L'analyseur de contraintes résiduelles multifonctionnel développé par Dandong Tongda Technology Co., Ltd. est conçu pour répondre aux besoins de mesures rapides et précises, en laboratoire comme sur le terrain. Basé principalement sur le principe de la diffraction des rayons X, il permet des contrôles non destructifs de l'état des contraintes résiduelles à l'intérieur des matériaux. Analyse polyvalente tout-en-un Cet analyseur intègre plusieurs fonctions d'analyse de matériaux, améliorant considérablement l'utilité et l'efficacité de l'équipement : Analyse des contraintes résiduelles : prend en charge divers modes de mesure tels que l'inclinaison oméga standard, l'inclinaison psi standard et l'oscillation standard, capables de déterminer les contraintes principales et les contraintes de cisaillement pour une évaluation complète de l'état de contrainte. Analyse de l'austénite retenue : utilise la méthode des quatre pics pour les tests d'austénite retenue, avec un calcul de données entièrement automatisé pour des résultats rapides. Analyse de phase par diffraction : utilisée pour analyser les structures cristallines, la composition chimique et la distribution, aidant les chercheurs à obtenir des informations plus approfondies sur la constitution des matériaux. Analyse de la granulométrie : prend en charge l'évaluation de la granulométrie de l'échelle nanométrique à l'échelle submicronique, particulièrement adaptée aux grains fins ≤ 200 nm. Caractéristiques techniques et performances Cet instrument dispose de multiples caractéristiques techniques visant à assurer précision, stabilité et facilité d'utilisation : Mesure et contrôle de haute précision : utilise un système d'asservissement vectoriel en boucle fermée de haute précision pour garantir la précision et la répétabilité des mesures. Acquisition de données efficace : équipé d'un détecteur linéaire à bande de silicium multicanal, qui offre des performances sans bruit, une mesure de haute intensité et une collecte de données rapide pour améliorer l'efficacité de la détection. Conception portable : présente une construction légère, ce qui le rend adapté non seulement aux environnements de laboratoire mais également aux mesures rapides sur site, s'adaptant à divers scénarios de test. Fonctionnement convivial : intègre le système d'exploitation Windows ou des fonctions d'automatisation, prenant en charge les tests en un clic et l'affichage des résultats en temps réel, abaissant ainsi la barrière opérationnelle. Modularité et sécurité : Utilise un système de contrôle PLC de conception modulaire pour une utilisation aisée et des performances stables. Côté sécurité, sa conception à rayons X à faible consommation d'énergie est conforme aux normes de sécurité en vigueur, avec des niveaux de rayonnement nettement inférieurs à la limite de dose annuelle pour le public. Larges domaines d'application L'analyseur de contraintes résiduelles multifonctionnel de Dandong Tongda a de nombreuses applications, couvrant presque tous les secteurs industriels et les institutions de recherche nécessitant l'évaluation des propriétés mécaniques des matériaux : Contrôle de la qualité de fabrication : utilisé pour détecter les contraintes résiduelles dans les pièces estampées, moulées et laminées pendant le traitement. Industrie automobile : teste les contraintes résiduelles dans les composants critiques tels que les arbres à cames et les bielles pour garantir la fiabilité et la durabilité. Aérospatiale : Évalue les charges de travail dans les zones critiques des matériaux aérospatiaux pour évaluer la sécurité. Recherche en science des matériaux : applicable à divers matériaux métalliques (par exemple, acier au carbone, acier allié, alliage de titane, matériaux à base de nickel), verre et matériaux composites pour l'analyse des contraintes résiduelles, de l'austénite retenue, de la phase et de la taille des grains. L'analyseur de contraintes résiduelles multifonctionnel de Dandong Tongda Technology Co., Ltd. démontre l'expertise technique de l'entreprise dans le domaine des essais de matériaux en intégrant de multiples fonctions analytiques. Cet instrument offre aux ingénieurs et aux chercheurs un aperçu de l'état de contrainte intrinsèque des matériaux, contribuant ainsi au contrôle de la qualité des produits à la source, à l'optimisation des paramètres de procédé et, par conséquent, à l'amélioration de la fiabilité et de la durabilité des produits.

