda Technology Co., Ltd. dispose d'un système complet de gestion de la qualité et d'une équipe de R&D technique. Ses produits répondent non seulement aux exigences du marché intérieur, mais sont également exportés vers de nombreux pays et régions, démontrant ainsi la force et le potentiel de la fabrication d'instruments scientifiques en Chine. L'analyseur de cristaux à rayons X de Dandong Tongda, grâce à ses performances exceptionnelles et à sa qualité fiable, est devenu un outil précieux dans le domaine de l'analyse des matériaux. Il aide les chercheurs et les ingénieurs à dévoiler les couches du monde des matériaux et à explorer des possibilités encore plus inexplorées.

Dandong Tongda Technology est spécialisée dans le développement d'accessoires de diffraction aux petits angles, des composants dédiés aux diffractomètres à rayons X. Couvrant une plage d'angles de diffraction de 0° à 5°, ces accessoires permettent une mesure précise de l'épaisseur des films multicouches nanométriques et facilitent l'analyse structurale des nanomatériaux. Conçus pour une compatibilité optimale avec les diffractomètres des séries TD-3500, TD-3700 et autres, ils sont largement utilisés pour la caractérisation des matériaux nanométriques dans des domaines tels que la science des matériaux, le génie chimique, la géologie et la minéralogie. Grâce à l'intégration d'une technologie de contrôle PLC importée et à une conception modulaire, ces accessoires améliorent considérablement l'automatisation et la stabilité de fonctionnement des équipements. Les instruments de la série TD répondent désormais aux normes internationales et ont été exportés avec succès vers des pays comme les États-Unis et l'Azerbaïdjan, apportant un soutien technique essentiel à la recherche mondiale sur les nanomatériaux.