L'instrument de diffraction des rayons X de bureau TDM-10 est un instrument utilisé pour analyser la structure de phase des matériaux, qui peut être équipé de détecteurs à scintillation/proportionnels/à réseau linéaire. 1. Principe de fonctionnement de l'instrument de diffraction des rayons X de bureau TDM-10 : selon la loi de Bragg, lorsqu'un faisceau de rayons X monochromatique frappe un cristal, si la condition de diffraction de Bragg est satisfaite (n λ = 2 d sin θ, où λ est la longueur d'onde du rayon X, d l'espacement interplanaire et θ l'angle d'incidence), les atomes ou molécules du cristal se dispersent et interfèrent avec le rayon X, formant un motif de diffraction spécifique. La mesure de l'intensité de diffraction sous différents angles permet d'obtenir des informations structurelles du cristal. 2. Caractéristiques de l'instrumentation de diffraction des rayons X de bureau TDM-10 : La haute résolution d'un instrument de diffraction des rayons X de bureau permet une mesure précise de la structure cristalline des substances, ce qui est crucial pour étudier des mélanges complexes ou rechercher des phases polycristallines et traces à faible teneur. Analyse non destructive de l'instrumentation de diffraction des rayons X de bureau : pendant le processus de test, cela n'endommagera pas l'échantillon et l'échantillon peut rester dans son état d'origine pour des tests ou une utilisation supplémentaires. Le fonctionnement de l'équipement de diffraction des rayons X sur poudre de bureau est simple : les équipements de diffraction des rayons X sur poudre de bureau modernes disposent généralement de fonctions d'automatisation et d'intelligence, ce qui rend l'opération plus pratique et réduit les exigences en matière de connaissances et de compétences professionnelles de l'opérateur. La polyvalence de l'équipement de diffraction des rayons X sur poudre de bureau : l'équipement de diffraction des rayons X sur poudre peut effectuer diverses analyses telles que l'analyse qualitative et quantitative de phase, l'analyse de la constante de réseau, l'analyse des contraintes, etc. 3. Paramètres techniques de l'équipement de diffraction des rayons X sur poudre de bureau TDM-10 : La machine de diffraction des rayons X de bureau a un petit volume ; L'alimentation haute fréquence et haute tension réduit la consommation électrique globale de la machine ; Peut calibrer et tester rapidement des échantillons ; Contrôle de circuit simple, facile à déboguer et à installer ; La précision de mesure de la position du pic de diffraction est de 0,001 ° ; Détecteur : scintillation, proportionnel, réseau linéaire ; Plage de 2 θ : -10°~150° Puissance : 600 W ; Tension maximale : 40 kV ; Courant maximal : 15 mA ; Tubes à rayons X : tubes céramiques ondulés, tubes métallo-céramiques, tubes en verre. 4. Domaines d'application de la machine de diffraction des rayons X de bureau TDM-10 : Science des matériaux : utilisée pour étudier la structure cristalline, la composition des phases, la granulométrie, la cristallinité, etc. des métaux, des céramiques, des semi-conducteurs et d'autres matériaux, aidant les scientifiques des matériaux à comprendre les propriétés et les caractéristiques des matériaux. Dans le domaine de la chimie, la machine de diffraction des rayons X peut être utilisée dans l'industrie de fabrication de catalyseurs, de ciment, de produits pharmaceutiques et d'autres produits pour identifier les phases dans des échantillons inconnus, ainsi que pour analyser quantitativement les phases connues dans des échantillons mixtes. Géologie : Réalisation d'analyses de phase sur des minerais, des roches, etc. pour déterminer leur composition minérale et leur structure. Sciences de l’environnement : utilisées pour analyser la composition minérale et les formes de polluants dans des échantillons environnementaux tels que le sol et les sédiments. Industrie alimentaire : détection de composants cristallins, d'additifs, etc. dans les aliments. La machine de diffraction des rayons X de bureau TDM-10 est un instrument d'analyse puissant avec une valeur d'application importante dans de nombreux domaines.

Les accessoires en fibre sont testés pour leur structure cristalline unique à l'aide de la méthode de diffraction des rayons X (transmission). Testez l'orientation de l'échantillon en fonction de données telles que la texture de la fibre et la largeur à mi-pic.

