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Le tube à rayons X diffractomètre fabriqué par Dandong Tongda Technology Co., Ltd. sert de composant principal dans de nombreux instruments d'analyse à rayons X en Chine. Le tube à rayons X diffractomètre de Dandong Tongda présente principalement les caractéristiques techniques suivantes : Diverses options de matériaux cibles : Ce tube à rayons X offre un large choix de matériaux cibles, notamment Cu, Co, Fe, Cr, Mo, Ti, W, etc. Les utilisateurs peuvent sélectionner le matériau cible le plus adapté en fonction de la composition élémentaire du matériau testé et des exigences d'analyse spécifiques, afin d'obtenir des résultats analytiques optimaux. Configurations flexibles du foyer focal : Le produit offre différentes tailles de foyer focal, telles que 0,2 × 12 mm, 0,4 × 14 mm (mise au point fine) et 1 × 10 mm. Des tailles de foyer focal plus petites améliorent la résolution spatiale, tandis que les différentes formes répondent aux exigences optiques de divers instruments d'analyse comme la DRX et la XRF. Large plage de puissance : la puissance de sortie maximale du tube à rayons X couvre plusieurs niveaux, notamment 2,0 kW, 2,4 kW et 2,7 kW, ce qui lui permet de s'adapter à divers scénarios d'application, de l'analyse de routine à ceux nécessitant une puissance élevée. Technologies clés et performances Technologie de générateur avancée : Conçu pour le tube à rayons X, le générateur haute fréquence et haute tension peut atteindre une puissance de sortie maximale de 5 kW. Il utilise un contrôle automatique par micro-ordinateur, avec un réglage précis de la tension du tube jusqu'à 1 kV par palier et du courant jusqu'à 1 mA par palier, garantissant des signaux de sortie précis et stables. Stabilité exceptionnelle : La stabilité de sortie du générateur est supérieure à 0,01 %. Certains modèles haut de gamme offrent même une stabilité globale inférieure ou égale à 0,3 %. Ce niveau élevé de stabilité est essentiel pour les analyses de précision nécessitant une acquisition de données à long terme. Protection de sécurité complète : l'équipement est équipé de dispositifs d'alarme et de protection étendus, y compris de multiples fonctions de protection telles que la surtension, la surintensité, la surpuissance, le manque d'eau et la surchauffe du tube à rayons X, garantissant un fonctionnement sûr et fiable. Principaux domaines d'application Les tubes à rayons X de Dandong Tongda sont principalement utilisés dans les types d'instruments d'analyse suivants : Diffractomètres à rayons X (DRX) : utilisés pour l'analyse de phase des matériaux, la détermination de la structure cristalline, etc. Spectromètres de fluorescence X (XRF) : utilisés pour l'analyse élémentaire qualitative et quantitative. Analyseurs et orienteurs de cristaux : peuvent être utilisés pour l'orientation des monocristallins, l'inspection des défauts, etc.
