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Produits populaires
Diffraction des rayons X sur monocristal1. La machine à monocristal adopte la technologie de contrôle PLC. 2. Conception modulaire, accessoires plug and play. 3. Équipement de verrouillage électronique de porte d'entrée avec double protection. 4. Tube à rayons X monocristallin : une variété de cibles peuvent être sélectionnées, telles que Cu, Mo, etc. 5. Le monocristal adopte une technologie concentrique à quatre cercles pour garantir que le centre du goniomètre ne reste pas inchangé.Plus
Diffractomètre1. La précision du diffractomètre est élevée. 2. Le champ d'application du diffractomètre est vaste. 3. Le diffractomètre est facile à utiliser, pratique et efficace.Plus
Analyseur de cristaux à rayons X en série1. L'appareil à rayons X est facile à utiliser et rapide à détecter. 2. L'appareil à rayons X est précis et fiable, avec d'excellentes performances. 3. L'appareil à rayons X possède divers accessoires fonctionnels pour répondre aux besoins des différents objectifs de test.Plus
Diffractomètre à poudre1. Type de détecteur : détecteur matriciel ou détecteur SDD ; 2. Calcul du contrôle automatique de l'API, conversion du mode d'intégration, l'API exécute automatiquement le PHA, correction du temps mort 3. Type de mesure d'échantillon : échantillon de poudre, échantillons liquides, échantillons à l'état fondu, échantillons visqueux, poudres libres, échantillons solides en vrac 4.Disponible avec une variété d'accessoires de diffractomètre 5. Puissance de sortie maximale de poudre : 3 kWPlus
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Mini diffractomètre à rayons X
- Tongda
- Liaoning, Chine
- 1 à 2 mois
- 100 unités par an
Introduction au diffractomètre à rayons X TDM-20 :
Diffractomètre à rayons X sur poudre TDM-20 (DRX de table)Elle est principalement utilisée pour l'analyse de phase des poudres, des solides et des matériaux pâteux similaires. Le principe de la diffraction des rayons X permet l'analyse qualitative ou quantitative et l'analyse de la structure cristalline des matériaux polycristallins, tels que les échantillons de poudre et les échantillons métalliques. Elle est largement utilisée dans l'industrie, l'agriculture, la défense nationale, l'industrie pharmaceutique, minière, agroalimentaire, pétrolière, l'éducation, la recherche scientifique et d'autres domaines.

Diffractomètre de poudre de table
Le diffractomètre à rayons X pour poudres TDM-20 (DRX de paillasse) dépasse la norme internationale initiale de 600 W et bénéficie d'une toute nouvelle puissance de 1 200 W. Simple d'utilisation, stable et économe en énergie, il peut être équipé d'un détecteur proportionnel ou d'un nouveau détecteur matriciel haute vitesse, ce qui représente un bond en avant significatif pour les performances globales de l'appareil.
Caractéristiques du diffractomètre à rayons X (diffractomètre à poudre) :
L'équipement est de petite taille et léger.
L'alimentation haute fréquence et haute tension permet de réduire la consommation d'énergie de l'ensemble de la machine.
Il peut rapidement calibrer et tester l'échantillon.
La commande en ligne est simple et pratique pour le débogage et l'installation.
La linéarité de l'angle de diffraction du spectre complet peut atteindre ±0,01°
Précision de mesure de la position du pic de diffraction : 0,001
Avantages du diffractomètre TDM-20
Analyse de diffraction des rayons X diversifiée et de haute qualité
Le détecteur conventionnel utilise un seul canal pour recevoir les données lorsque les rayons X frappent l'échantillon. Un détecteur matriciel 1D avancé reçoit les données simultanément sur 640 canaux. La vitesse d'analyse peut ainsi être multipliée par plus de dix.

Réglage de la précision des instruments
Lors de la mesure de la poudre de silice d'un échantillon standard international, l'écart angulaire de tous les pics du spectre complet ne dépasse pas ±0,01°. La précision de l'angle de diffraction du spectre complet garantit une analyse qualitative et quantitative précise.

Excellente résolution
Lorsque le temps d'échantillonnage est de 0,1 s et l'angle de largeur de pas de 0,01°, la largeur à mi-hauteur (FWHM) du pic principal de 28,442° est inférieure à 0,075', et la résolution est inférieure à 85 %. Une haute résolution permet de résoudre le problème du chevauchement des pics de diffraction. Ceci est utile pour obtenir rapidement les résultats d'analyse de phase, même pour les échantillons complexes.

Pièces optionnelles :


Changeur d'échantillons automatique 6 bits, porte-échantillon rotatif
À propos de nous
Un diffractomètre à rayons X est un instrument de précision utilisé pour étudier la structure cristalline, la morphologie et les propriétés de la matière. Lors de l'emballage et du transport, certaines mesures doivent être prises afin de garantir que la sécurité et les performances de l'instrument ne soient pas altérées.















