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Soutien professionnel, soins dévoués

Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. est un fabricant leader d'équipements d'analyse par rayons X et de contrôle non destructif. Entreprise nationale de haute technologie, nous proposons des produits de pointe tels que les diffractomètres à rayons X de la série TD et les changeurs d'échantillons automatisés. Notre approche centrée sur le client garantit un accompagnement complet avant, pendant et après la vente, incluant des conseils techniques, des formations professionnelles et une maintenance à vie. Nous fournissons des solutions complètes pour la science des matériaux, la production industrielle et la surveillance environnementale, soutenues par un service après-vente fiable. Contact : +86-415-6123805 / firefly@tongdatek.com

2025/11/14
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Créer une équipe dynamique grâce à une approche centrée sur l'humain : établir une référence en matière de culture d'entreprise

Tongda Tech attire les talents en créant un environnement de travail dynamique, à la fois convivial et stimulant. Grâce à ses installations de loisirs et à ses activités d'équipe, l'entreprise favorise la détente, la collaboration et l'innovation. Cet équilibre renforce la satisfaction, réduit le roulement du personnel et stimule la croissance collective.

2025/11/11
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Affinement de la structure de diffraction des rayons X sur poudre

La diffraction des rayons X est une méthode permettant d'étudier la phase et la structure cristalline d'une substance en utilisant le phénomène de diffraction des rayons X dans un cristal.

2024/05/20
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Inspection DRX de tranches et de tranches épitaxiales

La technique de diffraction des rayons X est souvent utilisée pour détecter la qualité cristalline des tranches et des tranches épitaxiales.

2024/05/15
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Détection XRD d'un cas de carbonate de calcium

La détection qualitative XRD est pratique, rapide et réduit les interférences. Avec l'innovation continue des moyens techniques, la technologie de diffraction des rayons X a des perspectives d'application plus larges dans le domaine de l'analyse des matériaux.

2024/04/29
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Principes et applications de la XRD

Diffraction des rayons X, à travers la diffraction des rayons X d'un matériau, l'analyse de son diagramme de diffraction, pour obtenir la composition du matériau, la structure ou la forme des atomes ou molécules à l'intérieur du matériau et d'autres moyens de recherche.

2024/04/05
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Application de la XRD in situ à la recherche cellulaire

Selon les changements de position et d'intensité des pics de diffraction XRD in situ, les intermédiaires générés au cours du cycle peuvent être déduits et le mécanisme de réaction peut être dérivé de ces intermédiaires.

2024/04/01
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DRX et FTIR

Récemment, une nouvelle étude a réussi à fusionner des oxydes métalliques avec de la zéolite A et a révélé le mystère de ce processus grâce aux technologies XRD et FTIR.

2024/03/25
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XRD vous emmène dans le magnifique monde du cristal

DRX, est l'abréviation de diffraction des rayons X, en tant que personne matérielle, quel que soit le matériau fabriqué, la DRX est le moyen de caractérisation le plus couramment utilisé et le plus basique.

2024/03/22
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Application XRD in situ

La XRD in situ est l'une des techniques de caractérisation avancées les plus populaires et les plus développées pour l'étude des systèmes de batteries lithium-ion et sodium-ion dans les processus électrochimiques.

2024/02/28
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Application de la technologie XRD aux matériaux céramiques

La technologie XRD joue un rôle important dans la recherche et le développement de matériaux céramiques. Il fournit une base scientifique fiable pour la synthèse, l’optimisation des processus de préparation, l’amélioration des performances et la vulgarisation des applications des matériaux céramiques.

2024/02/26
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Diffraction des rayons X sur poudre de clinker de ciment Portland

Il est difficile de quantifier les phases amorphes et cristallines des matériaux cimentaires en raison de la complexité des phases minérales dans le mélange et des pics importants qui se chevauchent. D'excellents résultats peuvent être obtenus par le raffinement Rietveld de l'échantillon mesuré à l'aide de configurations de mesure standard.

2024/02/25
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