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Le diffractomètre à rayons X monocristallin Dandong Tongda TD-5000 a remporté le « Prix ACCSI2023 Instrument and Detection 3i - Prix annuel 2022 du nouveau produit exceptionnel de l'industrie des instruments scientifiques ».
Les cristaux, bien que longtemps admirés pour leur régularité et leur symétrie, n’ont été étudiés scientifiquement qu’au XVIIe siècle. Jetons un coup d'œil aux débuts de l'histoire de la cristallographie.
La technologie de diffraction des rayons X est largement utilisée dans la recherche sur les batteries lithium-ion. La DRX est une méthode conventionnelle d'analyse qualitative et quantitative des phases dans les matériaux.
La Fête de la Mi-Automne, la fête du festival ! Dandong Tongda Technology Co., Ltd. pour que tous les employés offrent des avantages pour la Fête de la Mi-Automne !
Le diffractomètre à rayons X (DRX) mondial s’est développé régulièrement ces dernières années et la Chine est un marché offrant de grandes perspectives de développement.
L’application de nouvelles technologies et de nouveaux produits tels que la 5G, le big data et l’intelligence artificielle entraînera une énorme demande sur le marché des semi-conducteurs, et les dépenses mondiales en équipements semi-conducteurs sont entrées dans un cycle ascendant.
Ces dernières années, la mesure d’échantillons biologiques à haute pression a suscité un intérêt croissant. Cela se traduit par le développement de nouvelles techniques de mesure de pression différentes de celles mises en œuvre par DAC. L’une d’elles est la technique de congélation des cristaux sous pression.
La XRD haute résolution (HR-XRD) est une méthode courante pour mesurer la composition et l'épaisseur de semi-conducteurs composés tels que SiGe, AlGaAs, InGaAs, etc.
Le diffractomètre à rayons X (XRD) peut être divisé en diffractomètre à poudre à rayons X et diffractomètre monocristallin à rayons X, le principe physique de base des deux est le même.
XRD est un moyen de recherche qui est la diffraction par diffraction des rayons X d'un matériau pour analyser son diagramme de diffraction afin d'obtenir des informations telles que la composition du matériau, la structure ou la forme des atomes ou des molécules à l'intérieur du matériau.
La diffraction des rayons X à incidence rasante (GI-XRD) est une sorte de technique de diffraction des rayons X, qui diffère de l'expérience XRD traditionnelle, principalement en modifiant l'angle d'incidence des rayons X et l'orientation de l'échantillon.
Il est nécessaire de réduire les contraintes résiduelles nocives et de prédire la tendance de distribution et la valeur des contraintes résiduelles. Dans cet article, la méthode de contrôle non destructif des tests de contraintes résiduelles est présentée.