La fonction principale du monochromateur à cristal incurvé en graphite est de filtrer avec précision le rayonnement caractéristique Kα souhaité des signaux de rayons X complexes. Ce procédé repose sur le principe de diffraction de Bragg et utilise la disposition précise et la forme incurvée du réseau cristallin en graphite pour obtenir une transmission sélective des rayons X. Dans les applications pratiques, ce composant élimine efficacement les interférences dues aux rayons X continus, au rayonnement Kβ et au rayonnement fluorescent générés par l'échantillon lui-même. Cet effet de filtrage est particulièrement significatif lors de l'analyse d'échantillons contenant des éléments tels que le manganèse, le fer, le cobalt et le nickel, à l'aide de tubes à rayons X à cible en cuivre. Dandong Tongda propose des cristaux courbes et plats en graphite. L'utilisation de monochromateurs à cristaux courbes en graphite permet d'améliorer le rapport pic/bruit de fond, de réduire le bruit de fond, d'améliorer la résolution des pics faibles, d'atteindre une efficacité de réflexion n ≥ 35 % et de réduire l'angle de diffraction du diffractomètre. L'étalement de la mosaïque est ≤ 0,55° et la surface du cristal peut être inclinée de ± 2°. Ces paramètres garantissent la stabilité des performances de l'instrument sur le long terme. En analyse par rayons X, la qualité des données a un impact direct sur la fiabilité des conclusions de recherche. Le monochromateur à cristal incurvé en graphite améliore considérablement la qualité des signaux collectés en améliorant le rapport crête/bruit de fond et en réduisant le bruit de fond. Pour les applications diffractométriques, ce composant réduit également modérément l'angle de diffraction, rendant les pics faibles plus distincts et améliorant la capacité de l'instrument à distinguer les traces. Bien que cette amélioration puisse paraître mineure, elle peut jouer un rôle crucial dans des expériences clés. Valeur de l'application Le monochromateur à cristal incurvé en graphite démontre une large valeur d'application dans la protection de l'environnement et l'électronique. Il convient non seulement à la recherche fondamentale, mais répond également aux besoins de contrôle qualité et d'analyse dans la production industrielle. En travaillant en synergie avec les systèmes de diffraction des rayons X, ce composant fournit un support de données fiable pour la science des matériaux, la recherche chimique et les tests industriels. Utilisé en conjonction avec des tubes à rayons X à cible en cuivre, il répond efficacement aux défis analytiques pour une variété de types d'échantillons.
Le diffractomètre à rayons X entièrement automatisé par IA intègre parfaitement la manipulation de haute précision d'un bras robotisé basé sur un diffractomètre portable. Comparé aux diffractomètres traditionnels, il réduit considérablement les interventions manuelles, ce qui le rend idéal pour les scénarios de R&D exigeant des tests à haut débit et à haute répétabilité. Il est contrôlable à distance via un téléphone portable ou une application et dispose d'une technologie d'ouverture et de fermeture automatiques des portes. Grâce à ses capacités d'échantillonnage et d'analyse autonomes, il offre précision et praticité.
Les accessoires pour fibres utilisent la méthode de diffraction des rayons X (transmission) pour analyser la structure cristalline unique des fibres. Des paramètres tels que la cristallinité et la largeur à mi-hauteur (FWHM) permettent de déterminer le degré d'orientation de l'échantillon. Principales fonctions et caractéristiques des accessoires en fibre : Maintien de l'orientation des fibres : c'est l'aspect le plus critique. Les fibres présentent généralement une forte anisotropie, les cristaux étant préférentiellement alignés le long de leur axe. Les accessoires pour fibres permettent de redresser et de fixer les faisceaux de fibres, préservant ainsi leur orientation d'origine pour mesurer le degré et la distribution de l'orientation. Adaptation à différents formulaires d'échantillons : Fibre unique : extrêmement fine, nécessitant des pinces ou des cadres spéciaux pour la fixation. Faisceau de fibres : plusieurs fibres disposées en parallèle ; les accessoires de fibres doivent les aligner et les tendre uniformément. Tissu en fibre : les matériaux comme le tissu nécessitent un cadre plat pour les tendre. Activation des modes de test spéciaux : Mode de transmission : Convient aux faisceaux de fibres minces ou aux fibres individuelles. Les accessoires pour fibres comprennent un cadre dédié pour tendre la fibre, permettant aux rayons X de pénétrer directement dans l'échantillon. Mode Réflexion : Utilisé pour les faisceaux de fibres ou les tissus plus épais. Les accessoires pour fibres offrent une surface d'échantillonnage plane pour ce mode. Porte-échantillon de fibre : Il s'agit d'un simple cadre en métal ou en plastique muni de fentes ou de boutons. Pendant le fonctionnement, les deux extrémités du faisceau de fibres sont fixées au support, et les boutons sont tournés pour tendre la fibre et la maintenir droite et parallèle. Le support complet peut être placé dans le goniomètre DRX pour les tests, comme un échantillon standard. En résumé, les accessoires de fibres pour DRX sont des dispositifs de fixation d'échantillons spécialisés, conçus pour tester des échantillons fibreux à structures anisotropes. Leur fonction principale est de maintenir et de réguler l'orientation des fibres, tandis que des versions avancées permettent l'étirement in situ et d'autres fonctionnalités, fournissant ainsi des informations cruciales sur l'orientation des structures cristallines des fibres.