Dans le domaine des technologies modernes, de nombreux produits de haute technologie – des substrats d'écrans de smartphones aux composants de base des générateurs laser – reposent sur un matériau fondamental : les monocristaux synthétiques. La précision de l'angle de coupe de ces cristaux détermine directement les performances et le rendement des produits finaux. L'analyseur d'orientation des rayons X est un instrument indispensable à la fabrication de précision des dispositifs à cristaux. Utilisant le principe de la diffraction des rayons X, il mesure avec précision et rapidité les angles de coupe des monocristaux naturels et synthétiques, notamment les cristaux piézoélectriques, optiques, laser et semi-conducteurs. Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. propose une gamme d'analyseurs d'orientation de rayons X fiables adaptés aux besoins de recherche, de traitement et de fabrication de l'industrie des matériaux cristallins. 01 Machine polyvalente pour divers besoins d'orientation des cristaux Les analyseurs d'orientation des rayons X de Dandong Tongda comprennent principalement des modèles tels que le TYX-200 et le TYX-2H8. Le modèle TYX-200 offre une précision de mesure de ±30″, avec un affichage numérique et une lecture minimale de 10″. Le modèle TYX-2H8 est une version améliorée du TYX-200, intégrant des améliorations au niveau de la structure du goniomètre, du rail porteur, du manchon du tube à rayons X, du corps de support et d'une platine porte-échantillon surélevée. Ces améliorations permettent au TYX-2H8 de traiter des échantillons de 1 à 30 kg et de diamètres compris entre 2 et 8 pouces. Il conserve un affichage numérique de l'angle et une précision de mesure de ±30″. 02 Fonctionnalités techniques avancées pour une utilisation conviviale Les analyseurs d'orientation à rayons X de Dandong Tongda sont conçus pour être pratiques et fiables. Leur utilisation conviviale ne requiert aucune connaissance ni compétence particulière de la part de l'opérateur. L'instrument est doté d'un affichage numérique de l'angle, garantissant des mesures intuitives et faciles à lire, tout en minimisant les risques d'erreur de lecture. L'affichage peut être remis à zéro à n'importe quelle position, permettant une lecture directe de l'écart d'angle de la plaquette. Certains modèles sont équipés de deux goniomètres pour un fonctionnement simultané, améliorant ainsi considérablement l'efficacité de la détection. Un intégrateur spécial avec amplification de crête améliore la précision des mesures. Le tube à rayons X et le câble haute tension adoptent une conception intégrée, améliorant la fiabilité de la haute tension. Le système haute tension du détecteur utilise un module haute tension CC, et la platine d'échantillonnage à aspiration sous vide améliore encore la précision et la rapidité des mesures. 03 Conceptions d'échantillons dédiés pour divers besoins de test Pour répondre aux exigences de mesure d'échantillons de différentes formes et tailles, Dandong Tongda propose une variété de platines d'échantillonnage spécialisées : Platine d'échantillonnage TA : Conçue pour les cristaux en forme de tige, elle est dotée d'une piste porteuse et permet de tester des tiges de cristal pesant de 1 à 30 kg et d'un diamètre de 2 à 6 pouces (extensible jusqu'à 8 pouces). Cette platine permet de mesurer les surfaces de référence des cristaux en forme de tige ainsi que celles des cristaux en forme de plaquette. Platine d'échantillonnage TB : Conçue également pour les cristaux en forme de tige, elle comprend un rail porteur et des rails de support en V. Elle permet de tester des tiges de cristal pesant de 1 à 30 kg, d'un diamètre de 2 à 6 pouces (extensible jusqu'à 8 pouces) et d'une longueur maximale de 500 mm. Elle mesure les extrémités des cristaux en forme de tige et les surfaces des cristaux en forme de plaquette. Platine d'échantillonnage TC : Principalement utilisée pour la détection des surfaces de référence externes des wafers monocristallins tels que le silicium et le saphir. Sa plaque d'aspiration ouverte évite l'obstruction des rayons X et les imprécisions de positionnement. La pompe d'aspiration de la platine maintient fermement les wafers de 5 à 20 cm, garantissant une détection précise. ​ Platine d'échantillonnage TD : conçue pour les mesures multipoints de wafers tels que le silicium et le saphir. Les wafers peuvent être pivotés manuellement sur la platine (par exemple, 0°, 90°, 180°, 270°) pour répondre aux besoins spécifiques du client. 04 Modèle haute performance pour les défis liés aux grands échantillons Pour la détection d'échantillons volumineux et complexes, les analyseurs d'orientation à rayons X de Dandong Tongda offrent des performances exceptionnelles. Le modèle TYX-2H8, par exemple, est particulièrement adapté à l'orientation des lingots et des tiges de cristal de saphir. Cet instrument permet de mesurer les orientations des cristaux de saphir A, C, M et R, avec une plage de mesure réglable de 0 à 45° par automatisation électrique. Ses spécifications techniques sont impressionnantes : Tube à rayons X à cible en cuivre avec anode mise à la terre et refroidissement par air forcé. Courant du tube réglable : 0–4 mA ; tension du tube : 30 kV. Fonctionnement via ordinateur ou commande par écran tactile. Mouvement synchronisé du tube à rayons X et du détecteur ; table rotative à entraînement électrique. Consommation électrique totale : ≤2 kW. Sa capacité de traitement d'échantillons comprend notamment des lingots de cristal pesant jusqu'à 30 à 180 kg, avec des dimensions maximales de 350 mm de diamètre et 480 mm de longueur. Ces capacités le rendent idéal pour la détection d'échantillons volumineux dans la plupart des scénarios industriels. 05 Applications étendues prenant en charge de multiples industries Les analyseurs d'orientation des rayons X de Dandong Tongda sont largement utilisés dans diverses industries impliquées dans la recherche, le traitement et la fabrication de matériaux cristallins. Dans l'industrie des semi-conducteurs, ils permettent une découpe d'orientation précise des plaquettes de silicium. Dans le domaine de l'optoélectronique, ils sont utilisés pour le traitement de précision des substrats de saphir, des cristaux optiques et des cristaux laser. Dans le secteur des matériaux piézoélectriques, ils garantissent des mesures précises de l'angle de coupe pour des performances stables du produit final. Ces instruments sont particulièrement adaptés aux matériaux en saphir, très recherchés pour leur dureté, leur haute transmission lumineuse et leur excellente stabilité physico-chimique. Le saphir est largement utilisé dans les substrats LED, les écrans d'électronique grand public et les fenêtres optiques. Les analyseurs d'orientation des rayons X de Dandong Tongda sont devenus des outils essentiels dans les domaines de la recherche et de la fabrication de matériaux cristallins en Chine, grâce à leurs performances fiables, leurs configurations diverses et leur forte adaptabilité. Leur conception modulaire et la variété des options d'étages d'échantillonnage permettent aux utilisateurs de sélectionner des configurations qui répondent à des besoins spécifiques, garantissant une précision de détection élevée tout en améliorant l'efficacité du travail. Qu'ils soient destinés aux institutions de recherche ou au contrôle de la qualité de fabrication et à l'optimisation des processus, ces instruments fournissent un support technique robuste, permettant aux utilisateurs de réaliser des percées dans la fabrication de précision.

