Les accessoires de mesure intégrés multifonctionnels sont utilisés pour analyser les films sur les cartes, les blocs et les substrats, et peuvent effectuer des tests tels que la détection de phase cristalline, l'orientation, la texture, la contrainte et la structure dans le plan des films minces. Les accessoires de mesure intégrés multifonctionnels sont généralement conçus pour améliorer la fonctionnalité du diffractomètre à rayons X, leur permettant de s'adapter à des besoins de test plus divers. Il existe une relation étroite entre les accessoires de mesure intégrés multifonctionnels et le diffractomètre à rayons X. Ces accessoires améliorent non seulement la fonctionnalité et les performances du diffractomètre à rayons X, mais améliorent également sa facilité d'utilisation et sa sécurité. Dans les applications pratiques, les utilisateurs peuvent choisir des accessoires adaptés à leurs besoins spécifiques pour élargir les scénarios d'application du diffractomètre à rayons X et améliorer l'efficacité de la mesure.

Tubes à rayons X spécialement conçus pour les instruments d'analyse : tubes en céramique ondulés, tubes en cermet et tubes en verre, adaptés à divers modèles d'analyseurs XRD, XRF, à cristaux et d'instruments d'orientation au pays et à l'étranger. Paramètres techniques des tubes à rayons X : 1. Types de matériaux cibles facultatifs : Cu, Co, Fe, Cr, Mo, Ti, W, etc. 2. Type de mise au point : 0,2 × 12 mm² ou 1 × 10 mm² ou 0,4 × 14 mm² (mise au point fine)

Accessoire de batterie d'origine, plage de test : 0,5-160 degrés, résistance à la température : 400 ℃, taille de la fenêtre en béryllium (film polyester) : diamètre 15 mm (personnalisable) ; épaisseur 0,1 mm (personnalisable). Ils sont largement utilisés comme accessoires de diffractomètre à rayons X dans les systèmes électrochimiques contenant du carbone, de l'oxygène, de l'azote, du soufre, des complexes métalliques intégrés, etc. L'accessoire de batterie d'origine est utilisé pour fixer l'ensemble de la platine d'échantillonnage de la batterie d'origine sur l'instrument de mesure d'angle du diffractomètre à rayons X, servant de connexion et de support.

L'accessoire de mesure de film optique parallèle est un outil spécialisé pour l'analyse par diffraction des rayons X, qui filtre les lignes plus dispersées en augmentant la longueur de la plaque de réseau, réduisant ainsi l'influence du signal du substrat sur les résultats et améliorant l'intensité du signal du film mince. Dans le domaine de la science des matériaux, l'accessoire de mesure de film optique parallèle est couramment utilisé pour étudier la structure cristalline, le comportement de transition de phase et l'état de contrainte des matériaux à film mince. Avec le développement de la nanotechnologie, l'accessoire de mesure de film optique parallèle a également été largement utilisé dans les tests d'épaisseur et l'analyse par diffraction à petit angle des films multicouches nanométriques. La conception et la fabrication de l'accessoire de mesure de film optique parallèle visent une haute précision pour répondre aux exigences de la recherche scientifique et de la production industrielle en matière de précision des données. Pendant l'utilisation, l'accessoire de mesure de film optique parallèle doit maintenir un degré élevé de stabilité pour garantir la fiabilité des résultats des tests. Avec l'avancement de la technologie et le développement de l'industrie, la demande d'instruments d'analyse de haute précision et de haute stabilité augmente constamment. Les accessoires de mesure de film optique parallèle, en tant que composant important, connaissent également une croissance soutenue de la demande du marché. Afin de répondre à la demande du marché et d'améliorer les performances des produits, la technologie des accessoires de mesure de film optique parallèle innove et s'améliore constamment. Par exemple, l'amélioration du matériau et de la conception des plaques de réseau, l'optimisation du système optique et d'autres moyens peuvent améliorer l'effet de filtrage et la capacité d'amélioration du signal. En résumé, les accessoires de mesure de film optique parallèle jouent un rôle crucial dans l'analyse par diffraction des rayons X. Avec l'avancement de la technologie et le développement de l'industrie, ses perspectives d'application s'élargiront encore.

