Ces dernières années, la mesure d’échantillons biologiques à haute pression a suscité un intérêt croissant. Cela se traduit par le développement de nouvelles techniques de mesure de pression différentes de celles mises en œuvre par DAC. L’une d’elles est la technique de congélation des cristaux sous pression.

La XRD haute résolution (HR-XRD) est une méthode courante pour mesurer la composition et l'épaisseur de semi-conducteurs composés tels que SiGe, AlGaAs, InGaAs, etc.

Le diffractomètre à rayons X (XRD) peut être divisé en diffractomètre à poudre à rayons X et diffractomètre monocristallin à rayons X, le principe physique de base des deux est le même.

XRD est un moyen de recherche qui est la diffraction par diffraction des rayons X d'un matériau pour analyser son diagramme de diffraction afin d'obtenir des informations telles que la composition du matériau, la structure ou la forme des atomes ou des molécules à l'intérieur du matériau.

La diffraction des rayons X à incidence rasante (GI-XRD) est une sorte de technique de diffraction des rayons X, qui diffère de l'expérience XRD traditionnelle, principalement en modifiant l'angle d'incidence des rayons X et l'orientation de l'échantillon.

Il est nécessaire de réduire les contraintes résiduelles nocives et de prédire la tendance de distribution et la valeur des contraintes résiduelles. Dans cet article, la méthode de contrôle non destructif des tests de contraintes résiduelles est présentée.

La diffraction des rayons X (DRX) est actuellement une méthode puissante pour étudier la structure cristalline (telle que le type et la répartition géographique des atomes ou des ions et de leurs groupes, la forme et la taille des cellules, etc.).

La cristallographie aux rayons X est une technique utilisée pour déterminer la structure atomique et moléculaire d'un cristal, où la structure cristalline provoque la diffraction du faisceau de rayons X incident dans de nombreuses directions spécifiques.

Basée sur la loi de Bragg, la diffraction des rayons X (DRX) in situ peut être utilisée pour surveiller le changement de phase et ses paramètres de réseau dans l'électrode ou l'interface électrode-électrolyte en temps réel pendant le cycle de charge-décharge d'un batterie.

Trois détecteurs à point unique sont partagés ci-dessous : un compteur proportionnel, un compteur à scintillation et un détecteur à semi-conducteur à semi-conducteur.

Cette procédure est une procédure auto-développée. Il contient une variété de fonctions d'analyse quantitative développées par nous-mêmes, qui sont conformes à la théorie de la diffraction et sont calculées par intensité intégrale.