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Diffraction des rayons X sur monocristal1. La machine à monocristal adopte la technologie de contrôle PLC. 2. Conception modulaire, accessoires plug and play. 3. Équipement de verrouillage électronique de porte d'entrée avec double protection. 4. Tube à rayons X monocristallin : une variété de cibles peuvent être sélectionnées, telles que Cu, Mo, etc. 5. Le monocristal adopte une technologie concentrique à quatre cercles pour garantir que le centre du goniomètre ne reste pas inchangé.Plus- Diffractomètre1. La précision du diffractomètre est élevée. 2. Le champ d'application du diffractomètre est vaste. 3. Le diffractomètre est facile à utiliser, pratique et efficace.Plus
- Analyseur de cristaux à rayons X en série1. L'appareil à rayons X est facile à utiliser et rapide à détecter. 2. L'appareil à rayons X est précis et fiable, avec d'excellentes performances. 3. L'appareil à rayons X possède divers accessoires fonctionnels pour répondre aux besoins des différents objectifs de test.Plus
- Diffractomètre à poudre1. Type de détecteur : détecteur matriciel ou détecteur SDD ; 2. Calcul du contrôle automatique de l'API, conversion du mode d'intégration, l'API exécute automatiquement le PHA, correction du temps mort 3. Type de mesure d'échantillon : échantillon de poudre, échantillons liquides, échantillons à l'état fondu, échantillons visqueux, poudres libres, échantillons solides en vrac 4.Disponible avec une variété d'accessoires de diffractomètre 5. Puissance de sortie maximale de poudre : 3 kWPlus
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Structure fine d'absorption des rayons X
- Tongda
- Liaoning, Chine
- 1 à 2 mois
- 100 nuits per year
La spectroscopie d'absorption des rayons X (XAFS), également appelée spectroscopie d'absorption des rayons X (XAS), est un outil puissant pour étudier la structure atomique ou électronique locale des matériaux à partir d'une source de lumière synchrotron, et est largement utilisée dans des domaines porteurs tels que la catalyse, l'énergie et les nanotechnologies.
Paramètre technique | ||
Performance globale | Paramètre | Instructions |
Gamme énergétique | 5-19 keV | |
Mode spectral | Mode de transmission | |
Flux lumineux à l'échantillon | > 1 000 000 photons /s/ev | |
Résolution énergétique | XANES : 0,5-1,5 eV EXAFS : 1,5-10 eV | |
parcours de rayons X | L'accès à l'hélium réduit l'absorption d'air | |
Répétabilité | Dérive d'énergie d'acquisition répétée < 50 meV | |
source de rayons X | Pouvoir | 1,6 kW, haute tension 10-40 kV, courant 1-40 mA |
Matériel cible | Cible W\Mo, d'autres cibles peuvent être sélectionnées | |
monochromateur | Taper | Cristal analytique sphérique de rayon de courbure 500 mm, de taille 100 mm |
Détecteur | Taper | SDD de grande surface, surface effective de 150 mm² |
Autre configuration | Roue d'échantillons | Roue d'échantillonnage 18 bits, tests automatisés continus multi-échantillons |
pool d'échantillons in situ | Électrocatalyse, température variable, autres conditions multi-champs, conditions mécaniques en cellule in situ | |
Cristal analytique | Monochromateur à cristal d'analyse personnalisé pour éléments spéciaux | |
Avantage principal :
1. Produits à flux lumineux le plus élevé
Le flux de photons est supérieur à 1 000 000 photons/s/eV et l'efficacité d'acquisition spectrale est plusieurs fois supérieure à celle d'autres produits ; obtenez la même qualité de données qu'avec un rayonnement synchrotron.jeation.
2. Excellente stabilité
La stabilité de l'intensité lumineuse monochromatique de la source lumineuse est meilleure que 0,1 %, et la dérive énergétique d'acquisition répétée est < 50 meV.
limite de détection de 3,1 %
Un flux lumineux élevé, une excellente optimisation du chemin optique et une excellente stabilité de la source lumineuse garantissent des données EXAFS de haute qualité avec une teneur en éléments mesurée inférieure à 1 %.
Principe de l'instrument
La structure fine d'absorption des rayons X (XAFS) est un outil puissant pour étudier la structure atomique ou électronique locale des matériaux, largement utilisé dans la catalyse, l'énergie, les nanotechnologies et d'autres domaines porteurs.
Le monochromateur de laboratoire XES teste les structures géométriques
Données Mn, données XAFS du seuil K du Mn, données compatibles avec une source de rayonnement synchrotron
Données spectrales d'émission de l'échantillon Fe Kβ : XES cœur-cœur et XES valence-cœur
Données de test
Données EXAFS de la feuille
Éléments mesurables : la partie verte permet de mesurer le côté K, la partie jaune permet de mesurer le côté L.
Domaines d'application : catalyse industrielle, matériaux de stockage d'énergie, nanomatériaux, toxicologie environnementale, analyse de la qualité, analyse des éléments lourds, etc.
