Par diffraction des rayons X du matériau et analyse de son diagramme de diffraction, des informations telles que la composition du matériau, la structure ou la morphologie des atomes ou molécules internes sont obtenues.

De nombreux matériaux par laminage, extrusion et autres processus de déformation, ou même s'ils ne sont pas déformés, les grains du polycristal présentent une répartition inégale plus ou moins statistique, cette structure organisationnelle est appelée texture.

Le précurseur du matériau ternaire est un composé peu coûteux de métal à valence variable, qui sera oxydé dans l'air, et plus la température de séchage est élevée, plus le degré d'oxydation est grave et le choix général du séchage sous atmosphère d'air.

Comme moyen de caractériser la structure cristalline et sa règle de changement, la DRX est largement utilisée dans de nombreux domaines tels que les matériaux, la chimie, la céramique, la métallurgie et les minéraux.

Les principaux indicateurs des matériaux polymères incluent le type de polymère ou sa cristallinité. Les polymères présentent également une microstructure différente, qui peut également affecter les propriétés mécaniques des matériaux polymères.

Un indicateur important de la DRX est la présence d’une très bonne source de lumière à rayons X. La soi-disant bonne source de lumière à rayons X fait généralement référence à une intensité élevée, un parallélisme élevé et une pureté élevée. Cet article présentera l'une des technologies de base du néo-confucianisme, la voie optique CBO.

La technologie de diffraction des rayons X est largement utilisée dans la recherche sur les batteries lithium-ion. La DRX est une méthode conventionnelle d'analyse qualitative et quantitative des phases dans les matériaux.

XRD peut mesurer des échantillons en vrac et en poudre et a des exigences différentes pour différentes tailles et propriétés d'échantillon.

Le diffractomètre à rayons X (DRX) mondial s’est développé régulièrement ces dernières années et la Chine est un marché offrant de grandes perspectives de développement.

Prenant comme exemple la mise à l'échelle des dépôts, cet article présente comment utiliser le diffractomètre à rayons X pour l'analyse qualitative et quantitative.

L’application de nouvelles technologies et de nouveaux produits tels que la 5G, le big data et l’intelligence artificielle entraînera une énorme demande sur le marché des semi-conducteurs, et les dépenses mondiales en équipements semi-conducteurs sont entrées dans un cycle ascendant.

La XRD haute résolution (HR-XRD) est une méthode courante pour mesurer la composition et l'épaisseur de semi-conducteurs composés tels que SiGe, AlGaAs, InGaAs, etc.