L'orienteur à cristal à rayons X fonctionne sur le principe de la diffraction des rayons X. La haute tension générée par le transformateur haute tension agit sur le tube à rayons X, produisant des rayons X. Lorsque les rayons X sont irradiés sur l'échantillon, la diffraction se produit lorsque la condition de diffraction de Bragg (n λ=2dsin θ) est satisfaite. Parmi eux, λ est la longueur d'onde des rayons X, d est l'espacement entre les plans atomiques à l'intérieur du cristal et θ est l'angle entre les rayons X incidents et le plan du cristal. La ligne de diffraction est reçue par le tube de comptage et affichée sur le microampèremètre de l'amplificateur. Lors de l'utilisation d'un monochromateur, la ligne de diffraction est monochromatisée puis reçue par le compteur et affichée sur le microampèremètre de l'amplificateur, améliorant ainsi la précision de la mesure. L'orienteur de cristal à rayons X peut déterminer avec précision et rapidité l'angle de coupe des monocristaux naturels et artificiels (cristaux piézoélectriques, cristaux optiques, cristaux laser, cristaux semi-conducteurs) et est équipé d'une machine de découpe pour la découpe directionnelle des cristaux mentionnés ci-dessus. L'orienteur de cristal à rayons X est un instrument indispensable pour l'usinage de précision et la fabrication de dispositifs à cristal. L'orienteur de cristal à rayons X est largement utilisé dans les industries de recherche, de traitement et de fabrication de matériaux cristallins. L'orienteur à cristal à rayons X est facile à utiliser, ne nécessite pas de connaissances professionnelles ni de techniques spécialisées, affiche l'angle numériquement, est facile à observer et réduit les erreurs de lecture. L'affichage de l'instrument d'orientation à cristal à rayons X peut être mis à zéro à n'importe quelle position, ce qui facilite l'affichage de la valeur d'écart de l'angle de la puce. L'instrument de mesure d'angle double peut fonctionner simultanément, améliorant ainsi l'efficacité. L'orienteur à cristal à rayons X dispose d'un intégrateur spécial avec amplification de crête, ce qui améliore la précision de détection. L'intégration du tube à rayons X et du câble haute tension augmente la fiabilité de la haute tension. Le détecteur haute tension adopte un module haute tension CC et une carte d'échantillon à aspiration sous vide, ce qui améliore la précision et la vitesse de mesure de l'angle. Dans l’ensemble, l’orienteur de cristaux à rayons X est un instrument de précision basé sur le principe de la diffraction des rayons X, qui fournit un support technique important pour la recherche sur les matériaux cristallins et les applications associées en mesurant avec précision l’angle de coupe des cristaux.

L'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF est un instrument d'analyse à grande échelle et un instrument à rayons X utilisé pour étudier la microstructure interne des matériaux. Il est principalement utilisé pour l'orientation des monocristallins, l'inspection des défauts, la détermination des paramètres du réseau, la détermination des contraintes résiduelles, l'étude de la structure des plaques et des tiges, l'étude de la structure des substances inconnues et les dislocations monocristallines.

L'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF est un instrument d'analyse à grande échelle utilisé pour étudier la microstructure interne des substances. Il est principalement utilisé pour l'orientation des monocristaux, l'inspection des défauts, la détermination des paramètres du réseau, la détermination des contraintes résiduelles, l'étude de la structure des plaques et des tiges, l'étude de la structure des substances inconnues et les dislocations des monocristaux.

