La diffraction des rayons X traverse chaque étape du contrôle qualité des médicaments, comme l’étude des matières premières et des préparations.

Les contraintes résiduelles ont un impact important sur la stabilité dimensionnelle, la résistance à la corrosion sous contrainte, la résistance à la fatigue, le changement de phase et d'autres propriétés des matériaux et composants. Sa mesure a été largement préoccupée par le monde universitaire et l’industrie.

Récemment, une nouvelle étude a réussi à fusionner des oxydes métalliques avec de la zéolite A et a révélé le mystère de ce processus grâce aux technologies XRD et FTIR.

DRX, est l'abréviation de diffraction des rayons X, en tant que personne matérielle, quel que soit le matériau fabriqué, la DRX est le moyen de caractérisation le plus couramment utilisé et le plus basique.

Lorsqu'un faisceau de rayons X extrêmement fin traverse un matériau avec une densité électronique inégale de taille nanométrique, les rayons X se propagent dans une petite région angulaire proche de la direction du faisceau d'origine, ce phénomène est appelé petit angle X. -diffusion des rayons.

La diffusion des rayons X aux petits angles est la diffusion diffuse des électrons vers les rayons X dans la plage des petits angles près du faisceau d'origine. La diffusion aux petits angles se produit dans tous les matériaux présentant une densité électronique non uniforme à l’échelle nanométrique.

La diffraction des rayons X aux petits angles (SAXD) est principalement utilisée pour déterminer l'espacement de très grandes faces cristallines ou la structure de films minces.

Utilisation des rayons X pour étudier la structure des cristaux principalement grâce au phénomène de diffraction des rayons X dans le cristal.

La technique de diffraction des rayons X est une méthode analytique utilisée pour étudier la structure d'une substance. Il détermine la structure d'un cristal en mesurant l'angle de diffraction des rayons X dans le cristal.

La XRD in situ, également connue sous le nom de diffraction des rayons X in situ, est une technique permettant d'effectuer des mesures de diffraction des rayons X lors d'une structure ou d'une transition de phase. Cette technologie permet de surveiller en temps réel le changement dynamique de la structure du matériau sous l’effet d’une force externe.

La XRD in situ est l'une des techniques de caractérisation avancées les plus populaires et les plus développées pour l'étude des systèmes de batteries lithium-ion et sodium-ion dans les processus électrochimiques.