L'analyseur de cristaux à rayons X de Dandong Tongda adopte une technologie avancée de diffraction des rayons X, permettant la détection non destructive des informations microstructurales de divers matériaux. Qu'il s'agisse d'orientation de monocristal, d'inspection de défauts, de mesure des paramètres de réseau ou d'analyse des contraintes résiduelles, cet instrument fournit des données d'essai précises et fiables, offrant un support solide à la recherche sur les matériaux et au contrôle qualité. L'instrument est équipé d'un générateur de rayons X hautement stable offrant des performances exceptionnelles. La tension du tube est réglable avec précision entre 10 et 60 kV, et le courant entre 2 et 60 mA, avec une stabilité maximale de ± 0,005 %. Cela garantit des résultats de test hautement reproductibles et précis, offrant aux chercheurs une garantie de données fiables. L'analyseur de cristaux à rayons X de Dandong Tongda intègre un contrôle intelligent et une protection de sécurité complète. Il est équipé d'un système de contrôle automatique PLC importé, permettant des mesures automatiques et chronométrées sans surveillance. Le système de protection multi-niveaux inclut des protections contre l'absence de pression, l'absence de courant, les surtensions, les surintensités, les surtensions, l'absence d'eau et la surchauffe du tube à rayons X, garantissant ainsi la sécurité des opérateurs. L'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF est doté d'un boîtier tubulaire vertical avec quatre fenêtres utilisables simultanément. Il utilise une technologie de contrôle PLC importée, offrant une haute précision et de solides capacités anti-interférences, garantissant un fonctionnement fiable du système. Le PLC contrôle la commutation et le réglage de la haute tension et intègre une fonction d'apprentissage automatique du tube à rayons X, prolongeant ainsi efficacement la durée de vie de ce dernier et de l'instrument. L'enceinte de protection contre les radiations de l'instrument est construite avec du verre au plomb haute densité et haute transparence, avec des fuites de rayonnement externes bien inférieures aux normes de sécurité nationales, permettant aux chercheurs de mener des études expérimentales dans un environnement sécurisé. Entreprise nationale de haute technologie, Dandong Tongda Technology Co., Ltd. dispose d'un système complet de gestion de la qualité et d'une équipe de R&D technique. Ses produits répondent non seulement aux exigences du marché intérieur, mais sont également exportés vers de nombreux pays et régions, démontrant ainsi la force et le potentiel de la fabrication d'instruments scientifiques en Chine. L'analyseur de cristaux à rayons X de Dandong Tongda, grâce à ses performances exceptionnelles et à sa qualité fiable, est devenu un outil précieux dans le domaine de l'analyse des matériaux. Il aide les chercheurs et les ingénieurs à dévoiler les couches du monde des matériaux et à explorer des possibilités encore plus inexplorées.

