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1. L'appareil à rayons X est facile à utiliser et rapide à détecter. 2. L'appareil à rayons X est précis et fiable, avec d'excellentes performances. 3. L'appareil à rayons X possède divers accessoires fonctionnels pour répondre aux besoins des différents objectifs de test.

Le logiciel chinois de mesure et d'analyse des contraintes résiduelles prend en charge les méthodes d'ajustement linéaire et elliptique. Il utilise des équations de contrainte complètes sans supposer une contrainte de cisaillement nulle, ainsi que la méthode d'ajustement elliptique, permettant la mesure simultanée des contraintes normales et de cisaillement. Chaque mesure utilise plus de 9 angles ψ. L'ajustement du profil de pic inclut des fonctions gaussiennes, lorentziennes, Pearson VII, paraboliques, etc. Les résultats de mesure affichent simultanément les valeurs de contrainte normale et de contrainte de cisaillement, ainsi que des informations telles que l'intensité du pic, la largeur intégrale et la largeur à mi-hauteur (FWHM).

Analyseur de contraintes résiduelles TD-RSD XRD Précision de ±7 MPa, innovation à double détecteur, fonctionnement entièrement automatisé et logiciel performant. Optimisez vos processus et améliorez la fiabilité de vos produits. Solution compacte, efficace et de pointe.

1. La table d'échantillons est équipée d'un rail porteur pouvant supporter jusqu'à 1 kg et d'un diamètre de 6 pouces (jusqu'à 8 pouces). 2. Un dispositif à ventouse est installé sur la table d'échantillonnage. 3. Application : Détermination précise et rapide de l'angle de coupe des monocristaux naturels et artificiels.

L'analyseur de contraintes résiduelles portable à rayons X est un appareil de contrôle non destructif basé sur la technologie de diffraction des rayons X. Il est principalement utilisé pour mesurer la distribution des contraintes résiduelles en surface et en subsurface dans des matériaux tels que les métaux et les plastiques, alliant haute précision et adaptabilité au terrain.

Système de contrôle PLC ; conception modulaire, utilisation facile et performances plus stables de l’équipement Conception légère : Légère, adaptée aux mesures rapides sur site ; Mesure de haute précision : commande d’un système servo à entraînement vectoriel en boucle fermée de haute précision ; Fonctionnement simple : système Windows intégré ou fonctions d’automatisation, prise en charge des tests en un clic et affichage des résultats en temps réel ; Compatibilité multifonctionnelle : Mesure de l'acier au carbone, de l'acier allié, de l'alliage de titane et d'autres métaux, du verre, des matériaux à base de nickel et de divers matériaux composites ; Optimisation de la vitesse : Le détecteur à réseau linéaire microruban en silicium multicanal offre des performances sans bruit, une mesure haute intensité et une acquisition de données rapide.

1. La spectroscopie XAFS est un outil puissant pour étudier la structure atomique ou électronique locale des matériaux. 2. Domaines d'application de la spectroscopie d'absorption des rayons X (XAFS) : catalyse industrielle, nanomatériaux, analyse de la qualité, analyse des éléments lourds, etc. 3.Avantages du produit XAFS : Résolution ultra-élevée (jusqu’à 0,5 eV), motif de fluorescence (faible contenu, base arrière élevée), flux lumineux ultra-élevé, limites de détection ultra-basses (jusqu’à 0,3-0,5 %, 10.1039/D2CC05081A)