L'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF est un instrument d'analyse à rayons X à grande échelle utilisé pour étudier la microstructure interne des substances. Il est principalement utilisé pour l'orientation des monocristallins, l'inspection des défauts, la détermination des paramètres du réseau, la détermination des contraintes résiduelles, l'étude de la structure des plaques et des tiges, l'étude de la structure des substances inconnues et les dislocations monocristallines. L'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF adopte un manchon de tube vertical et quatre fenêtres peuvent être utilisées simultanément. L'analyseur de cristal à rayons X de la série TDF adopte une technologie de contrôle PLC importée, avec une précision de contrôle élevée et de bonnes performances anti-interférences, ce qui permet un fonctionnement fiable du système. Le PLC contrôle l'interrupteur haute tension, le levage et a pour fonction d'entraîner automatiquement le tube à rayons X, prolongeant ainsi efficacement la durée de vie du tube à rayons X et de l'instrument à rayons X.

L'analyseur de cristal à rayons X de la série TDF est un instrument à rayons X à grande échelle utilisé pour étudier la microstructure interne des substances. Il utilise le principe d'interaction entre les rayons X et le cristal pour déterminer la disposition atomique à l'intérieur du cristal en analysant le diagramme de diffraction des rayons X. Principalement utilisé pour l'orientation des monocristallins, l'inspection des défauts, la détermination des paramètres du réseau, la détermination des contraintes résiduelles, l'étude de la structure des plaques et des tiges, l'investigation de la structure des substances inconnues et des dislocations monocristallines. L'analyseur de cristaux à rayons X, en tant qu'instrument à rayons X, fournit des informations précieuses pour la recherche en science des matériaux et d'autres domaines connexes. Avec l'avancement continu de la technologie et l'expansion des applications, l'analyseur de cristaux à rayons X continuera de jouer un rôle important dans la recherche scientifique et la production industrielle.

L'instrument d'orientation automatique des rayons X est un appareil qui utilise le principe de diffraction des rayons X pour déterminer la structure cristalline, l'orientation et les paramètres du réseau. Il a une large gamme d'applications dans la science des matériaux, la géologie, la physique et la chimie, en particulier dans l'étude de la microstructure et des propriétés des matériaux monocristallins, polycristallins et des matériaux à couches minces. Ce qui suit fournira une introduction détaillée au principe de fonctionnement, à l'application et aux précautions opérationnelles de l'orienteur de cristal à rayons X. Avec l'avancement de la technologie, les instruments d'orientation automatique des rayons X continuent de s'améliorer, avec une résolution plus élevée et une utilisation plus facile. Dans le même temps, la combinaison avec d'autres techniques d'analyse telles que la microscopie électronique et l'analyse spectroscopique rend l'analyse de la structure cristalline plus complète et plus approfondie. De plus, des appareils d'analyse d'orientation des rayons X portables et de surveillance en ligne se sont progressivement développés, offrant des possibilités d'analyse sur site et de surveillance en temps réel. En résumé, l'analyseur d'orientation des rayons X est un outil d'analyse puissant, essentiel pour comprendre et contrôler la microstructure des matériaux. Avec le développement continu de la technologie, son application dans divers domaines deviendra plus étendue et plus approfondie.

La diffraction des rayons X est une technique de contrôle non destructif rapide, précise et efficace des matériaux. Comme moyen de caractériser la structure cristalline et sa règle de changement, il est largement utilisé dans de nombreux domaines tels que la biologie, la médecine, la céramique, etc.

Le diffractomètre à rayons X est un type d'instrument permettant d'analyser la structure cristalline, la composition de phase et l'orientation cristalline d'une substance par l'interaction des rayons X avec la matière.

Un diffractomètre de contrainte à rayons X est un instrument largement utilisé dans le domaine de la science et de l'ingénierie des matériaux pour mesurer la répartition des contraintes internes des matériaux.

Une équipe de recherche de l'Institut Hefei des sciences physiques de l'Académie chinoise des sciences a récemment mené une étude proposant une nouvelle méthode pour améliorer la détection des rayons X en incorporant des cristaux péritectiques CsPb2Br5 déphasés dans des matériaux de bloc CsPbBr3.

La diffraction des rayons X est une technique de base pour l’étude de la structure solide, qui peut fournir des informations spectrales uniques sur la composition chimique et la disposition structurelle des échantillons.