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Diffraction des rayons X, à travers la diffraction des rayons X d'un matériau, l'analyse de son diagramme de diffraction, pour obtenir la composition du matériau, la structure ou la forme des atomes ou molécules à l'intérieur du matériau et d'autres moyens de recherche.
Les instruments XRF utilisent les rayons X pour « exciter » un matériau afin de caractériser sa composition en identifiant des éléments dans l'échantillon (analyse qualitative) ou en déterminant la force d'un élément dans l'échantillon (analyse quantitative)
Cette procédure est une procédure auto-développée. Il contient une variété de fonctions d'analyse quantitative développées par nous-mêmes, qui sont conformes à la théorie de la diffraction et sont calculées par intensité intégrale.
Certains contenus liés au « Logiciel JADE pour analyser et traiter les données XRD ».
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La diffraction des rayons X est le moyen le plus efficace et le plus largement utilisé, et la diffraction des rayons X est la première méthode utilisée par l'homme pour étudier la microstructure de la matière.