Dans le domaine de la recherche en science des matériaux, la précision des mesures est essentielle pour exploiter pleinement les propriétés des matériaux. L'accessoire de mesure intégré multifonction développé par Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. est un outil de haute précision conçu pour améliorer les capacités d'analyse par diffraction des rayons X. Cet accessoire de mesure intégré multifonctionnel est spécialement conçu pour être installé sur des goniomètres grand angle. Sa mission principale est d'analyser avec précision les matériaux en plaques, les matériaux en vrac et les couches minces déposées sur des substrats. Cet accessoire permet d'effectuer diverses tâches de mesure, notamment la détection de phase cristalline, l'analyse du degré d'orientation et les tests de contrainte. Il prend en charge l'analyse de texture, la détermination des contraintes résiduelles et les tests de structure en plan des couches minces, fournissant ainsi un support de données complet pour la recherche sur les matériaux. Les principales caractéristiques techniques de cet accessoire se reflètent dans son système mécanique de précision coordonné multi-axes et ses méthodes de mesure hautement adaptables. L'accessoire de mesure intégré multifonctionnel prend en charge les mesures de figures polaires à l'aide de méthodes de transmission ou de réflexion, offrant une flexibilité pour différents échantillons et exigences de test. Pour les essais de contrainte, il peut utiliser à la fois la méthode d'inclinaison latérale et la méthode d'inclinaison normale. Pour les échantillons de couches minces, l'accessoire permet également des essais de rotation dans le plan, permettant une analyse approfondie des structures des couches. Son système mécanique de précision assure une grande précision de mesure et une répétabilité élevée, avec des incréments minimum de 0,001° (pour les axes de rotation) et 0,001 mm (pour les axes de translation). Le champ d'application de l'accessoire de mesure intégré multifonctionnel est extrêmement large, couvrant presque tous les domaines de fabrication et de R&D avancés qui nécessitent une analyse de la structure des matériaux. Dans le domaine des matériaux métalliques, il est utilisé pour évaluer l'organisation collective des métaux tels que les plaques laminées ; dans le domaine de la céramique, il se concentre sur l'évaluation de l'orientation de la céramique. Pour les matériaux à couches minces, l'accessoire peut analyser l'orientation cristalline préférée des échantillons de films et tester la contrainte résiduelle des films multicouches (en évaluant des propriétés telles que le pelage du film). Il peut également analyser les films d'oxydation et de nitruration de surface sur les films de matériaux supraconducteurs à haute température et les plaques métalliques, ainsi que les films multicouches sur les substrats de verre, de silicium et de métal. Il peut notamment être appliqué à l’analyse de matériaux macromoléculaires, de papier, de matériaux de placage de lentilles, etc., démontrant ainsi son potentiel d’application interdisciplinaire. Accessoire de mesure
Dans les domaines de la science des matériaux et des essais industriels, l'analyse précise des échantillons repose sur des instruments fiables. La platine porte-échantillon rotative de Dandong Tongda Technology Co., Ltd. est précisément un accessoire essentiel pour améliorer la qualité de l'analyse par diffraction des rayons X (DRX). En analyse par diffraction des rayons X, les caractéristiques de l'échantillon lui-même posent souvent problème. Par exemple, lorsque les grains sont excessivement grossiers, que le matériau présente une texture importante (ou « orientation préférentielle », ce qui signifie que les grains ne sont