Dans les domaines de la science des matériaux et des essais industriels, chaque infime modification de la structure cristalline peut déterminer les propriétés finales d'un matériau. Aujourd'hui, un instrument de précision, fruit de la R&D de Dandong Tongda Science and Technology, le diffractomètre à rayons X TD-3500, ouvre une nouvelle fenêtre sur le monde microscopique pour les chercheurs et les inspecteurs industriels grâce à ses performances exceptionnelles et à sa conception intelligente. L'évolution par l'artisanat et la technologie Les diffractomètres de la série TD intègrent des années d'expertise technologique de Tongda Science and Technology et évoluent constamment. Véritable référence en analyse des matériaux, la diffraction des rayons X permet une analyse structurale complète d'échantillons de poudre, de matériaux en vrac ou de couches minces : analyse de phase qualitative et quantitative, analyse de la structure cristalline et de la structure des matériaux, analyse d'orientation, mesure des contraintes macro/micro, granulométrie et détermination de la cristallinité : le TD-3500 est polyvalent. Noyau intelligent, stable et fiable Le principal atout du diffractomètre à rayons X TD-3500 réside dans l'utilisation d'un système de contrôle-commande Siemens importé. Cette conception innovante confère à l'instrument des caractéristiques exceptionnelles : haute précision, excellente stabilité, longue durée de vie, évolutivité aisée, utilisation intuitive et fonctionnalités intelligentes, lui permettant de s'adapter avec souplesse aux besoins d'essais et de recherche de divers secteurs. Le générateur de rayons X propose deux options : un générateur à semi-conducteurs haute fréquence et haute tension ou un générateur à fréquence de ligne (工频). Ce générateur offre un haut niveau d'automatisation, un taux de défaillance extrêmement faible, de solides capacités anti-interférences et une excellente stabilité. Le système contrôle automatiquement l'interrupteur de l'obturateur, ajuste la tension et le courant du tube et inclut une fonction de formation automatique du tube à rayons X. La surveillance en temps réel via un écran tactile réduit considérablement la complexité opérationnelle. Contrôle innovant, fonctionnement révolutionnaire Par rapport aux circuits de micro-ordinateur monopuce traditionnels, la technologie de contrôle PLC utilisée dans le TD-3500 offre de multiples avancées : Contrôle de circuit simple pour un débogage et une installation faciles La conception modulaire permet aux utilisateurs d'effectuer eux-mêmes la maintenance et le débogage, réduisant ainsi considérablement les coûts Forte extensibilité pour l'ajout facile de divers accessoires fonctionnels sans modifications matérielles Écran tactile en vraies couleurs pour l'interaction homme-machine, utilisation conviviale et affichage intuitif des informations sur les défauts Mesure de précision, sécurité assurée Le goniomètre de la série TD utilise une transmission à roulement importée de haute précision et est équipé d'un système d'asservissement vectoriel en boucle fermée de haute précision. Ce système intelligent comprend un microprocesseur RISC 32 bits et un codeur magnétique haute résolution, capable de corriger automatiquement les infimes erreurs de position afin de garantir une précision et une exactitude élevées des résultats de mesure, avec une reproductibilité angulaire atteignant 0,0001 degré. Pour plus de sécurité, le TD-3500 adopte une structure à axe creux avec verrouillage électronique de la porte principale, offrant une double protection. La fenêtre de l'obturateur est reliée à la porte principale : à l'ouverture de celle-ci, l'obturateur se ferme automatiquement, garantissant ainsi une sécurité optimale à l'opérateur. Configuration flexible, compatibilité complète L'instrument offre deux choix de détecteurs : compteur proportionnel (PC) ou compteur à scintillation (SC) et plusieurs options de tubes à rayons X, notamment des tubes en verre, en céramique ondulée et en métal-céramique, répondant à différents scénarios d'application et exigences budgétaires. Le diffractomètre à rayons X TD-3500 est non seulement un instrument d'analyse haute performance, mais aussi le reflet de la quête incessante de qualité de Tongda Science and Technology. Il joue discrètement un rôle essentiel dans les laboratoires du pays, soutenant l'innovation scientifique et le contrôle qualité, et devenant le partenaire analytique de confiance des scientifiques et des ingénieurs. Que vous soyez engagé dans le développement de nouveaux matériaux, l'analyse des ressources minérales, le contrôle de la qualité pharmaceutique ou les tests de matériaux métalliques, le TD-3500 peut vous fournir un support de données précis et fiable, vous aidant à découvrir davantage de possibilités dans le monde microscopique. Explorez l'inconnu avec le TD-3500 — Laissez Tongda Science and Technology travailler avec vous pour découvrir les mystères de la science des matériaux.

Dans les domaines de la science des matériaux et de l'inspection industrielle, l'analyse par diffraction des rayons X, hautement efficace et précise, a toujours été essentielle aux avancées scientifiques et au contrôle qualité. Le diffractomètre à rayons X de la série TD-3700 repousse les limites de performance des équipements de diffraction grâce à de multiples technologies innovantes, offrant une solution d'une efficacité inégalée pour la recherche universitaire, la R&D en entreprise et les applications de contrôle qualité. La synergie multi-détecteurs ouvre une nouvelle ère d'analyse à grande vitesse La série TD-3700 repousse les limites des détecteurs traditionnels en offrant une variété d'options, notamment des détecteurs matriciels unidimensionnels haute vitesse, des détecteurs bidimensionnels et des détecteurs SDD. Comparé aux détecteurs à scintillation ou proportionnels conventionnels, il multiplie par dix l'intensité du signal de diffraction, capturant des diagrammes de diffraction haute sensibilité et haute résolution avec des cycles d'échantillonnage extrêmement