Un monocristal de qualité pour la diffraction des rayons X nécessite un choix optimal de solvant (solubilité/volatilité modérée), une méthode de croissance appropriée (évaporation/diffusion), une pureté élevée de l'échantillon et un environnement sans vibrations pour garantir une morphologie bien définie et des défauts minimaux.

Cet article décrit une stratégie complète en trois volets pour éliminer les interférences de diffraction d'ordre supérieur lors de l'analyse de monocristaux par diffraction des rayons X. Les méthodes comprennent la filtration matérielle à la source à l'aide de monochromateurs et de fentes, l'optimisation des paramètres pendant l'acquisition des données afin de supprimer la détection, et des algorithmes de correction logicielle pour les effets résiduels lors du traitement des données. Cette approche combinée garantit une détermination de la structure cristalline de haute précision en contrôlant les erreurs d'intensité.

Les analyseurs XRD utilisent la loi de Bragg pour mesurer les angles de diffraction, permettant un décodage non destructif des phases cristallines, des constantes de réseau, de la taille des grains et des contraintes à partir des variations d'espacement interplanaire.

La maintenance des diffractomètres de rayons X (DRX) repose sur la prévention et l'inspection régulière. Les protocoles de sécurité exigent une protection prioritaire et des procédures standardisées. Les pratiques clés comprennent le contrôle de l'environnement, l'entretien des composants, des contrôles de sécurité rigoureux et un arrêt correct. Leur respect garantit la longévité de l'instrument, la sécurité de l'opérateur et la fiabilité des données.

Un analyseur de cristaux à rayons X de pointe permettant une exploration précise des microstructures des matériaux. Son contrôle PLC avancé, sa conception modulaire et sa puissance de sortie robuste de 5 kW garantissent une fiabilité élevée pour les applications de R&D mondiales et de contrôle qualité industriel.

Dandong Tongda Technology Co., Ltd. est une entreprise chinoise de haute technologie spécialisée dans l'analyse par rayons X et les équipements de contrôle non destructif. Forte d'une expertise reconnue en diffraction des rayons X (DRX), elle fournit des outils de précision à la recherche et à l'industrie à l'échelle mondiale.

L'efficacité d'un diffractomètre à poudre peut être doublée en optimisant la préparation des échantillons (broyage, chargement), les paramètres de l'instrument (plage et vitesse de balayage), et en adoptant un traitement par lots et une maintenance régulière. Ces mesures garantissent des données de haute qualité tout en réduisant considérablement le temps d'expérimentation et les reprises.