pas disposés aléatoirement), ou que l'échantillon présente des caractéristiques cristallines spécifiques (modèles de croissance cristalline), il devient difficile d'obtenir des données de diffraction statistiquement représentatives et reflétant fidèlement les propriétés globales du matériau. Lors de la mesure de tels échantillons avec des platines statiques traditionnelles, l'intensité de diffraction peut être faussée en raison des facteurs mentionnés ci-dessus, ce qui affecte la précision de l'identification de phase, de l'analyse de texture et d'autres évaluations. La philosophie de conception de la platine rotative de Tongda Technology vise à relever ces défis en permettant une rotation fluide de l'échantillon dans son propre plan. Fonction principale : Éliminer les erreurs d’orientation et améliorer la fiabilité des données Le principe de fonctionnement de cette platine porte-échantillon rotative est intuitif et efficace. En faisant tourner l'échantillon en continu ou par paliers, le faisceau de rayons X couvre davantage de grains d'orientations différentes sur l'échantillon pendant l'irradiation. Les principaux avantages de cette approche sont : Réduction efficace des erreurs de mesure : grâce à l'effet de moyenne de rotation, il atténue considérablement les écarts de mesure causés par les gros grains ou l'orientation préférée, rendant les données de diffraction plus représentatives des propriétés globales du matériau. Assurer la reproductibilité des résultats : que l'échantillon lui-même ait de la texture ou non, il garantit une bonne reproductibilité de l'intensité de diffraction sur plusieurs mesures ou entre différents laboratoires, améliorant ainsi la fiabilité et la comparabilité des données. Exigences simplifiées en matière de préparation d'échantillons : cela réduit dans une certaine mesure les exigences strictes en matière de préparation parfaite des échantillons, améliorant ainsi l'efficacité de l'analyse. Spécifications techniques : Contrôle de précision et adaptabilité flexible La platine d'échantillon rotative de Dandong Tongda Technology offre les paramètres techniques clés suivants pour répondre aux exigences rigoureuses de la recherche scientifique et des tests industriels : Description des paramètres Méthode de rotation axe β (l'échantillon tourne dans son propre plan) Plage de vitesse de rotation 1 ~ 60 tr/min (tours par minute) Réglable en fonction des exigences expérimentales Précision de pas Largeur de pas minimale : 0,1º Prend en charge la numérisation de positionnement de haute précision Modes de fonctionnement Rotation à vitesse constante (pour la numérisation d'échantillons), pas à pas, continu et autres modes S'adapte à divers flux de travail de test et besoins d'acquisition de données Applications typiques Contrôle qualité et R&D dans des secteurs tels que la protection de l'environnement et l'électronique Compatibilité Principalement utilisé comme accessoire pour les spectromètres à diffraction des rayons X (DRX) Scénarios d'application : Au service des industries de la protection de l'environnement et de l'électronique Cette platine d'échantillonnage rotative n'est pas seulement une « pièce maîtresse » dans le laboratoire ; elle sert directement les industries ayant des exigences élevées en matière d'analyse des matériaux, telles que la protection de l'environnement et l'électronique. Dans des domaines tels que le contrôle qualité, le développement de nouveaux produits et l'analyse des défaillances dans ces domaines, il aide les ingénieurs et les chercheurs à effectuer des analyses de phase plus précises sur des échantillons de diverses formes, notamment des poudres, des matériaux en vrac et des films minces, garantissant ainsi l'authenticité et la fiabilité des données.
