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Nouvelles

Merci pour votre rencontre, collègues chaleureux - Dîner du personnel technologique de Dandong Tongda

En août 2023, sous la direction de l'entreprise, la grande famille de Dandong Tongda Technology Co., Ltd. dans la province du Liaoning a organisé un dîner en plein air à la veille de la fin du mois.

2023/09/23
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Prévisions : d’ici 2025, le marché mondial du XRD atteindra 841,58 millions de dollars

Le diffractomètre à rayons X (DRX) mondial s’est développé régulièrement ces dernières années et la Chine est un marché offrant de grandes perspectives de développement.

2023/09/22
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Application de la DRX dans l'industrie pétrolière

Prenant comme exemple la mise à l'échelle des dépôts, cet article présente comment utiliser le diffractomètre à rayons X pour l'analyse qualitative et quantitative.

2023/09/21
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Application de la technologie XRD dans l'industrie des semi-conducteurs

L’application de nouvelles technologies et de nouveaux produits tels que la 5G, le big data et l’intelligence artificielle entraînera une énorme demande sur le marché des semi-conducteurs, et les dépenses mondiales en équipements semi-conducteurs sont entrées dans un cycle ascendant.

2023/09/20
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Service produit Dandong Tongda Technology Co., Ltd. - formation produit

La précédente introduction détaillée et complète du service de pré-vente, de vente et après-vente de l'entreprise, présentée aujourd'hui, est le contenu lié à la formation sur les produits de notre entreprise.

2023/09/19
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Mesures par diffraction des rayons X à haute résolution (HR-XRD) de semi-conducteurs composés

La XRD haute résolution (HR-XRD) est une méthode courante pour mesurer la composition et l'épaisseur de semi-conducteurs composés tels que SiGe, AlGaAs, InGaAs, etc.

2023/09/16
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La différence entre la XRD monocristalline et la XRD sur poudre

Le diffractomètre à rayons X (XRD) peut être divisé en diffractomètre à poudre à rayons X et diffractomètre monocristallin à rayons X, le principe physique de base des deux est le même.

2023/09/15
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Analyse de fluorescence X en réflexion totale

La fluorescence des rayons X à réflexion totale (TXRF) est une technique d'analyse des éléments de surface couramment utilisée pour analyser les particules, les résidus et les impuretés sur des surfaces lisses.

2023/09/14
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Application de la technique de caractérisation des cellules XRD in situ aux matériaux d'électrodes de batterie

XRD est un moyen de recherche qui est la diffraction par diffraction des rayons X d'un matériau pour analyser son diagramme de diffraction afin d'obtenir des informations telles que la composition du matériau, la structure ou la forme des atomes ou des molécules à l'intérieur du matériau.

2023/09/13
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Application de la technique GI-XRD à la caractérisation des matériaux et à l'analyse de la structure

La diffraction des rayons X à incidence rasante (GI-XRD) est une sorte de technique de diffraction des rayons X, qui diffère de l'expérience XRD traditionnelle, principalement en modifiant l'angle d'incidence des rayons X et l'orientation de l'échantillon.

2023/09/12
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Macromolécules biologiques : avancées des méthodes expérimentales SAXS

Ces dernières années, la technique de diffusion des rayons X aux petits angles des macromolécules biologiques a fait l’objet d’une large attention. Cet article présentera principalement les progrès pertinents de la combinaison du petit angle biologique et d'autres techniques au cours des dernières années.

2023/09/10
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Technologie de détection des contraintes résiduelles dans les métaux

Il est nécessaire de réduire les contraintes résiduelles nocives et de prédire la tendance de distribution et la valeur des contraintes résiduelles. Dans cet article, la méthode de contrôle non destructif des tests de contraintes résiduelles est présentée.

2023/09/09
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