courts et améliorant considérablement l'efficacité de la sortie des données. Associés à la technologie de comptage de photons hybride, ces détecteurs fonctionnent sans bruit, suppriment efficacement le bruit de fond de fluorescence et présentent une excellente résolution énergétique et un excellent rapport signal/bruit, ce qui les rend particulièrement adaptés à l'analyse d'échantillons complexes et de traces. Les modes de diffraction/transmission doubles élargissent les limites des applications L'instrument prend non seulement en charge le balayage par diffraction classique, mais intègre également un mode de transmission innovant. Ce mode offre une résolution nettement supérieure à celle du mode diffraction, ce qui le rend particulièrement adapté aux applications haut de gamme telles que l'analyse de la structure cristalline et la recherche sur les nanomatériaux. Grâce à sa stabilité de signal ultra-élevée, le mode diffraction est idéal pour l'identification de phase en routine. Un autre avantage majeur du mode transmission est sa prise en charge des tests d'échantillons traces, ce qui simplifie considérablement la préparation des échantillons et leur disponibilité limitée. Cela ouvre de nouvelles perspectives pour le développement pharmaceutique, l'analyse géologique, l'identification du patrimoine culturel et d'autres domaines. Conception modulaire et intelligente pour une plateforme expérimentale fiable et conviviale Le TD-3700 adopte une conception matérielle modulaire où tous les composants sont prêts à l'emploi sans nécessiter d'étalonnage, ce qui réduit considérablement les coûts de maintenance et les taux de panne. Son système d'acquisition en un clic et son logiciel personnalisé améliorent considérablement le confort d'utilisation, permettant même aux non-spécialistes de prendre en main rapidement. Une interface tactile permet de surveiller l'état de l'instrument en temps réel, affichant la progression des expériences en un coup d'œil. La sécurité est également sans compromis : un dispositif de verrouillage électronique des portes en plomb offre une double protection, tandis qu'un générateur de rayons X haute fréquence et haute tension assure des performances stables et fiables. Associé à une unité de contrôle anti-interférence, il assure une fiabilité opérationnelle à long terme tout en garantissant la sécurité des utilisateurs. Né pour l'époque : une référence tournée vers l'avenir en matière de technologie de diffraction Le diffractomètre à rayons X de la série TD-3700 allie rapidité d'analyse, fonctionnement intelligent et sécurité optimale. Il hérite non seulement de la stabilité de la série TD-3500, mais réalise également des avancées technologiques en matière de détection, de flexibilité d'application et d'intégration système. Son développement répond parfaitement aux besoins des laboratoires modernes en matière d'analyse d'échantillons à haut débit, haute précision et diversifiés, ce qui en fait un outil indispensable pour la caractérisation des matériaux, l'analyse chimique, l'industrie pharmaceutique et la recherche universitaire.

Le diffractomètre à rayons X TDM-20 (DRX de paillasse) est principalement utilisé pour l'analyse de phase des poudres, des solides et des substances pâteuses. Basé sur le principe de la diffraction des rayons X, il permet l'analyse qualitative et quantitative, ainsi que l'analyse de la structure cristalline, de matériaux polycristallins tels que des échantillons de poudre et des échantillons métalliques. Il est largement utilisé dans des secteurs tels que l'industrie, l'agriculture, la défense nationale, l'industrie pharmaceutique, la minéralogie, la sécurité alimentaire, le pétrole, ainsi que l'éducation et la recherche. Principe fondamental : la diffraction des rayons X, la clé du monde microscopique Le diffractomètre à rayons X TDM-20 fonctionne selon le principe de la diffraction des rayons X. Lorsque les rayons X illuminent un échantillon, ils interagissent avec les atomes qui le composent et se diffractent. Différentes structures cristallines produisent des motifs de diffraction uniques, comparables à des empreintes digitales. En analysant ces motifs, l'instrument révèle avec précision des informations clés sur la structure cristalline de l'échantillon, sa composition en phases, etc., révélant ainsi les secrets cachés à l'échelle microscopique. Percée en matière de performances Le diffractomètre à rayons X TDM-20 (DRX de paillasse) surpasse la norme internationale précédente de 600 W et bénéficie d'une mise à niveau complète pour atteindre 1 600 W. Cet instrument se distingue par sa simplicité d'utilisation, ses performances stables et sa faible consommation d'énergie. Il peut être équipé d'un détecteur proportionnel ou d'un nouveau détecteur matriciel haute vitesse, ce qui se traduit par une amélioration significative des performances globales. Caractéristiques de l'appareil Taille compacte et conception légère Conception d'alimentation haute fréquence et haute tension pour une consommation énergétique globale plus faible Prend en charge l'étalonnage et les tests rapides des échantillons Contrôle de circuit simplifié pour un débogage et une installation faciles La précision linéaire de l'angle de diffraction à spectre complet atteint ± 0,01° Accessoires riches Compatible avec divers accessoires, notamment un détecteur de réseau 1D, un détecteur proportionnel, un changeur d'échantillons automatique à 6 positions et un étage d'échantillon rotatif. Conclusion Le diffractomètre à rayons X TDM-20, grâce à ses performances exceptionnelles, sa simplicité d'utilisation et son large éventail d'applications, est devenu un outil indispensable dans de nombreux secteurs industriels et domaines de recherche. Véritable « détective » du monde microscopique, il nous aide à percer les mystères de la structure des matériaux et favorise le progrès dans divers domaines. Si vous aussi souhaitez explorer les secrets microscopiques de la matière, le TDM-20 vous permettra de vous lancer dans une recherche et une production précises et efficaces.

