Le diffractomètre à rayons X est un appareil qui utilise le principe d'interaction entre les rayons X et les substances pour obtenir des informations telles que la structure cristalline et la constante de réseau des substances en mesurant l'angle de diffraction et l'intensité des rayons X dans les substances.

Les méthodes de caractérisation des catalyseurs monoatomiques au cuivre sont souvent utilisées pour déterminer leur structure et leurs propriétés. Voici plusieurs méthodes de caractérisation courantes.

La technologie de diffraction des rayons X est largement utilisée dans la recherche sur les batteries lithium-ion. La DRX est une méthode conventionnelle d'analyse qualitative et quantitative des phases dans les matériaux.

L’application de nouvelles technologies et de nouveaux produits tels que la 5G, le big data et l’intelligence artificielle entraînera une énorme demande sur le marché des semi-conducteurs, et les dépenses mondiales en équipements semi-conducteurs sont entrées dans un cycle ascendant.

Le diffractomètre à rayons X (XRD) peut être divisé en diffractomètre à poudre à rayons X et diffractomètre monocristallin à rayons X, le principe physique de base des deux est le même.

XRD est un moyen de recherche qui est la diffraction par diffraction des rayons X d'un matériau pour analyser son diagramme de diffraction afin d'obtenir des informations telles que la composition du matériau, la structure ou la forme des atomes ou des molécules à l'intérieur du matériau.

La diffraction des rayons X à incidence rasante (GI-XRD) est une sorte de technique de diffraction des rayons X, qui diffère de l'expérience XRD traditionnelle, principalement en modifiant l'angle d'incidence des rayons X et l'orientation de l'échantillon.

La diffraction des rayons X (DRX) est actuellement une méthode puissante pour étudier la structure cristalline (telle que le type et la répartition géographique des atomes ou des ions et de leurs groupes, la forme et la taille des cellules, etc.).

Basée sur la loi de Bragg, la diffraction des rayons X (DRX) in situ peut être utilisée pour surveiller le changement de phase et ses paramètres de réseau dans l'électrode ou l'interface électrode-électrolyte en temps réel pendant le cycle de charge-décharge d'un batterie.

Le diffractomètre à rayons X, également connu sous le nom de diffractomètre à cristal de rayons X, en abrégé XPD ou XRD, est un instrument permettant d'étudier la microstructure interne de la matière. Le diffractomètre à rayons X présente les avantages d'une haute précision, d'une grande stabilité et d'un fonctionnement pratique.

La diffraction des rayons X (DRX) est une méthode majeure pour étudier la phase et la structure cristalline d'une substance. Lorsqu'une substance (cristalline ou non cristalline) est analysée par diffraction, la substance est irradiée par des rayons X pour produire différents degrés de phénomène de diffraction, la composition du matériau, le type de cristal, le mode de liaison intramoléculaire, la configuration moléculaire, la conformation et d'autres caractéristiques du matériau déterminent le diagramme de diffraction spécifique de la substance.