Dans les domaines de la science des matériaux et des essais industriels, l'analyse précise des échantillons repose sur des instruments fiables. La platine porte-échantillon rotative de Dandong Tongda Technology Co., Ltd. est précisément un accessoire essentiel pour améliorer la qualité de l'analyse par diffraction des rayons X (DRX). En analyse par diffraction des rayons X, les caractéristiques de l'échantillon lui-même posent souvent problème. Par exemple, lorsque les grains sont excessivement grossiers, que le matériau présente une texture importante (ou « orientation préférentielle », ce qui signifie que les grains ne sont pas disposés aléatoirement), ou que l'échantillon présente des caractéristiques cristallines spécifiques (modèles de croissance cristalline), il devient difficile d'obtenir des données de diffraction statistiquement représentatives et reflétant fidèlement les propriétés globales du matériau. Lors de la mesure de tels échantillons avec des platines statiques traditionnelles, l'intensité de diffraction peut être faussée en raison des facteurs mentionnés ci-dessus, ce qui affecte la précision de l'identification de phase, de l'analyse de texture et d'autres évaluations. La philosophie de conception de la platine rotative de Tongda Technology vise à relever ces défis en permettant une rotation fluide de l'échantillon dans son propre plan. Fonction principale : Éliminer les erreurs d’orientation et améliorer la fiabilité des données Le principe de fonctionnement de cette platine porte-échantillon rotative est intuitif et efficace. En faisant tourner l'échantillon en continu ou par paliers, le faisceau de rayons X couvre davantage de grains d'orientations différentes sur l'échantillon pendant l'irradiation. Les principaux avantages de cette approche sont : Réduction efficace des erreurs de mesure : grâce à l'effet de moyenne de rotation, il atténue considérablement les écarts de mesure causés par les gros grains ou l'orientation préférée, rendant les données de diffraction plus représentatives des propriétés globales du matériau. Assurer la reproductibilité des résultats : que l'échantillon lui-même ait de la texture ou non, il garantit une bonne reproductibilité de l'intensité de diffraction sur plusieurs mesures ou entre différents laboratoires, améliorant ainsi la fiabilité et la comparabilité des données. Exigences simplifiées en matière de préparation d'échantillons : cela réduit dans une certaine mesure les exigences strictes en matière de préparation parfaite des échantillons, améliorant ainsi l'efficacité de l'analyse. Spécifications techniques : Contrôle de précision et adaptabilité flexible La platine d'échantillon rotative de Dandong Tongda Technology offre les paramètres techniques clés suivants pour répondre aux exigences rigoureuses de la recherche scientifique et des tests industriels : Description des paramètres Méthode de rotation axe β (l'échantillon tourne dans son propre plan) Plage de vitesse de rotation 1 ~ 60 tr/min (tours par minute) Réglable en fonction des exigences expérimentales Précision de pas Largeur de pas minimale : 0,1º Prend en charge la numérisation de positionnement de haute précision Modes de fonctionnement Rotation à vitesse constante (pour la numérisation d'échantillons), pas à pas, continu et autres modes S'adapte à divers flux de travail de test et besoins d'acquisition de données Applications typiques Contrôle qualité et R&D dans des secteurs tels que la protection de l'environnement et l'électronique Compatibilité Principalement utilisé comme accessoire pour les spectromètres à diffraction des rayons X (DRX) Scénarios d'application : Au service des industries de la protection de l'environnement et de l'électronique Cette platine d'échantillonnage rotative n'est pas seulement une « pièce maîtresse » dans le laboratoire ; elle sert directement les industries ayant des exigences élevées en matière d'analyse des matériaux, telles que la protection de l'environnement et l'électronique. Dans des domaines tels que le contrôle qualité, le développement de nouveaux produits et l'analyse des défaillances dans ces domaines, il aide les ingénieurs et les chercheurs à effectuer des analyses de phase plus précises sur des échantillons de diverses formes, notamment des poudres, des matériaux en vrac et des films minces, garantissant ainsi l'authenticité et la fiabilité des données.

Les accessoires pour fibres optiques XRD et FTIR offrent des solutions complètes de caractérisation des matériaux. Les unités XRD analysent la structure cristalline et l'orientation, tandis que les systèmes FTIR identifient la composition grâce à la micro-imagerie et à la technologie ATR. Parmi les accessoires figurent la diffraction aux petits angles, l'analyse de couches minces par faisceau parallèle et les platines thermiques in situ pour l'analyse à l'échelle nanométrique. La manipulation automatisée des échantillons améliore l'efficacité. Les applications couvrent la recherche sur les matériaux, le contrôle qualité industriel et les études scientifiques du dichroïsme des polymères. Ces outils continuent d'évoluer, stimulant l'innovation dans le domaine des fibres et leurs applications industrielles.

