Ce guide décrit en détail la conception des expériences XAS, en insistant sur l'importance d'une préparation uniforme des échantillons (broyage, dilution, manipulation sous atmosphère inerte, etc.) et d'un contrôle précis des mesures (plages de balayage, paramètres du faisceau, moyennage des données, etc.). Une mise en œuvre rigoureuse garantit des données fiables sur la structure atomique locale, essentielles pour la recherche en catalyse et en matériaux énergétiques.

La spectroscopie d'absorption des rayons X (XAS), une technique avancée basée sur le rayonnement synchrotron, analyse l'absorption des rayons X pour révéler de manière non destructive les états électroniques locaux à l'échelle atomique et les structures géométriques (via XANES et EXAFS), et est largement utilisée dans la recherche sur les matériaux et l'énergie.

Un monocristal de qualité pour la diffraction des rayons X nécessite un choix optimal de solvant (solubilité/volatilité modérée), une méthode de croissance appropriée (évaporation/diffusion), une pureté élevée de l'échantillon et un environnement sans vibrations pour garantir une morphologie bien définie et des défauts minimaux.

Cet article décrit une stratégie complète en trois volets pour éliminer les interférences de diffraction d'ordre supérieur lors de l'analyse de monocristaux par diffraction des rayons X. Les méthodes comprennent la filtration matérielle à la source à l'aide de monochromateurs et de fentes, l'optimisation des paramètres pendant l'acquisition des données afin de supprimer la détection, et des algorithmes de correction logicielle pour les effets résiduels lors du traitement des données. Cette approche combinée garantit une détermination de la structure cristalline de haute précision en contrôlant les erreurs d'intensité.

Les analyseurs XRD utilisent la loi de Bragg pour mesurer les angles de diffraction, permettant un décodage non destructif des phases cristallines, des constantes de réseau, de la taille des grains et des contraintes à partir des variations d'espacement interplanaire.

Fondements physiques du diffractomètre à rayons X (pour la mesure des contraintes) : Dérivation approfondie de la géométrie de diffraction et de la relation contrainte-déformation

La technologie HR-XRD de nouvelle génération réduit la consommation d'énergie grâce à des mises à niveau matérielles, des commandes intelligentes et une gestion complète du cycle de vie, maintenant la précision tout en diminuant les coûts et les émissions pour les laboratoires écologiques.

Ce guide détaille la maintenance essentielle des systèmes de diffraction des rayons X de paillasse, notamment la génération de rayons X, l'optique, les détecteurs et la sécurité. Un entretien régulier garantit la précision, prévient les pannes et prolonge la durée de vie de l'équipement. Le diffractomètre de rayons X de paillasse TDM-20 de Dandong Tongda Technology répond à tous vos besoins analytiques.

La maintenance des diffractomètres de rayons X (DRX) repose sur la prévention et l'inspection régulière. Les protocoles de sécurité exigent une protection prioritaire et des procédures standardisées. Les pratiques clés comprennent le contrôle de l'environnement, l'entretien des composants, des contrôles de sécurité rigoureux et un arrêt correct. Leur respect garantit la longévité de l'instrument, la sécurité de l'opérateur et la fiabilité des données.

Les diffractomètres de paillasse permettent une identification rapide des phases sur site. Leur format compact et leur simplicité d'utilisation permettent de surmonter les limitations des diffractomètres à rayons X traditionnels, améliorant ainsi l'efficacité du contrôle qualité, de la recherche et du développement, ainsi que des applications de terrain telles que le criblage et l'analyse des matériaux.