Dans le domaine de la recherche et du développement de batteries lithium-ion, la compréhension des variations dynamiques de la microstructure des matériaux d'électrodes lors des processus de charge et de décharge est cruciale. Les méthodes traditionnelles de détection hors ligne ne permettent pas de capturer ces changements en temps réel, tandis que l'émergence des techniques de caractérisation in situ offre aux chercheurs un outil puissant. Forte de son expertise en diffraction des rayons X (DRX), Dandong Tongda Technology Co., Ltd. a développé un accessoire de batterie in situ pour la recherche sur les batteries, offrant une fenêtre d'exploration efficace des processus réactionnels au sein de la « boîte noire » des batteries. Principe technique : Surveillance dynamique des changements à micro-échelle dans les matériaux des batteries L'objectif principal de la conception de l'accessoire de batterie d'origine de Dandong Tongda est de permettre la surveillance en temps réel de l'évolution de la structure cristalline des matériaux d'électrode à l'aide de la technologie de diffraction des rayons X (XRD) pendant que la batterie fonctionne normalement (pendant la charge et la décharge). Cet accessoire doit généralement fonctionner en synergie avec un système de test électrochimique (tel que le système de test de batterie LAND) et un diffractomètre à rayons X (tel que le modèle TD-3500 de Tongda Tech). Il forme une chambre de batterie spécialisée permettant aux rayons X de pénétrer et de sonder les matériaux des électrodes de la batterie pendant son fonctionnement. La clé réside dans la conception de fenêtres en matériaux (comme des fenêtres en béryllium) présentant des taux d'absorption des rayons X extrêmement faibles sur les composants de la batterie, garantissant ainsi une incidence et une émission efficaces des rayons X. Parallèlement, l'accessoire intègre les électrodes, l'isolation et les composants d'étanchéité nécessaires pour garantir des réactions électrochimiques normales et une excellente étanchéité pendant les tests. Fonctions clés et valeur de l'application La valeur de cet accessoire de batterie in situ réside dans sa capacité à aider les chercheurs à observer de manière intuitive et dynamique une série de changements microscopiques dans les matériaux des électrodes pendant les processus de charge et de décharge de la batterie : Observation en temps réel des processus de transition de phase : De nombreux matériaux d'électrodes subissent des transitions de phase lors de l'intercalation et de la désintercalation des ions lithium. La DRX in situ permet de capturer la formation, la disparition et la transformation de ces phases en temps réel, ce qui est essentiel pour comprendre les mécanismes réactionnels de la batterie. Suivi des variations des paramètres du réseau : Le suivi précis des variations des pics de diffraction XRD permet de calculer de subtiles variations des paramètres du réseau, reflétant sa dilatation et sa contraction. Ces variations sont étroitement liées aux indicateurs de performance de la batterie, tels que la tension et la durée de vie. Dévoilement des mécanismes de dégradation de la capacité : La dégradation de la capacité pendant le cyclage des batteries est souvent liée à la dégradation structurelle des matériaux des électrodes, à des réactions secondaires et à d'autres facteurs. La surveillance in situ permet de corréler la dégradation des performances électrochimiques avec les modifications structurelles, fournissant ainsi des informations directes pour améliorer les matériaux des batteries et optimiser leur conception. Accélération du développement de nouveaux matériaux : pour évaluer de nouveaux matériaux d'électrodes, la technologie XRD in situ peut rapidement fournir des informations clés sur la stabilité structurelle et les voies de réaction, accélérant ainsi le processus de R&D.
Entreprise reconnue dans le domaine des instruments de précision domestiques, Dandong Tongda Technology Co., Ltd. a lancé une gamme de porte-échantillons multifonctions. Grâce à leur haute précision, leur conception modulaire et leurs nombreuses applications, ces produits sont devenus des équipements incontournables pour l'analyse des matériaux, la diffraction des rayons X (DRX) et d'autres domaines. Fonctions principales : répondre à divers besoins analytiques Analyse de la structure des matériaux : Utilisé pour la détection de phase cristalline, l'analyse du degré d'orientation (texture) et les tests de contraintes résiduelles, prenant en charge l'analyse de matériaux tels que les métaux, les céramiques et les films minces. La rotation dans le plan (axe β) élimine l'orientation préférée, garantissant la reproductibilité des données d'intensité de diffraction. Fonction de simulation environnementale : Les modules optionnels à atmosphère haute température, basse température ou sous vide (par exemple, les dispositifs de contrôle de température à l'azote liquide) prennent en charge les tests de température variable de -196 °C à 1 000 °C, répondant aux exigences particulières des matériaux supraconducteurs à haute température, du traitement de surface des métaux, etc. Automatisation et intelligence : Le logiciel de support permet la numérisation automatique, la mesure multipoint et l'analyse de liaison de données, améliorant ainsi l'efficacité de la détection. Domaines d'application : de la recherche scientifique aux tests industriels Les porte-échantillons Dandong Tongda sont largement utilisés dans les domaines suivants : Science des matériaux : évaluation de la texture des tôles laminées, analyse de l'orientation des céramiques et tests de contraintes résiduelles des films minces. Industrie des semi-conducteurs : analyse de films multicouches sur substrats de silicium (par exemple, films magnétiques, revêtements durcis). Énergie et protection de l'environnement : Recherche microstructurale sur les films supraconducteurs à haute température, les matériaux de batterie et les catalyseurs. Enseignement supérieur et recherche scientifique : Enseignement expérimental et projets de recherche en cristallographie, analyse quantitative de phase, etc. Conclusion : Un outil indispensable pour la microanalyse des matériaux Le porte-échantillon multifonction Dandong Tongda, avec son contrôle de mouvement de haute précision, sa modularité et sa grande adaptabilité environnementale, est devenu un outil indispensable pour la microanalyse des matériaux. Ses atouts techniques reposent sur l'expertise accumulée par l'entreprise en technologie de diffraction des rayons X, alliant précision de niveau recherche et fiabilité industrielle pour aider les utilisateurs à percer les secrets des propriétés des matériaux à l'échelle microscopique. La platine porte-échantillons multifonctions est le « pied et la main » de l'observation et de la mesure de précision modernes, présentant précisément les échantillons dans le champ de vision des instruments d'analyse. Son choix détermine directement la faisabilité, l'efficacité et la fiabilité des expériences. Comprendre ses principes de base, ses classifications fonctionnelles et ses spécifications techniques est essentiel pour choisir et utiliser efficacement cet équipement.
