La diffraction des rayons X est une technique de contrôle non destructif rapide, précise et efficace des matériaux. Comme moyen de caractériser la structure cristalline et sa règle de changement, il est largement utilisé dans de nombreux domaines tels que la biologie, la médecine, la céramique, etc.

Le diffractomètre à rayons X est un type d'instrument permettant d'analyser la structure cristalline, la composition de phase et l'orientation cristalline d'une substance par l'interaction des rayons X avec la matière.

Les propriétés des matériaux sont souvent déterminées par leur composition de phase, et la DRX est largement utilisée comme l'un des principaux moyens d'analyse de phase.

Le degré de graphitisation fait référence à la mesure dans laquelle la structure cristalline du matériau graphite ressemble au graphite parfait après réarrangement de la structure du carbone amorphe.

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Un diffractomètre de contrainte à rayons X est un instrument largement utilisé dans le domaine de la science et de l'ingénierie des matériaux pour mesurer la répartition des contraintes internes des matériaux.

Une équipe de recherche de l'Institut Hefei des sciences physiques de l'Académie chinoise des sciences a récemment mené une étude proposant une nouvelle méthode pour améliorer la détection des rayons X en incorporant des cristaux péritectiques CsPb2Br5 déphasés dans des matériaux de bloc CsPbBr3.

La diffraction des rayons X est une technique de base pour l’étude de la structure solide, qui peut fournir des informations spectrales uniques sur la composition chimique et la disposition structurelle des échantillons.

XRD est aujourd'hui le système de diffractomètre à rayons X le plus avancé au monde, avec une conception précise et des fonctions complètes, et peut s'adapter de manière flexible à diverses déterminations de microstructures telles que la poudre.