Les accessoires de fibre sont testés pour leur structure cristalline unique à l'aide de la méthode de diffraction des rayons X (transmission). Testez l'orientation de l'échantillon en fonction de la cristallinité de la fibre et de la largeur à mi-pic des fibres. Ce type d'accessoire est généralement installé sur un diffractomètre grand angle et est principalement utilisé pour étudier la texture des films minces sur le substrat, effectuer la détection de phase cristalline, l'orientation, les tests de contrainte et d'autres tests.

L'accessoire de mesure de film optique parallèle est un outil spécialisé pour l'analyse par diffraction des rayons X, qui filtre les lignes plus dispersées en augmentant la longueur de la plaque de réseau, réduisant ainsi l'influence du signal du substrat sur les résultats et améliorant l'intensité du signal du film mince. Dans le domaine de la science des matériaux, l'accessoire de mesure de film optique parallèle est couramment utilisé pour étudier la structure cristalline, le comportement de transition de phase et l'état de contrainte des matériaux à film mince. Avec le développement de la nanotechnologie, l'accessoire de mesure de film optique parallèle a également été largement utilisé dans les tests d'épaisseur et l'analyse par diffraction à petit angle des films multicouches nanométriques. La conception et la fabrication de l'accessoire de mesure de film optique parallèle visent une haute précision pour répondre aux exigences de la recherche scientifique et de la production industrielle en matière de précision des données. Pendant l'utilisation, l'accessoire de mesure de film optique parallèle doit maintenir un degré élevé de stabilité pour garantir la fiabilité des résultats des tests. Avec l'avancement de la technologie et le développement de l'industrie, la demande d'instruments d'analyse de haute précision et de haute stabilité augmente constamment. Les accessoires de mesure de film optique parallèle, en tant que composant important, connaissent également une croissance soutenue de la demande du marché. Afin de répondre à la demande du marché et d'améliorer les performances des produits, la technologie des accessoires de mesure de film optique parallèle innove et s'améliore constamment. Par exemple, l'amélioration du matériau et de la conception des plaques de réseau, l'optimisation du système optique et d'autres moyens peuvent améliorer l'effet de filtrage et la capacité d'amélioration du signal. En résumé, les accessoires de mesure de film optique parallèle jouent un rôle crucial dans l'analyse par diffraction des rayons X. Avec l'avancement de la technologie et le développement de l'industrie, ses perspectives d'application s'élargiront encore.

Les accessoires de fibre sont testés pour leur structure cristalline unique à l'aide de la méthode de diffraction des rayons X (transmission). Testez l'orientation de l'échantillon en fonction de données telles que la cristallinité de la fibre et la largeur à mi-pic. Les accessoires en fibre ont une large gamme d'applications dans divers domaines, notamment la science des matériaux, la biomédecine, le génie chimique, la nanotechnologie, l'exploration géologique, la surveillance de l'environnement, etc.

L'utilisation d'un détecteur de pixels hybrides permet d'obtenir la meilleure qualité de données tout en garantissant une faible consommation d'énergie et un faible refroidissement. Ce détecteur combine les technologies clés du comptage de photons uniques et des pixels hybrides, et est appliqué dans divers domaines tels que le rayonnement synchrotron et les sources lumineuses de laboratoire conventionnelles, éliminant efficacement les interférences du bruit de lecture et du courant d'obscurité. La technologie des pixels hybrides peut détecter directement les rayons X, ce qui facilite la distinction des signaux, et le détecteur peut fournir efficacement des données de haute qualité.

Le diagramme de diffraction des rayons X constitue la base la plus fiable pour déterminer les diagrammes polycristallins, et le diagramme de diffraction des rayons X est souvent considéré comme « l’empreinte digitale » des diagrammes cristallins.

La structure cristalline des films de pérovskite modifiés par le liquide ionique (IL) BMIMAc sous différentes durées de recuit a été caractérisée par diffraction des rayons X.

La diffraction des rayons X est une technique de contrôle non destructif rapide, précise et efficace des matériaux. Comme moyen de caractériser la structure cristalline et sa règle de changement, il est largement utilisé dans de nombreux domaines tels que la biologie, la médecine, la céramique, etc.