Mini diffractomètre à rayons X
- Tongda
- Liaoning, Chine
- 1 à 2 mois
- 100 unités par an
Introduction au diffractomètre à rayons X TDM-20 :
Le diffractomètre de rayons X pour poudres TDM-20 (diffractomètre de paillasse) est principalement utilisé pour l'analyse de phase des poudres, des solides et des matériaux pâteux similaires. Le principe de la diffraction des rayons X permet l'analyse qualitative et quantitative ainsi que l'analyse de la structure cristalline des matériaux polycristallins, tels que les échantillons de poudre et les échantillons métalliques. Il est largement utilisé dans l'industrie, l'agriculture, la défense nationale, l'industrie pharmaceutique, minière, agroalimentaire, pétrolière, l'éducation, la recherche scientifique et d'autres domaines.
Diffractomètre de poudre de table
Le diffractomètre à rayons X pour poudres TDM-20 (DRX de paillasse) dépasse la norme internationale initiale de 600 W et bénéficie d'une toute nouvelle puissance de 1 600 W. Simple d'utilisation, stable et économe en énergie, il peut être équipé d'un détecteur proportionnel ou d'un nouveau détecteur matriciel haute vitesse, ce qui représente un bond en avant significatif des performances globales de l'appareil.
Diffractomètre de poudre de table
Caractéristiques du diffractomètre à rayons X (diffractomètre à poudre) :
L'équipement est de petite taille et léger.;
L'alimentation haute fréquence et haute tension permet de réduire la consommation d'énergie de l'ensemble de la machine.;
Il peut rapidement calibrer et tester l'échantillon.;
La commande en ligne est simple et pratique pour le débogage et l'installation.;
La linéarité de l'angle de diffraction du spectre complet peut atteindre ±0,01°;
Précision de mesure de la position du pic de diffraction : 0,001.
N'hésitez pas à contacter Tongda pour obtenir plus d'informations sur les paramètres et les solutions d'utilisation des produits.
01 Dandong Tongda Science
Analyse de diffraction des rayons X diversifiée et de haute qualité
Le détecteur conventionnel utilise un seul canal pour recevoir les données lorsque les rayons X frappent l'échantillon. Un détecteur matriciel 1D avancé reçoit les données simultanément sur 640 canaux. La vitesse d'analyse peut ainsi être multipliée par plus de dix.
02 Dandong Tongda Science
Réglage de la précision des instruments
Lors de la mesure de la poudre de silice d'un échantillon standard international, l'écart angulaire de tous les pics du spectre complet ne dépasse pas ±0,01°. La précision de l'angle de diffraction du spectre complet garantit une analyse qualitative et quantitative précise.
03Dandong Tongda Science
Excellente résolution
Lorsque le temps d'échantillonnage est de 0,1 s et l'angle de largeur de pas de 0,01°, la largeur à mi-hauteur (FWHM) du pic principal de 28,442° est meilleure que 0,075', et le
La résolution est inférieure à 85 %. Une haute résolution permet de résoudre le problème du chevauchement des pics de diffraction. Elle est nécessaire pour obtenir rapidement les résultats d'analyse de phase, même en présence d'échantillons complexes.
Pièces optionnelles :
Détecteur proportionnel, détecteur matriciel unidimensionnel, changeur d'échantillons automatique 6 bits, porte-échantillon rotatif
À propos de nous
Un diffractomètre à rayons X est un instrument de précision utilisé pour étudier la structure cristalline, la morphologie et les propriétés de la matière. Lors de l'emballage et du transport, certaines mesures doivent être prises afin de garantir que la sécurité et les performances de l'instrument ne soient pas altérées.
