L'accessoire de mesure de film optique parallèle est un outil spécialisé pour l'analyse par diffraction des rayons X, qui filtre les lignes plus dispersées en augmentant la longueur de la plaque de réseau, réduisant ainsi l'influence du signal du substrat sur les résultats et améliorant l'intensité du signal du film mince. Dans le domaine de la science des matériaux, l'accessoire de mesure de film optique parallèle est couramment utilisé pour étudier la structure cristalline, le comportement de transition de phase et l'état de contrainte des matériaux à film mince. Avec le développement de la nanotechnologie, l'accessoire de mesure de film optique parallèle a également été largement utilisé dans les tests d'épaisseur et l'analyse par diffraction à petit angle des films multicouches nanométriques. La conception et la fabrication de l'accessoire de mesure de film optique parallèle visent une haute précision pour répondre aux exigences de la recherche scientifique et de la production industrielle en matière de précision des données. Pendant l'utilisation, l'accessoire de mesure de film optique parallèle doit maintenir un degré élevé de stabilité pour garantir la fiabilité des résultats des tests. Avec l'avancement de la technologie et le développement de l'industrie, la demande d'instruments d'analyse de haute précision et de haute stabilité augmente constamment. Les accessoires de mesure de film optique parallèle, en tant que composant important, connaissent également une croissance soutenue de la demande du marché. Afin de répondre à la demande du marché et d'améliorer les performances des produits, la technologie des accessoires de mesure de film optique parallèle innove et s'améliore constamment. Par exemple, l'amélioration du matériau et de la conception des plaques de réseau, l'optimisation du système optique et d'autres moyens peuvent améliorer l'effet de filtrage et la capacité d'amélioration du signal. En résumé, les accessoires de mesure de film optique parallèle jouent un rôle crucial dans l'analyse par diffraction des rayons X. Avec l'avancement de la technologie et le développement de l'industrie, ses perspectives d'application s'élargiront encore.

Les accessoires de fibre sont testés pour leur structure cristalline unique à l'aide de la méthode de diffraction des rayons X (transmission). Testez l'orientation de l'échantillon en fonction de données telles que la cristallinité de la fibre et la largeur à mi-pic. Les accessoires en fibre ont une large gamme d'applications dans divers domaines, notamment la science des matériaux, la biomédecine, le génie chimique, la nanotechnologie, l'exploration géologique, la surveillance de l'environnement, etc.

L'utilisation d'un détecteur de pixels hybrides permet d'obtenir la meilleure qualité de données tout en garantissant une faible consommation d'énergie et un faible refroidissement. Ce détecteur combine les technologies clés du comptage de photons uniques et des pixels hybrides, et est appliqué dans divers domaines tels que le rayonnement synchrotron et les sources lumineuses de laboratoire conventionnelles, éliminant efficacement les interférences du bruit de lecture et du courant d'obscurité. La technologie des pixels hybrides peut détecter directement les rayons X, ce qui facilite la distinction des signaux, et le détecteur peut fournir efficacement des données de haute qualité.

Le diagramme de diffraction des rayons X constitue la base la plus fiable pour déterminer les diagrammes polycristallins, et le diagramme de diffraction des rayons X est souvent considéré comme « l’empreinte digitale » des diagrammes cristallins.

La structure cristalline des films de pérovskite modifiés par le liquide ionique (IL) BMIMAc sous différentes durées de recuit a été caractérisée par diffraction des rayons X.

La diffraction des rayons X est une technique de contrôle non destructif rapide, précise et efficace des matériaux. Comme moyen de caractériser la structure cristalline et sa règle de changement, il est largement utilisé dans de nombreux domaines tels que la biologie, la médecine, la céramique, etc.

Les propriétés des matériaux sont souvent déterminées par leur composition de phase, et la DRX est largement utilisée comme l'un des principaux moyens d'analyse de phase.

Le degré de graphitisation fait référence à la mesure dans laquelle la structure cristalline du matériau graphite ressemble au graphite parfait après réarrangement de la structure du carbone amorphe.

La diffraction des rayons X est une technique de base pour l’étude de la structure solide, qui peut fournir des informations spectrales uniques sur la composition chimique et la disposition structurelle des échantillons.