Les accessoires de fibre sont testés pour leur structure cristalline unique à l'aide de la méthode de diffraction des rayons X (transmission). Testez l'orientation de l'échantillon en fonction de données telles que la cristallinité de la fibre et la largeur à mi-pic. Les accessoires en fibre ont une large gamme d'applications dans divers domaines, notamment la science des matériaux, la biomédecine, le génie chimique, la nanotechnologie, l'exploration géologique, la surveillance de l'environnement, etc.

Le système d'irradiation à rayons X de l'armoire génère des rayons X à haute énergie pour irradier des cellules ou des petits animaux. Utilisé pour diverses recherches fondamentales et appliquées. Dans l'histoire, des équipements d'irradiation à isotopes radioactifs ont été utilisés, ce qui nécessite le transport d'échantillons vers une installation d'irradiation centrale. Aujourd'hui, des dispositifs d'irradiation à rayons X plus petits, plus sûrs, plus simples et moins coûteux peuvent être installés dans les laboratoires pour une irradiation pratique et rapide des cellules. Divers échantillons peuvent être directement irradiés en laboratoire sans affecter la fertilité ou la sécurité. Cet appareil d'irradiation à rayons X biologique est pratique pour le personnel sans formation professionnelle en rayons X, et il n'y a pas de demandes de licence coûteuses ni de coûts de maintenance pour la sécurité ou les sources de rayonnement. L'instrument d'irradiation à rayons X est facile à utiliser, sûr, fiable et rentable, et peut remplacer les sources d'isotopes radioactifs.

L'analyseur d'orientation des rayons X est un appareil qui utilise le principe de la diffraction des rayons X pour déterminer l'orientation des cristaux. Il est largement utilisé dans des domaines tels que la science des matériaux, la géologie, la physique, etc., pour étudier la structure cristalline, les paramètres du réseau, les défauts cristallins, etc. Le principe de fonctionnement d'un analyseur d'orientation des rayons X consiste à irradier un faisceau de rayons X monochromatique sur le cristal testé. Lorsque les rayons X interagissent avec les atomes du cristal, une diffusion se produit. Selon la loi de Bragg, lorsque la longueur d'onde des rayons X est un multiple entier de l'espacement atomique dans un cristal, la lumière diffusée interfère et forme une série de bandes alternées claires et sombres, appelées réflexions de Bragg. En mesurant les angles et les intensités de ces réflexions de Bragg, des informations telles que l'orientation du cristal et les paramètres du réseau peuvent être calculées. L'analyseur d'orientation des rayons X comprend généralement les éléments principaux suivants : 1. Source de rayons X : un dispositif qui produit des rayons X monochromatiques, généralement à l'aide d'un tube à rayons X ou d'une source de rayonnement synchrotron. 2. Étape d'échantillonnage : une plate-forme utilisée pour placer le cristal à tester, qui peut ajuster la position et l'angle du cristal. 3. Détecteur : utilisé pour recevoir les rayons X diffusés et les convertir en signaux électriques. Les détecteurs courants comprennent les compteurs à scintillation, les compteurs proportionnels, etc. 4. Système d'acquisition et de traitement des données : utilisé pour collecter les signaux émis par les détecteurs et effectuer le traitement et l'analyse des données. Comprend généralement des analyseurs multicanaux, des ordinateurs et d'autres équipements. 5. Système de contrôle : utilisé pour contrôler le mouvement de la source de rayons X, de la platine d'échantillonnage et du détecteur pour réaliser la mesure des cristaux dans différentes directions. En utilisant un analyseur d'orientation à rayons X, les chercheurs peuvent déterminer avec précision l'orientation et les paramètres de réseau des cristaux, acquérant ainsi une compréhension plus approfondie de leur structure et de leurs propriétés. Cela revêt une grande importance pour le développement de nouveaux matériaux, l'exploration géologique, la croissance cristalline et d'autres domaines.