À l'origine, les accessoires de batterie sont des dispositifs expérimentaux conçus spécifiquement pour les tests électrochimiques, principalement utilisés pour la caractérisation in situ des matériaux de batterie pendant les processus de charge et de décharge, couramment trouvés dans la diffraction des rayons X (DRX). 1. Fonctions principales et scénarios d'application des accessoires de batterie d'origine (1)Test initial : La surveillance en temps réel des changements de structure des phases des matériaux (comme la structure cristalline et la transition de phase) pendant la charge et la décharge de la batterie permet d'éviter la contamination des échantillons ou les changements d'état causés par le démontage de la batterie. Prise en charge de nombreux systèmes électrochimiques, notamment les composites contenant du carbone, de l'oxygène, de l'azote, du soufre, des métaux, etc. (2) Compatibilité multimodale : Diffraction des rayons X (DRX) : utilisée pour analyser l'évolution structurelle des matériaux d'électrodes positives/négatives au cours des processus de charge et de décharge. 2. Composition structurelle et caractéristiques techniques des accessoires de batterie d'origine (1) Composants clés : Couvercle d'isolation inférieur : généralement constitué de céramique d'alumine ou de polytétrafluoroéthylène, contenant des canaux d'écoulement de liquide de refroidissement ou des canalisations d'installation de fils de résistance, utilisés pour le contrôle de la température. Couvercle conducteur supérieur : relié au couvercle isolant inférieur par des boulons pour former un espace fermé, avec une fenêtre en béryllium (diamètre 15 mm, épaisseur 0,1 mm) en partie supérieure pour transmettre les rayons X. Système d'électrodes : à l'origine, les accessoires de batterie comprennent une électrode inférieure (avec une colonne de support) et un ressort papillon, qui sont connectés électriquement par fixation par compression, simplifiant le processus d'assemblage. (2) Innovation technologique : Conception formelle : Par rapport à la méthode inversée traditionnelle, la structure formelle ne nécessite pas d'assemblage par retournement, ce qui facilite son utilisation dans la boîte à gants et garantit la planéité de la fenêtre en béryllium et du diaphragme. Étanchéité et contrôle de la température : Conduite de circulation de liquide de refroidissement intégrée et dispositif de chauffage à fil de résistance, adapté à une plage de température de -400 ℃ à 400 ℃. 3. Avantages techniques des accessoires de batterie d'origine (1) Fonctionnement simplifié : Réduisez les étapes d'assemblage, diminuez le temps d'utilisation en boîte à gants et améliorez l'efficacité. Le ressort papillon fixe l'électrode sans rotation ni serrage, évitant ainsi toute interférence avec la structure simulée de la batterie. (2) Amélioration des performances : La transmittance élevée des rayons X (> 90 %) des fenêtres en béryllium garantit la puissance du signal de détection. La platine d'échantillonnage multifonctionnelle prend en charge le changement automatique d'échantillon et convient aux tests à haut débit. Dans l’ensemble, les accessoires de batterie d’origine sont des outils importants pour la recherche électrochimique, car leur conception optimise le processus d’assemblage des structures de simulation de batterie traditionnelles et améliore la fiabilité et l’applicabilité des tests d’origine.

Une platine d'échantillonnage multifonctionnelle est une plateforme expérimentale ou de test intégrant plusieurs modules fonctionnels permettant de transporter, manipuler et tester différents types d'échantillons (tels que des matériaux, des échantillons biologiques, des composants électroniques, etc.). Sa configuration et son évolutivité permettent généralement de répondre à différents besoins expérimentaux. Elle est largement utilisée dans la recherche scientifique, les tests industriels, la médecine et d'autres domaines. 1. Fonctions et caractéristiques principales de la platine d'échantillonnage multifonctionnelle (1) Réglage multidimensionnel de la platine d'échantillon multifonctionnelle Contrôle de mouvement : prend en charge des mouvements précis tels que la translation, la rotation et l'inclinaison des axes X/Y/Z, et est compatible avec la numérisation automatique ou le réglage fin manuel. Simulation environnementale : Il peut intégrer des modules tels que le contrôle de la température (-196°C à plusieurs milliers de degrés), le contrôle de l'humidité, l'environnement sous vide/atmosphère (tel que gaz inerte, gaz corrosif), etc. Chargement de force/électrique/magnétique : Certains modèles prennent en charge l'application d'une force mécanique, d'un courant, d'un champ magnétique, etc., utilisés pour étudier les performances des échantillons dans des conditions extrêmes. (2) Compatibilité et évolutivité du support d'échantillons multifonctionnel S'adapter à plusieurs instruments d'analyse La conception modulaire permet aux utilisateurs d'ajouter des fonctions en fonction de leurs besoins, telles que des stations de chauffage, des stations de refroidissement, des systèmes d'infusion de fluides, etc. (3) Haute précision et stabilité de la platine d'échantillon multifonctionnelle Précision de déplacement au niveau nano, conception anti-vibration, adaptée à l'observation in situ ou aux expériences à long terme. Certains modèles prennent en charge la caractérisation in situ (comme l'observation en temps réel des changements d'échantillons pendant les processus d'étirement, de compression et de chauffage). (4) Automatisation et intelligence du support d'échantillons multifonctionnel Les tests automatisés sont réalisés en contrôlant les trajectoires de mouvement et les paramètres environnementaux via un logiciel. Capteurs intégrés et système d'acquisition de données, enregistrement en temps réel des réactions des échantillons (telles que déformation, changements de résistance, etc.). 2. Scénarios d'application typiques de la table d'échantillons multifonctionnelle : (1) Science des matériaux du support d'échantillons multifonctionnel Étudier les performances des matériaux dans des environnements à haute/basse température, sous contrainte et corrosifs. Observation in situ par MEB/MET des processus de déformation des matériaux, de transformation de phase ou de cristallisation. (2) Platine d'échantillon multifonctionnelle biomédicale Les expériences de culture cellulaire et de perméation de médicaments nécessitent un contrôle de la température, de l'humidité et un environnement gazeux. Coopérer avec l’imagerie microscopique pour observer les changements dynamiques d’échantillons vivants. (3) Électronique et semi-conducteurs pour support d'échantillons multifonctionnel Test de puce : fournit des fonctions telles que le positionnement de la sonde, le choc thermique et les tests de performances électriques. Positionnement et traitement d'échantillons dans les procédés de photolithographie ou de revêtement. (4) Recherche chimique/énergétique sur un support d'échantillons multifonctionnel Surveillance in situ des réactions catalytiques (telles que les réactions de surface dans des conditions d'éclairage et de chauffage). Test des électrodes de batterie (simulation de l'expansion/contraction pendant les processus de charge et de décharge).

