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L'instrument d'orientation automatique des rayons X est un appareil qui utilise le principe de diffraction des rayons X pour déterminer la structure cristalline, l'orientation et les paramètres du réseau. Il a une large gamme d'applications dans la science des matériaux, la géologie, la physique et la chimie, en particulier dans l'étude de la microstructure et des propriétés des matériaux monocristallins, polycristallins et des matériaux à couches minces. Ce qui suit fournira une introduction détaillée au principe de fonctionnement, à l'application et aux précautions opérationnelles de l'orienteur de cristal à rayons X. Avec l'avancement de la technologie, les instruments d'orientation automatique des rayons X continuent de s'améliorer, avec une résolution plus élevée et une utilisation plus facile. Dans le même temps, la combinaison avec d'autres techniques d'analyse telles que la microscopie électronique et l'analyse spectroscopique rend l'analyse de la structure cristalline plus complète et plus approfondie. De plus, des appareils d'analyse d'orientation des rayons X portables et de surveillance en ligne se sont progressivement développés, offrant des possibilités d'analyse sur site et de surveillance en temps réel. En résumé, l'analyseur d'orientation des rayons X est un outil d'analyse puissant, essentiel pour comprendre et contrôler la microstructure des matériaux. Avec le développement continu de la technologie, son application dans divers domaines deviendra plus étendue et plus approfondie.
La diffraction des rayons X est une technique de contrôle non destructif rapide, précise et efficace des matériaux. Comme moyen de caractériser la structure cristalline et sa règle de changement, il est largement utilisé dans de nombreux domaines tels que la biologie, la médecine, la céramique, etc.
Le diffractomètre à rayons X est un type d'instrument permettant d'analyser la structure cristalline, la composition de phase et l'orientation cristalline d'une substance par l'interaction des rayons X avec la matière.
Un diffractomètre de contrainte à rayons X est un instrument largement utilisé dans le domaine de la science et de l'ingénierie des matériaux pour mesurer la répartition des contraintes internes des matériaux.
Une équipe de recherche de l'Institut Hefei des sciences physiques de l'Académie chinoise des sciences a récemment mené une étude proposant une nouvelle méthode pour améliorer la détection des rayons X en incorporant des cristaux péritectiques CsPb2Br5 déphasés dans des matériaux de bloc CsPbBr3.
La diffraction des rayons X est une technique de base pour l’étude de la structure solide, qui peut fournir des informations spectrales uniques sur la composition chimique et la disposition structurelle des échantillons.
Récemment, le ministère de la Science et de la Technologie a annoncé la liste du deuxième lot de projets clés dans le cadre du Plan national clé de recherche et de développement 2023 « Conditions de recherche scientifique fondamentale et recherche et développement d'instruments et d'équipements scientifiques majeurs ».
Des scientifiques dirigés par NTU Singapour ont développé et simulé une nouvelle méthode d'économie d'énergie capable de produire des rayons X hautement concentrés et finement contrôlés, mille fois plus puissants que les méthodes conventionnelles.
L'analyse XRD est une méthode permettant d'analyser la structure des atomes internes dans la distribution spatiale des substances en utilisant la diffraction des rayons X formés par les cristaux.
La technologie XRD constitue un outil puissant pour étudier la composition chimique et la composition minérale de la saumure. Grâce à l’utilisation de cette technique, les caractéristiques et la valeur de la saumure peuvent être mieux comprises.
Les chercheurs du NREL ont utilisé des capacités de diagnostic par rayons X de pointe comme méthode non destructive pour examiner la composition et la structure des matériaux des batteries.