L'instrument de diffraction des rayons X de bureau TDM-10 est un instrument utilisé pour analyser la structure de phase des matériaux, qui peut être équipé de détecteurs à scintillation/proportionnels/à réseau linéaire. 1. Principe de fonctionnement de l'instrument de diffraction des rayons X de bureau TDM-10 : selon la loi de Bragg, lorsqu'un faisceau de rayons X monochromatique frappe un cristal, si la condition de diffraction de Bragg est satisfaite (n λ = 2 d sin θ, où λ est la longueur d'onde du rayon X, d l'espacement interplanaire et θ l'angle d'incidence), les atomes ou molécules du cristal se dispersent et interfèrent avec le rayon X, formant un motif de diffraction spécifique. La mesure de l'intensité de diffraction sous différents angles permet d'obtenir des informations structurelles du cristal. 2. Caractéristiques de l'instrumentation de diffraction des rayons X de bureau TDM-10 : La haute résolution d'un instrument de diffraction des rayons X de bureau permet une mesure précise de la structure cristalline des substances, ce qui est crucial pour étudier des mélanges complexes ou rechercher des phases polycristallines et traces à faible teneur. Analyse non destructive de l'instrumentation de diffraction des rayons X de bureau : pendant le processus de test, cela n'endommagera pas l'échantillon et l'échantillon peut rester dans son état d'origine pour des tests ou une utilisation supplémentaires. Le fonctionnement de l'équipement de diffraction des rayons X sur poudre de bureau est simple : les équipements de diffraction des rayons X sur poudre de bureau modernes disposent généralement de fonctions d'automatisation et d'intelligence, ce qui rend l'opération plus pratique et réduit les exigences en matière de connaissances et de compétences professionnelles de l'opérateur. La polyvalence de l'équipement de diffraction des rayons X sur poudre de bureau : l'équipement de diffraction des rayons X sur poudre peut effectuer diverses analyses telles que l'analyse qualitative et quantitative de phase, l'analyse de la constante de réseau, l'analyse des contraintes, etc. 3. Paramètres techniques de l'équipement de diffraction des rayons X sur poudre de bureau TDM-10 : La machine de diffraction des rayons X de bureau a un petit volume ; L'alimentation haute fréquence et haute tension réduit la consommation électrique globale de la machine ; Peut calibrer et tester rapidement des échantillons ; Contrôle de circuit simple, facile à déboguer et à installer ; La précision de mesure de la position du pic de diffraction est de 0,001 ° ; Détecteur : scintillation, proportionnel, réseau linéaire ; Plage de 2 θ : -10°~150° Puissance : 600 W ; Tension maximale : 40 kV ; Courant maximal : 15 mA ; Tubes à rayons X : tubes céramiques ondulés, tubes métallo-céramiques, tubes en verre. 4. Domaines d'application de la machine de diffraction des rayons X de bureau TDM-10 : Science des matériaux : utilisée pour étudier la structure cristalline, la composition des phases, la granulométrie, la cristallinité, etc. des métaux, des céramiques, des semi-conducteurs et d'autres matériaux, aidant les scientifiques des matériaux à comprendre les propriétés et les caractéristiques des matériaux. Dans le domaine de la chimie, la machine de diffraction des rayons X peut être utilisée dans l'industrie de fabrication de catalyseurs, de ciment, de produits pharmaceutiques et d'autres produits pour identifier les phases dans des échantillons inconnus, ainsi que pour analyser quantitativement les phases connues dans des échantillons mixtes. Géologie : Réalisation d'analyses de phase sur des minerais, des roches, etc. pour déterminer leur composition minérale et leur structure. Sciences de l’environnement : utilisées pour analyser la composition minérale et les formes de polluants dans des échantillons environnementaux tels que le sol et les sédiments. Industrie alimentaire : détection de composants cristallins, d'additifs, etc. dans les aliments. La machine de diffraction des rayons X de bureau TDM-10 est un instrument d'analyse puissant avec une valeur d'application importante dans de nombreux domaines.

Les accessoires en fibre sont testés pour leur structure cristalline unique à l'aide de la méthode de diffraction des rayons X (transmission). Testez l'orientation de l'échantillon en fonction de données telles que la texture de la fibre et la largeur à mi-pic.

La diffraction des rayons X (DRX) permet une quantification précise de la phase TiO2, essentielle pour la qualité du produit. Les diffractomètres de la série TD de Dandong Tongda, dotés de programmes spécialisés, garantissent une analyse précise du rutile/anatase (<0.2% error).