L'accessoire de mesure intégré multifonction du diffractomètre à rayons X (DRX) est un élément clé pour l'analyse multi-scènes et multi-échelles. Grâce à sa conception modulaire, il répond aux besoins de la diffraction des poudres, de la diffusion aux petits angles, de l'analyse des contraintes résiduelles, des essais in situ, etc. Voici une liste des accessoires de mesure intégrés multifonctions courants et de leurs principales fonctions : 1. L'accessoire de mesure intégré multifonctionnel est un accessoire de contrôle de la température et de l'environnement (1) Fonction : Prend en charge les tests d'échantillons sous contrôle de température élevée, de basse température et d'humidité, utilisé pour étudier les changements de structure cristalline des matériaux dans différentes conditions de température ou d'humidité. (2) Caractéristiques : Plage de température : de la température ambiante à 1500 ℃ ; Contrôle automatique de la température et de l'humidité, adapté à la catalyse in situ, à l'analyse des changements de phase et à d'autres expériences. (3) Application : Transition de phase des matériaux métalliques, analyse de la cristallinité des polymères, recherche sur la stabilité thermique des matériaux inorganiques. 2. Échantillonneur automatique et platine d'échantillonnage pour accessoires de mesure intégrés multifonctionnels (1) Fonction : mettre en œuvre la commutation automatique et le positionnement précis de plusieurs échantillons pour améliorer l'efficacité des tests. (2) Caractéristiques : Accessoires de support tels que tables de rotation d'échantillons et tables de microdiffraction pour les tests directionnels d'échantillons complexes ; Collaborez avec un logiciel intelligent pour optimiser les paramètres de mesure et identifier automatiquement les configurations d'échantillons. (3) Application : Test d'échantillons par lots, analyse de films minces ou de micro-zones. 3. Accessoires de mesure intégrés multifonctionnels adaptés aux détecteurs bidimensionnels et aux détecteurs unidimensionnels à grande vitesse (1) Fonction : Prend en charge la collecte de données multidimensionnelles pour améliorer la capacité d'analyse d'échantillons complexes. (2) Caractéristiques : Détecteur unidimensionnel à grande vitesse, adapté à la diffraction de poudre conventionnelle ; Détecteur à réseau semi-conducteur bidimensionnel qui peut basculer entre les modes zéro dimensionnel, unidimensionnel ou bidimensionnel, étendant la micro-zone ou les capacités de test dynamique in situ. (3) Application : analyse de l'orientation des cristaux de matériaux 2D, surveillance dynamique des réactions in situ. 4. L'accessoire de mesure intégré multifonctionnel est un accessoire de diffraction de contrainte résiduelle et de micro-zone (1) Fonction : Effectuer des tests directionnels sur la répartition des contraintes ou sur de petites zones à la surface des matériaux. (2) Caractéristiques : Combinaison du système optique θ/θ avec une source de rayons X microfocus pour obtenir une micro-diffraction de niveau submillimétrique ; Mesure non destructive, utilisée pour l'analyse des contraintes des pièces métalliques et des dispositifs semi-conducteurs. (3) Application : Essais de fatigue de composants aérospatiaux, caractérisation des contraintes de films minces semi-conducteurs. 5. L'accessoire de mesure intégré multifonctionnel est un accessoire intelligent de contrôle d'étalonnage et d'automatisation (1) Fonction : Assurer la précision et la cohérence des tests grâce à la reconnaissance des composants et à la technologie d'étalonnage automatique. (2) Caractéristiques : Configuration de la pièce jointe de reconnaissance automatique du code QR, conditions de test optimales guidées par logiciel ; programme d'étalonnage entièrement automatique pour réduire les erreurs de fonctionnement humain. (3) Application : commutation d'accessoires complexes (tels que le mode haute température + AXS), fonctionnement convivial pour les débutants. La conception des accessoires des diffractomètres à rayons X modernes privilégie la modularité, l'intelligence et l'automatisation. Grâce à la collaboration entre logiciels et matériel, les accessoires peuvent être rapidement remplacés, les paramètres optimisés et les données standardisées. Les tendances futures incluent des capacités d'analyse de microzones de plus grande précision, des solutions intégrées pour les essais dynamiques in situ et des systèmes intelligents de gestion des accessoires pilotés par l'intelligence artificielle.

