Trois détecteurs à point unique sont partagés ci-dessous : un compteur proportionnel, un compteur à scintillation et un détecteur à semi-conducteur à semi-conducteur.

Diffraction des rayons X, à travers la diffraction des rayons X d'un matériau, l'analyse de son diagramme de diffraction, pour obtenir la composition du matériau, la structure ou la forme des atomes ou molécules à l'intérieur du matériau et d'autres moyens de recherche.

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La diffraction des rayons X est le moyen le plus efficace et le plus largement utilisé, et la diffraction des rayons X est la première méthode utilisée par l'homme pour étudier la microstructure de la matière.

Les rayons X sont un type de rayonnement électromagnétique à courte longueur d'onde, entre les rayons ultraviolets et gamma, qui a été développé par le physicien allemand WK. Il a été découvert par Roentgen en 1895, il est donc également appelé rayons Roentgen.

Lorsque la diffraction des rayons X est projetée dans un cristal sous forme d'onde électromagnétique, elle est diffusée par les atomes du cristal, et les ondes diffusées semblent émaner du centre des atomes, et les ondes diffusées émises depuis le centre de chaque atome sont similaires aux ondes sphériques source.

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La diffraction des rayons X (DRX) est une méthode majeure pour étudier la phase et la structure cristalline d'une substance. Lorsqu'une substance (cristalline ou non cristalline) est analysée par diffraction, la substance est irradiée par des rayons X pour produire différents degrés de phénomène de diffraction, la composition du matériau, le type de cristal, le mode de liaison intramoléculaire, la configuration moléculaire, la conformation et d'autres caractéristiques du matériau déterminent le diagramme de diffraction spécifique de la substance.