Leéchantillon rotatifhplus vieuxdans unDiffractomètre à rayons Xest un composant clé utilisé pour le réglage et la fixation précis de la position de l'échantillon,L'échantillon peut pivoter sur son propre plan, ce qui est avantageux pour les erreurs dues aux grains grossiers. Pour les échantillons texturés et cristallins,échantillon rotatif hplus vieuxassure une bonne reproductibilité de l'intensité de diffraction et élimine l'orientation préférée.

Principe de fonctionnement deéchantillon rotatif hplus vieux:

Quand leDiffractomètre à rayons XEn fonctionnement, les rayons X de haute énergie générés par la source sont irradiés sur l'échantillon fixé sur la platine rotative. En raison de la structure cristalline et des paramètres de maille spécifiques de l'échantillon, les rayons X subissent des phénomènes de diffusion, d'absorption et de diffraction lors de leur interaction avec l'échantillon, phénomènes qui se produisent conformément à l'équation de Bragg.

Leéchantillon rotatif hplus vieuxIl peut pivoter à des angles plus petits selon le réglage, permettant à l'échantillon de recevoir des rayons X sous différents angles, obtenant ainsi des diagrammes de diffraction sous différents angles. De cette façon, le détecteur peut mesurer l'intensité des rayons X après diffraction de l'échantillon et la convertir en signal électrique transmis à l'ordinateur pour le traitement des données.

La fonction principale duéchantillon rotatif hplus vieuxest:

Méthode de rotation : axe β (plan d'échantillonnage)

Vitesse de rotation : 1 à 60 tr/min

Petite largeur de pas : 0,1 º

Mode de fonctionnement : Rotation à vitesse constante pour le balayage des échantillons (étape, continu)

Avantages deéchantillon rotatif hplus vieux:

Èmeet échantillon rotatif hplus vieux Amélioration de la précision des données de diffraction : pour les échantillons présentant des formes irrégulières de poudre ou de particules, la caractéristique d'orientation préférentielle est susceptible de se produire lors de la préparation conventionnelle des échantillons de poudre, ce qui entraîne des écarts dans la distribution de l'intensité de diffraction et affecte la précision de l'analyse des résultats. La rotation de la platine porte-échantillon permet de déplacer l'échantillon dans une certaine forme et un espace approprié, éliminant ainsi dans une certaine mesure l'influence de l'orientation préférentielle et améliorant ainsi la précision des données de diffraction.

Leéchantillon rotatif hplus vieux S'adapte à divers besoins de test : il s'adapte à différents types d'instruments de mesure d'angle par diffraction des rayons X, tels que les instruments de mesure d'angle vertical, les équipements de diffraction de poudre compacts à faible consommation, etc., offrant ainsi une commodité pour différents besoins de test. échantillon rotatif hplus vieux peut répondre aux exigences de divers échantillons et conditions de test en ajustant des paramètres tels que la vitesse et la direction.

Leéchantillon rotatif hplus vieux peut étendre les capacités analytiques de l'instrument : de nouveaux types de platines d'échantillons rotatives sont constamment développés et appliqués, tels que certaines platines d'échantillons pour l'analyse électrochimique par diffraction des rayons X in situ, qui peuvent surveiller et analyser les changements de matériaux dans différents environnements ou conditions en temps réel, élargissant ainsi les capacités d'analyse des équipements de diffraction des rayons X.

En résumé, leéchantillon rotatif hplus vieuxdansDiffractomètre à rayons Xest crucial pour obtenir avec précision des informations sur la structure cristalline des substances.le échantillon rotatif hplus vieuxpeut non seulement améliorer la précision des données de diffraction, mais également s'adapter à divers besoins de test et étendre les capacités analytiques de l'instrument.