Diffractomètre à rayons X de table

Avantages du diffractomètre à rayons X TDM-10 :

• L'association parfaite du système matériel et du système logiciel de l'équipement de diffraction des rayons X sur poudre répond aux besoins des chercheurs et des universitaires dans différents domaines d'application.

• L'équipement de diffraction des rayons X sur poudre est doté d'un système de mesure d'angle de diffraction de haute précision permettant d'obtenir des résultats de mesure plus précis.

• Système de contrôle du générateur de rayons X à haute stabilité, pour une précision de mesure répétitive plus stable.

• Divers accessoires fonctionnels pour appareils de diffraction des rayons X sur poudre répondent aux besoins de différents objectifs de test.

• Le diffractomètre à rayons X TDM-10 possède un fonctionnement programmé et une conception structurelle intégrée, ce qui le rend facile à utiliser et plus esthétique.

Objectif et principe du diffractomètre à rayons X TDM-10 :

Le diffractomètre de rayons X est principalement utilisé pour la détermination des phases, l'analyse quantitative, l'analyse de la structure cristalline et de la structure des matériaux, l'analyse de l'orientation cristalline, la mesure des contraintes macroscopiques et microscopiques dans des échantillons de poudres, de solides, de pâtes ou de films minces. Il permet également la mesure de la taille des particules et de la cristallinité. Basé sur le principe géométrique de Debye-Xiele, il fournit des résultats de haute précision. Cet instrument est largement utilisé dans les laboratoires de géologie, de biologie marine, de chimie, dans les centrales nucléaires, les laboratoires de contrôle industriel et les établissements d'enseignement supérieur.

Principe de base d'un appareil de diffraction des rayons X :

Un faisceau de rayons X monochromatiques est incident sur un petit nombre de microcristaux d'orientation totalement aléatoire, de taille comprise entre 1 et 10 μm environ. Afin de réduire les orientations préférentielles, les échantillons polycristallins sont généralement mis en rotation. En supposant l'existence d'une facette (hkl) dans le cristal satisfaisant la condition de réflexion de Bragg, le rayon incident forme un angle θ avec la surface réticulaire (hkl), et l'angle entre le rayon réfléchi et le rayon incident est de 2θ. L'orientation du microcristal étant arbitraire, les lignes de diffraction de chaque groupe de plans (hkl) forment une surface conique, et l'angle d'incidence correspond à 4θ pour la lumière incidente. Pour le groupe de plans cristallins satisfaisant la condition de réflexion de Bragg, l'espacement interréticulaire est supérieur à λ/2 (c'est-à-dire sinθ < 1), et le cône de diffraction correspondant est obtenu. Toutes les méthodes expérimentales des équipements de diffraction des rayons X sur poudre comprennent la source de rayons X et le dispositif expérimental permettant d'enregistrer correctement les raies de diffraction du cristal, conformément à la loi de Bragg.

À propos de nous

Cette entreprise est une entreprise nationale de haute technologie, une entreprise à double vocation (industrielle et industrielle) de la province du Liaoning, certifiée ISO et titulaire de nombreux brevets d'invention et de modèles d'utilité. Elle bénéficie du soutien du gouvernement provincial du Liaoning et du gouvernement municipal de Dandong et s'est dotée, le 15 mai 2013, d'un poste de travail d'experts académiciens. Spécialisée dans la fabrication d'instruments d'analyse par rayons X et d'instruments de contrôle non destructif, elle a été mandatée en 2013 par le ministère national des Sciences et des Technologies pour le développement des grands instruments et équipements scientifiques.