Les contrôles non destructifs (CND) constituent une technologie d'assurance qualité indispensable dans l'industrie moderne. Ils permettent de détecter les défauts internes, les structures et les propriétés des matériaux en utilisant des caractéristiques telles que les propriétés acoustiques, optiques, magnétiques et électriques, sans endommager ni affecter les performances de l'objet testé. Par rapport aux essais destructifs, les CND présentent les caractéristiques suivantes : Premièrement, il est non destructif, car il n’altère pas les performances de l’objet testé. Deuxièmement, il est exhaustif. Comme les tests sont non destructifs, ils permettent une inspection complète de l'objet testé si nécessaire, ce qui est impossible avec des tests destructifs. Troisièmement, il est applicable à l'ensemble du processus. Les essais destructifs ne conviennent généralement qu'aux matières premières, comme les essais de traction, de compression et de flexion couramment utilisés en génie mécanique. Ils ne sont effectués que sur les matières premières destinées à la fabrication. Pour les produits finis et les équipements en service, les essais destructifs ne peuvent être effectués que s'ils ne sont plus destinés à être utilisés. En revanche, les CND n'altèrent pas les performances de l'objet testé, ce qui les rend adaptés aux essais de l'ensemble du processus, des matières premières et des étapes intermédiaires de fabrication jusqu'aux produits finis, ainsi que pour les équipements en service. Parmi les nombreux fabricants d'équipements de contrôle non destructif, Dandong Tongda Technology Co., Ltd. a développé une variété d'instruments CND qui approchent ou atteignent des niveaux avancés au niveau international, grâce à sa solide expertise technique et à ses capacités d'innovation. Caractéristiques techniques : portabilité, sécurité et intelligence La machine d'essai de soudage par rayons X portable de Tongda Technology présente plusieurs caractéristiques exceptionnelles. Ses générateurs de rayons X sont dotés d'une mise à la terre des anodes et d'un refroidissement par ventilation forcée, ce qui les rend compacts, légers, portables et faciles à utiliser. En termes de sécurité, l'équipement est doté d'une fonction d'exposition retardée, garantissant ainsi la sécurité de l'opérateur. Les appareils fonctionnent selon un cycle de travail/repos de 1:1, avec une conception rationnelle du cycle de service qui assure une détection efficace tout en prolongeant la durée de vie de l'équipement. Les produits de la société intègrent la technologie des contrôleurs logiques programmables (PLC) et un concept de conception modulaire, améliorant l'automatisation, améliorant les capacités anti-interférences et garantissant un taux de défaillance extrêmement faible. Domaines d'application : Large adoption dans de nombreux secteurs La machine d'essai de soudage à rayons X portable NDT de Tongda Technology convient à divers secteurs industriels, notamment la défense nationale, la construction navale, le pétrole, les produits chimiques, les machines, l'aérospatiale et la construction. Ces instruments sont utilisés pour inspecter la qualité de soudage des matériaux et des composants tels que les coques de navires, les pipelines, les récipients à haute pression, les chaudières, les avions, les véhicules et les ponts, ainsi que la qualité interne de divers métaux légers, caoutchouc, céramiques et autres matériaux.
