Dans cet article, nous analysons brièvement un (en fait deux) défauts cristallins, un défaut et un défaut de couche dans ces trois structures cristallines. D'autres structures cristallines présentent également des défauts et des défauts de couche.

L'espace tridimensionnel des atomes est disposé dans un ordre à longue portée, et la plus petite unité d'arrangement répété est appelée cellule, qui peut être divisée en 7 types de systèmes cristallins, 14 types de réseaux et 230 types de groupes spatiaux. selon la loi des arrangements.

Le diffractomètre à rayons X monocristallin Dandong Tongda TD-5000 a remporté le « Prix ACCSI2023 Instrument and Detection 3i - Prix annuel 2022 du nouveau produit exceptionnel de l'industrie des instruments scientifiques ».

Les cristaux, bien que longtemps admirés pour leur régularité et leur symétrie, n’ont été étudiés scientifiquement qu’au XVIIe siècle. Jetons un coup d'œil aux débuts de l'histoire de la cristallographie.

La technologie de diffraction des rayons X est largement utilisée dans la recherche sur les batteries lithium-ion. La DRX est une méthode conventionnelle d'analyse qualitative et quantitative des phases dans les matériaux.

La Fête de la Mi-Automne, la fête du festival ! Dandong Tongda Technology Co., Ltd. pour que tous les employés offrent des avantages pour la Fête de la Mi-Automne !

Le diffractomètre à rayons X (DRX) mondial s’est développé régulièrement ces dernières années et la Chine est un marché offrant de grandes perspectives de développement.

L’application de nouvelles technologies et de nouveaux produits tels que la 5G, le big data et l’intelligence artificielle entraînera une énorme demande sur le marché des semi-conducteurs, et les dépenses mondiales en équipements semi-conducteurs sont entrées dans un cycle ascendant.

Ces dernières années, la mesure d’échantillons biologiques à haute pression a suscité un intérêt croissant. Cela se traduit par le développement de nouvelles techniques de mesure de pression différentes de celles mises en œuvre par DAC. L’une d’elles est la technique de congélation des cristaux sous pression.

La XRD haute résolution (HR-XRD) est une méthode courante pour mesurer la composition et l'épaisseur de semi-conducteurs composés tels que SiGe, AlGaAs, InGaAs, etc.