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Analyseur de contraintes résiduelles à rayons X TD-RSD

Le logiciel de mesure et d'analyse des contraintes résiduelles (version chinoise) prend en charge les méthodes d'ajustement linéaire et elliptique. Il utilise des équations de contrainte complètes sans supposer une contrainte de cisaillement nulle, ainsi que la méthode d'ajustement elliptique, permettant la mesure simultanée des valeurs de contrainte normale et de contrainte de cisaillement. Chaque mesure utilise plus de 9 angles ψ. L'ajustement du profil de pic inclut les approches gaussienne, lorentzienne, Pearson VII, parabolique, etc. Les résultats de mesure peuvent afficher simultanément les valeurs de contrainte normale et de contrainte de cisaillement, ainsi que des informations telles que l'intensité du pic, la largeur intégrale et la largeur à mi-hauteur (FWHM).

  • Tongda
  • Liaoning, Chine
  • 1 à 2 mois
  • 100 unités par an
  • information

Caractéristiques et performances

›› Générateur haute tension de 2 kW
Permet une mesure rapide et précise des matériaux présentant de faibles pics de diffraction, tels que les alliages à base de nickel et les alliages de titane.

›› Refroidissement par eau en circulation externe
Permet un fonctionnement continu prolongé, adapté aux tâches telles que la cartographie automatique des contours de contrainte.

›› Diamètre du collimateur à partir de 0,1 mm
Capable d'effectuer des mesures sur micro-zone.

›› Mesure à grande vitesse
2 à 4 minutes par point de mesure (pour l'acier).

›› Rails de guidage de qualité machine-outil

›› Applicable à la mesure des contraintes résiduelles dans les composants métalliques et à l'analyse de l'austénite retenue

›› Produit conforme aux normes d'analyse des contraintes résiduelles ASTM E915-21, EN 15305-2008 et GB/T 7704-2017.

›› Couvercle de protection en verre au plomb entièrement fermé avec verrouillage de sécuritéDimensions personnalisables. Conforme aux exigences fondamentales de la norme GB/T 18871-2002 en matière de radioprotection et de sécurité radiologique.

Logiciel convivial
Le logiciel de mesure et d'analyse des contraintes résiduelles (version chinoise) prend en charge les méthodes d'ajustement linéaire et elliptique. Il utilise des équations de contrainte complètes sans supposer une contrainte de cisaillement nulle, ainsi que la méthode d'ajustement elliptique, permettant la mesure simultanée des valeurs de contrainte normale et de contrainte de cisaillement. Chaque mesure utilise plus de 9 angles ψ. L'ajustement du profil de pic inclut les approches gaussienne, lorentzienne, Pearson VII, parabolique, etc. Les résultats de mesure peuvent afficher simultanément les valeurs de contrainte normale et de contrainte de cisaillement, ainsi que des informations telles que l'intensité du pic, la largeur intégrale et la largeur à mi-hauteur (FWHM).


Goniomètre et accessoires :

  • Système entièrement automatisé contrôlé par ordinateur, compatible avec les méthodes inclinées et latérales, avec capacité de basculement simultané.

  • Plage de mesure d'angle 2θ : 105°–170° ; plage d'angle ψ : -57° à +57° ; plage d'angle de bascule ψ : 0 à ±8° (configurable).

  • Précision et répétabilité de la mesure des contraintes (en utilisant de la poudre de fer sans contrainte) : l'écart type des valeurs de contrainte de 5 mesures consécutives est inférieur à ± 5 MPa.

  • Plage de déplacement de l'axe Z ≥ 500 mm, adaptée aux mesures en laboratoire de grandes pièces.

  • Le capteur de déplacement laser indique la position de mesure sur la pièce et détermine la hauteur du plan de diffraction, permettant un positionnement rapide.

TD-RSD X-ray Residual Stress Analyzer

Platine d'échantillonnage triaxiale :

  • Effectue automatiquement la cartographie des contraintes, mesure les contraintes principales et leurs directions et réalise la mesure de la teneur en austénite avec une seule exposition.

  • Plage de rotation de la platine d'échantillonnage : 0 à ±180°.

  • Equipé de plates-formes de cartographie manuelles/automatiques X/Y (300 mm × 200 mm).

x-ray diffractometer

Détecteur:
Détecteur de comptage de photons à matrice surfacique haute vitesse utilisant la technologie des bandes de silicium pour la détection directe des rayons X. Il est doté d'une matrice de 640 canaux à bande de silicium avec un taux de comptage global de 1 × 10⁹ cps, éliminant ainsi la saturation de comptage. Installation symétrique, format compact, haute vitesse et haute sensibilité.

Residual Stress Analyzer

Tube à rayons X :
Tube à rayons X en céramique à focalisation fine avec système de refroidissement à circulation automatique intégré et étanche, permettant un fonctionnement continu des rayons X 24h/24 et 7j/7. Équipé d'une protection automatique contre la surchauffe. Plusieurs matériaux cibles disponibles : Cr, Cu, Mn, Co, V, Ti, Fe et Mo.

TD-RSD X-ray Residual Stress Analyzer



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