Spectromètre Dandong Tongda XAFS : un outil d'analyse de la structure des matériaux pour le laboratoire Analyse précise de la structure du matériau atomique sans dépendance aux sources de rayonnement synchrotron. La spectroscopie de structure fine par absorption des rayons X (XAFS) est une technique importante pour étudier les structures atomiques et électroniques locales des matériaux, avec de larges applications en catalyse, en recherche énergétique et en science des matériaux. La méthodologie XAFS conventionnelle repose principalement sur des sources de rayonnement synchrotron, ce qui présente des défis tels qu'une disponibilité limitée du faisceau, des procédures d'application complexes et la nécessité de transporter les échantillons vers des installations scientifiques de grande envergure pour analyse. La structure fine d'absorption des rayons X développée par Dandong Tongda Technology Co., Ltd. vise à intégrer cette capacité analytique sophistiquée dans les environnements de laboratoire standard. Principaux avantages et valeur pratique La conception de cet instrument répond à plusieurs défis critiques auxquels les chercheurs sont confrontés : Alternative en laboratoire au rayonnement synchrotron : élimine la dépendance traditionnelle aux sources de rayonnement synchrotron, permettant aux chercheurs d'effectuer efficacement des tests XAFS de routine dans leurs propres laboratoires, améliorant ainsi considérablement la productivité de la recherche. Capacités de test in situ : prend en charge l'intégration de diverses chambres d'échantillonnage in situ (par exemple, électrochimiques, à température variable), permettant la surveillance en temps réel des changements dynamiques dans la structure atomique locale du matériau dans des conditions opérationnelles simulées (telles que les réactions catalytiques ou les processus de charge/décharge de la batterie), fournissant des informations précieuses sur les mécanismes de réaction. Fonctionnement automatisé pour une efficacité améliorée : une tourelle d'échantillons à 18 positions permet le changement automatique d'échantillons, facilitant la mesure automatisée continue de plusieurs échantillons et le fonctionnement sans pilote, simplifiant ainsi le criblage d'échantillons par lots et les expériences in situ prolongées. Champ d'application étendu Le spectromètre TD-XAFS trouve des applications dans de nombreux domaines nécessitant une étude détaillée des structures locales des matériaux : Nouveaux matériaux énergétiques : analyse des changements d'état de valence et de la stabilité structurelle des matériaux d'électrodes de batteries lithium-ion pendant les processus de charge/décharge ; étude des environnements de coordination sur les sites actifs catalytiques des piles à combustible. Science de la catalyse : Particulièrement adapté à l'étude des structures de coordination précises des nanocatalyseurs et des catalyseurs à atome unique, des caractéristiques du site actif et de leurs interactions avec les matériaux de support, même à de faibles charges métalliques (<1%). Science des matériaux : étude des structures désordonnées, des matériaux amorphes, des effets de surface/interface et des processus de transition de phase dynamique. Sciences de l'environnement : Analyse des états de valence et des structures de coordination des éléments métalliques lourds dans les échantillons environnementaux (par exemple, sol, eau), essentiels pour évaluer la toxicité et la mobilité. Macromolécules biologiques : étude des structures électroniques et des configurations géométriques des centres actifs métalliques dans les métalloprotéines et les enzymes. Résumé Le spectromètre TD-XAFS de Dandong Tongda constitue une plateforme d'essai de paillasse domestique hautes performances, conçue pour les universités, les instituts de recherche et les centres de R&D des entreprises. Il intègre avec succès des capacités de niveau synchrotron dans les laboratoires conventionnels, réduisant ainsi considérablement les obstacles à l'accès à la technologie XAFS. Cet instrument offre aux chercheurs des outils pratiques, efficaces et flexibles pour l'analyse de la structure des matériaux microscopiques, constituant une solution pratique pour les scientifiques explorant le monde microscopique de la matière.