Tongda propose des solutions de diffraction des rayons X assorties de services personnalisés. Ses installations de pointe et ses technologies clés confèrent à ses produits une qualité quasi-internationale. Utilisés dans de nombreux domaines, ses produits bénéficient d'une amélioration continue grâce à une équipe de R&D de 30 personnes.
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La diffraction des rayons X (DRX) est largement utilisée en science des matériaux, en chimie, en biologie et en géologie. Elle permet l'étude des structures cristallines, des changements de phase, l'analyse chimique, les structures protéiques, la composition minérale, les polymorphes de médicaments, l'archéologie et le contrôle qualité industriel. La DRX est une technique non destructive, de haute précision et rapide, avec une résolution toujours plus élevée pour les études dynamiques in situ.
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Le diffractomètre à rayons X fonctionne selon la loi de Bragg (2d sinθ = nλ). En balayant l'angle θ et en enregistrant les pics de diffraction, il révèle la structure cristalline, les paramètres de maille, la taille des grains, les contraintes résiduelles, la composition de phase, etc. C'est un outil essentiel pour l'analyse des matériaux.
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L'étalonnage XRD (longueur d'onde, détecteur, point zéro) et l'analyse des données (ajustement des pics, équation de Scherrer, Williamson-Hall) sont essentiels pour une détermination précise de la structure cristalline, l'identification des phases et la caractérisation microstructurale en science des matériaux.
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Les diffractomètres de poudre permettent une analyse rapide et non destructive de la structure cristalline par diffusion des rayons X. Ils optimisent les alliages, les matériaux pour batteries et les formulations pharmaceutiques. L'automatisation et les algorithmes en constante évolution améliorent la précision et stimulent l'innovation dans le domaine des matériaux.
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Les spectromètres d'absorption des rayons X mesurent le coefficient d'absorption en fonction de l'énergie des photons pour révéler la structure atomique et électronique locale. La spectroscopie XANES renseigne sur la valence et la coordination ; la spectroscopie EXAFS extrait les longueurs de liaison et les nombres de coordination. Tendances : synchrotrons de 4e génération et avancées majeures sur des appareils de laboratoire. Applications : catalyse, batteries, environnement, biomédecine. Méthode non destructive, spécifique à l'élément, limite de détection de 0,5 % en poids.
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L'utilisation d'un diffractomètre de rayons X nécessite d'évaluer ses performances, la compatibilité avec les échantillons, sa facilité d'utilisation, sa fiabilité, son coût, sa sécurité, la formation et le support technique. Il convient également d'évaluer l'espace disponible au laboratoire, les équipements, les possibilités d'évolution, les marques disponibles et l'installation par un professionnel.
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Les diffractomètres à rayons X 2D sont confrontés à des problèmes tels que la préparation inégale des échantillons, les erreurs d'étalonnage, une configuration incorrecte, un traitement inexact des données, le manque d'entretien, les fluctuations environnementales et les défis logiciels, autant d'éléments qui affectent la précision et la fiabilité des résultats.
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Les performances d'un diffractomètre de paillasse dépendent de la résolution de l'instrument (FWHM).<0.04°2θ), goniometer linearity (±0.02°2θ), and low-angle ability. Sample form, size, and quantity matter. Voltage, current, scan speed/range, and method are key settings. Cooling, lab environment, and maintenance ensure stability and accuracy.
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