Analyseur de contraintes résiduelles par diffraction des rayons X

Précision et stabilité de mesure exceptionnelles

L'analyseur de contraintes résiduelles par diffraction des rayons X TD-RSD utilise un générateur de rayons X haute puissance de 3 kW associé à un détecteur de surface à comptage de photons de pointe, garantissant une acquisition de données fiable même dans des conditions de travail complexes. Cet instrument présente des performances exceptionnelles lors des essais sur poudre de fer sans contrainte, où l'écart type de contrainte sur cinq mesures consécutives est rigoureusement contrôlé à ±7 MPa, une performance de référence conforme aux normes internationales les plus exigeantes.

Conception innovante de la géométrie de diffraction

Doté d'un système unique à double détecteur, l'instrument prend en charge :

Mode symétrique ψ (Psi) à double détecteur : Optimise les flux de travail conventionnels de mesure des contraintes.

Méthode à double détecteur et inclinaison latérale : Permet de traiter des échantillons aux géométries complexes.

Technique d'oscillation : Améliore considérablement la précision des mesures d'intensité de diffraction.

Cette conception multimode permet à l'analyseur de contraintes résiduelles par diffraction des rayons X TD-RSD de s'adapter à divers scénarios d'application, des tests de laboratoire de routine aux environnements industriels complexes.

Structure mécanique de précision et système de contrôle intelligent

Plateforme de contrôle de mouvement de précision

Au cœur de l'instrument se trouve un mécanisme de réglage de la verticalité du faisceau de rayons X, conçu avec une grande précision, garantissant ainsi une relation géométrique idéale entre le faisceau et la surface de l'échantillon. Associé à un système goniométrique entièrement automatisé et piloté par ordinateur, il permet aux utilisateurs de passer facilement des méthodes symétriques aux méthodes à inclinaison latérale, tout en intégrant l'oscillation, pour des modes de mesure d'une grande flexibilité.

Système intelligent de positionnement des échantillons

Système de mise au point manuelle/automatique : Caractéristiques : positionnement laser de haute précision.

Platine d'échantillonnage à trois axes : capable de générer des cartes de contours de contrainte et de calculer l'amplitude et la direction de la contrainte principale.

Interface de commande visuelle : permet la surveillance en temps réel de la position de l’échantillon et de l’état de la mesure.

Spécifications des composants principaux

Tube à rayons X haute performance

L'analyseur utilise un tube à rayons X en céramique à foyer fin doté d'un système de refroidissement intégré et étanche à circulation automatique, garantissant ainsi un fonctionnement continu 24 h/24 et 7 j/7. Une protection automatique intégrée contre la surchauffe assure une sécurité renforcée. Une large gamme de matériaux cibles, notamment le chrome (Cr), le cuivre (Cu), le manganèse (Mn), le cobalt (Co), le vanadium (V), le titane (Ti), le fer (Fe) et le molybdène (Mo), est disponible pour répondre aux besoins d'analyse de divers matériaux.

Système de détection avancé

Doté de deux détecteurs de photons à comptage de surface haute vitesse disposés symétriquement, le système affiche un taux de comptage global supérieur à 1 × 10⁹ cps, s'affranchissant ainsi des problèmes de saturation technique courants avec les détecteurs traditionnels. Sa conception symétrique optimise l'agencement spatial et garantit l'efficacité et la précision des mesures, tout en offrant un format compact, une réponse rapide et une sensibilité extrêmement élevée.

Puissantes fonctionnalités logicielles d'analyse

Le logiciel d'analyse dédié intégré à l'analyseur de contraintes résiduelles par diffraction des rayons X TD-RSD comprend un module complet d'analyse des contraintes 3D, prenant en charge :

Algorithmes d'ajustement d'ellipses et d'ajustement de profils linéaires

Résolution précise des états de contrainte complexes

Cartographie automatique des contours de contrainte

Calcul de l'amplitude et de la direction de la contrainte principale

Visualisation de données multidimensionnelles

Le logiciel présente une interface intuitive et conviviale tout en offrant des capacités de traitement des données robustes, gérant sans effort même les tâches d'analyse de contraintes les plus complexes.

Valeur client significative

En fournissant des données précises et fiables sur les contraintes résiduelles, l'analyseur de contraintes résiduelles par diffraction des rayons X TD-RSD aide les clients :

Optimiser les paramètres du processus de fabrication

Améliorer la fiabilité et la durée de vie du produit

Réduire les risques de défaillance des produits

Accélérer les cycles de développement de nouveaux produits

Résumé des paramètres techniques

Dimensions hors tout : 1300 × 1200 × 1880 mm (conception compacte permettant un gain de place en laboratoire)

Configuration de puissance : 3 kW (équilibre entre performance et efficacité énergétique)

Précision de mesure : ±7 MPa (niveau de référence du secteur)

Configuration du détecteur : détecteurs à double zone de comptage de photons

Système de contrôle : Fonctionnement entièrement automatisé et contrôlé par ordinateur

Grâce à ses performances techniques exceptionnelles, son assurance qualité fiable et son service après-vente complet, l'analyseur de contraintes résiduelles par diffraction des rayons X TD-RSD s'impose comme l'équipement de référence dans le domaine de l'analyse des matériaux à l'échelle mondiale. Que vous soyez engagé dans la recherche scientifique de pointe ou axé sur le contrôle qualité industriel, le TD-RSD vous offre les solutions les plus performantes.

Pour en savoir plus sur le produit ou programmer une démonstration, veuillez contacter l'équipe technique professionnelle de Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd.