Aujourd'hui, le diffractomètre est devenu un outil important dans la recherche scientifique, l'éducation, la médecine et d'autres domaines. Cependant, la précision et la complexité du diffractomètre nécessitent une attention particulière lors du transport et de l'emballage.

Le diffractomètre à rayons x à cristal simple est principalement utilisé pour déterminer la structure spatiale tridimensionnelle et la densité du nuage d'électrons de substances cristallines telles que inorganiques, organiques, et complexes métalliques, et pour analyser la structure de matériaux spéciaux tels que le jumelage, non commensurés cristaux, quasiccristaux% 2c etc. Déterminer l'espace tridimensionnel précis (y compris la liaison longueur, liaison angle, configuration, conformation, et même liaison électron densité) du nouveau composé (cristallines) molécules et la disposition réelle des molécules dans le réseau; Il peut fournir des informations sur le cristal cellule paramètres, espace groupe% 2c cristal moléculaire structure, intermoléculaire hydrogène liaison et faibles interactions, ainsi que informations structurelles telles que configuration moléculaire et conformation. C'est largement utilisé dans la recherche analytique en chimie cristallographie, moléculaire biologie, pharmacologie, minéralogie, et matériaux science.

Dandong Tongda Technology Co., Ltd. s'engage dans la recherche et le développement, la production et la vente de diffractomètres à rayons X. La société possède actuellement des diffractomètres à rayons X, des diffractomètres à rayons X de bureau, des diffractomètres à rayons X monocristallins, des analyseurs de cristaux à rayons X et d'autres produits, qui sont vendus au niveau national et international et ont reçu des éloges unanimes de l'industrie.

Dandong Tongda Technology Co., Ltd. organise chaque été un événement de consolidation d'équipe pour se concentrer sur la survie et le développement des employés, mettre en œuvre des soins humanistes qui prennent soin, chérissent et respectent les gens, et stimuler la cohésion, l'enthousiasme et la vitalité des employés. Tongda Technology Company est un fabricant professionnel d'instruments d'analyse aux rayons X. La société possède actuellement des diffractomètres à rayons X de la série TD, des diffractomètres à monocristal à rayons X, des diffractomètres à rayons X de bureau, des analyseurs à cristaux à rayons X et d'autres produits. Le diffractomètre à rayons X est principalement utilisé pour l'analyse qualitative et quantitative de phase, l'analyse de la structure cristalline, l'analyse de la structure des matériaux, l'analyse de l'orientation cristalline, la détermination des contraintes macroscopiques ou microscopiques, la détermination de la granulométrie, la détermination de la cristallinité, etc. d'échantillons de poudre, de blocs ou de films.

Le diffractomètre à rayons X est principalement utilisé pour l'analyse qualitative ou quantitative des phases d'échantillons, l'analyse de la structure cristalline, la détermination de la cristallinité, etc. Divers accessoires fonctionnels spéciaux et les logiciels de contrôle et d'application correspondants peuvent être installés en fonction des besoins réels pour former un système de diffraction avec des fonctions spéciales. Le diffractomètre à rayons X est un instrument d'analyse de laboratoire de haute précision.

Le diagramme de diffraction des rayons X constitue la base la plus fiable pour déterminer les diagrammes polycristallins, et le diagramme de diffraction des rayons X est souvent considéré comme « l’empreinte digitale » des diagrammes cristallins.

Matière première indispensable dans le domaine de la construction, le ciment joue un rôle essentiel tout au long du processus de construction. Il existe de nombreux types de ciment Portland. En raison de ses excellentes performances, le ciment Portland est largement utilisé.

Le diffractomètre à rayons X est une sorte d'instrument permettant d'analyser la structure cristalline, la composition des phases et l'orientation cristalline d'une substance par l'interaction des rayons X avec la matière.

Le degré de graphitisation fait référence à la mesure dans laquelle la structure cristalline du matériau graphite ressemble au graphite parfait après réarrangement de la structure du carbone amorphe.

La diffraction des rayons X est une technique de base pour l’étude de la structure solide, qui peut fournir des informations spectrales uniques sur la composition chimique et la disposition structurelle des échantillons.