Le spectromètre XAFS atteint une qualité de données de niveau synchrotron avec un flux > 4M photons/s/eV,<0.1% stability, and a 1% detection limit. It empowers research across energy, catalysis, and materials science.
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1. La spectroscopie XAFS est un outil puissant pour étudier la structure atomique ou électronique locale des matériaux. 2. Domaines d'application de la spectroscopie d'absorption des rayons X (XAFS) : catalyse industrielle, nanomatériaux, analyse de la qualité, analyse des éléments lourds, etc. 3.Avantages du produit XAFS : Résolution ultra-élevée (jusqu’à 0,5 eV), motif de fluorescence (faible contenu, base arrière élevée), flux lumineux ultra-élevé, limites de détection ultra-basses (jusqu’à 0,3-0,5 %, 10.1039/D2CC05081A)
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