Le diffractomètre à rayons X de bureau TDM-10 est un appareil d'analyse de phase compact et de haute précision. Voici une présentation détaillée du produit : 1. Fonctions principales et applications du diffractomètre à rayons X de bureau TDM-10 (1) Analyse de phase Adapté à l'analyse qualitative et quantitative de poudres, de solides, de matériaux pâteux et d'échantillons de films minces, il peut identifier la structure cristalline, la composition de phase et la cristallinité des échantillons. (2) Analyse de la structure cristalline Il peut mesurer la taille des grains, l'orientation des cristaux, les contraintes macroscopiques/microscopiques et les propriétés structurelles des matériaux. (3) Applications industrielles et de recherche Largement utilisé dans des domaines tels que la géologie, la science des matériaux, la chimie, la biologie, la médecine et l'industrie nucléaire, adapté aux tests rapides en laboratoire et aux démonstrations pédagogiques. 2. Caractéristiques techniques du diffractomètre à rayons X de bureau TDM-10 (1) Conception compacte et performances efficaces Compact, léger, faible consommation d'énergie, facile à utiliser, il est adapté aux environnements de bureau. Équipé d'une alimentation haute fréquence et haute tension, sa puissance peut atteindre 1600 W (voir modèle TDM-20), garantissant la stabilité des rayons X. (2) Mesure de haute précision La précision de mesure de la position du pic de diffraction atteint 0,001°, avec une excellente répétabilité angulaire, répondant aux exigences d'une analyse de haute précision. En utilisant les principes de la géométrie de Debye Scherrer et de la loi de Bragg, le signal de réflexion du cristal est enregistré par diffraction de surface conique, permettant une identification précise de la phase. (3) Contrôle intelligent et traitement des données Acquisition de données contrôlée par ordinateur, prenant en charge l'acquisition et le traitement de données en temps réel sous le système Windows, avec une interface d'exploitation intuitive. Peut être associé à des détecteurs matriciels (faisant référence à la technologie de détection haute performance du TDM-20) pour améliorer l'efficacité et la sensibilité de détection. 3. Scénarios applicables du diffractomètre à rayons X de bureau TDM-10 (1) Domaine de recherche Les universités et les instituts de recherche sont utilisés pour la recherche et le développement de matériaux, l'analyse de la structure cristalline et la caractérisation des nanomatériaux. (2) Applications industrielles Identification des minéraux, analyse de la composition des médicaments, tests de sécurité alimentaire (tels que le dépistage des impuretés cristallines), etc. (3) Démonstration pédagogique Appareil de bureau facile à utiliser, adapté à l'enseignement expérimental des étudiants, couvrant la théorie de base et le fonctionnement pratique de l'analyse de phase. 4. Paramètres techniques du diffractomètre à rayons X de bureau TDM-10 (1) Précision de mesure : précision de la position du pic de diffraction de 0,001 ° (2) Méthode de contrôle : Contrôle par ordinateur (système Windows) (3) Alimentation : conception basse consommation, alimentation haute tension haute fréquence (4) Détecteur : prend en charge les détecteurs matriciels ou les détecteurs proportionnels (voir les accessoires TDM-20) (5) Support d'échantillon : peut être associé à un support d'échantillon rotatif ou à un changeur d'échantillons automatique (accessoire en option) 5. Avantages du diffractomètre à rayons X de bureau TDM-10 (1) Rapport coût-efficacité élevé : les équipements nationaux ont des performances exceptionnelles et sont beaucoup moins chers que les équipements importés, ce qui les rend adaptés aux laboratoires aux budgets limités. (2) Détection rapide : optimisez le processus d'étalonnage, réduisez le temps de test et améliorez l'efficacité expérimentale. (3) Évolutivité : prend en charge plusieurs accessoires (tels que les systèmes de refroidissement à basse température, les accessoires de batterie in situ, etc.), qui peuvent être étendus à l'analyse de scénarios spéciaux. 6. Séries associées et comparaison du diffractomètre à rayons X de bureau TDM-10 Modèle TDM-20 : Le TDM-20 est une version améliorée du TDM-10, avec une puissance plus élevée (1600 W), de nouveaux détecteurs matriciels hautes performances, un support pour les changeurs d'échantillons automatiques et d'autres accessoires, adaptés aux besoins de recherche industrielle et scientifique plus complexes. Autres modèles : La série Dandong Tongda TD comprend également des instruments de diffraction haute résolution tels que TD-3500 et TD-3700, ainsi que des analyseurs de cristaux de la série TDF, couvrant les besoins d'analyse multidimensionnelle. Le diffractomètre à rayons X de bureau TDM-10 est devenu l'équipement privilégié pour l'analyse de phase en laboratoire grâce à sa conception compacte, sa haute précision de mesure et son fonctionnement intelligent. Il offre un large éventail d'applications, particulièrement adapté à la recherche scientifique et aux environnements industriels exigeant une détection rapide et précise. Pour une configuration plus avancée, le TDM-20 ou d'autres modèles de la même série peuvent être envisagés.