Le diffractomètre à rayons X monocristallin TD-5000 est principalement utilisé pour déterminer la structure spatiale tridimensionnelle et la densité du nuage électronique de substances cristallines telles que les complexes inorganiques, organiques et métalliques, et pour analyser la structure de matériaux spéciaux tels que les macles, les cristaux non proportionnés, les quasicristaux, etc. Déterminez l'espace tridimensionnel précis (y compris la longueur de liaison, l'angle de liaison, la configuration, la conformation et même la densité électronique de liaison) de nouvelles molécules composées (cristallines) et la disposition réelle des molécules dans le réseau ; Le diffractomètre à rayons X monocristallin peut fournir des informations sur les paramètres de la cellule cristalline, le groupe spatial, la structure moléculaire cristalline, la liaison hydrogène intermoléculaire et les interactions faibles, ainsi que des informations structurelles telles que la configuration et la conformation moléculaires. La DRX monocristalline est largement utilisée dans la recherche analytique en cristallographie chimique, biologie moléculaire, pharmacologie, minéralogie et science des matériaux. Le diffractomètre monocristallin adopte la technique de concentricité à quatre cercles pour garantir que le centre de l'instrument de mesure d'angle reste inchangé quelle que soit la rotation, ce qui permet d'obtenir les données les plus précises et d'obtenir une intégrité supérieure. La concentricité à quatre cercles est une condition nécessaire pour le balayage monocristallin conventionnel. Le personnel technique de l'entreprise a terminé l'installation et le débogage du diffractomètre à rayons X monocristallin étranger, et les résultats des tests ont grandement satisfait les utilisateurs étrangers. Dans le même temps, la fonctionnalité, la stabilité et le service après-vente de l'instrument ont reçu des éloges unanimes de la part des utilisateurs étrangers.

Le diffractomètre à rayons X de bureau TDM-20 est principalement utilisé pour l'analyse de phase des poudres, des solides et des matériaux similaires de type pâte. Le XRD de table utilise le principe du diffractomètre à rayons X pour effectuer des analyses qualitatives ou quantitatives, des analyses de structure cristalline et d'autres matériaux polycristallins tels que des échantillons de poudre et des échantillons de métal. Le diffractomètre à rayons X de bureau TDM-20 est largement utilisé dans des secteurs tels que l'industrie, l'agriculture, la défense nationale, les produits pharmaceutiques, les minéraux, la sécurité alimentaire, le pétrole, l'éducation et la recherche scientifique. Le chargement d'un nouveau détecteur matriciel hautes performances a conduit à une amélioration significative des performances de la DRX de paillasse. L'équipement XRD de paillasse a un petit volume et un poids léger ; La puissance de travail de l'alimentation haute tension Benchtop XRD peut atteindre 1600 watts ; Le XRD de paillasse peut rapidement calibrer et tester des échantillons ; Le contrôle du circuit XRD de table est simple et facile à déboguer et à installer ; La répétabilité de l'angle XRD de paillasse peut atteindre 0,0001.

Le diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700, doté de tous les avantages du diffractomètre à rayons X TD-3500, est équipé d'un détecteur matriciel hautes performances. Par rapport aux détecteurs à scintillation ou aux détecteurs proportionnels, l'intensité de calcul de diffraction peut être augmentée de plusieurs dizaines de fois et des diagrammes de diffraction complets à haute sensibilité et haute résolution ainsi qu'une intensité de comptage plus élevée peuvent être obtenus dans une période d'échantillonnage plus courte. Le diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700 prend en charge à la fois les méthodes de numérisation de données de diffraction conventionnelles et les méthodes de numérisation de données de transmission. La résolution du mode de transmission est bien supérieure à celle du mode de diffraction, ce qui convient à l'analyse structurelle et à d'autres domaines. Le mode de diffraction a des signaux de diffraction puissants et est plus adapté à l'identification de phase de routine en laboratoire. De plus, en mode de transmission, l'échantillon de poudre peut être présent en quantités infimes, ce qui convient à l'acquisition de données dans les cas où la taille de l'échantillon est relativement petite et ne répond pas aux exigences de la méthode de diffraction pour la préparation de l'échantillon.

Le diffractomètre de la série TD incarne l'essence de la recherche et du développement de Tongda Technology au fil des ans, évoluant avec les exigences de l'époque. Le diffractomètre à rayons X est principalement utilisé pour l'analyse qualitative et quantitative de phase, l'analyse de la structure cristalline, l'analyse de la structure des matériaux, l'analyse de l'orientation cristalline, la détermination des contraintes macroscopiques ou microscopiques, la détermination de la granulométrie, la détermination de la cristallinité, etc. d'échantillons de poudre, de blocs ou de films. Le diffractomètre à rayons X TD-3500 produit par Dandong Tongda Technology Co., Ltd. adopte un contrôle PLC Siemens importé, ce qui confère au diffractomètre à rayons X TD-3500 les caractéristiques de haute précision, de haute précision, de bonne stabilité, de longue durée de vie, de mise à niveau facile, d'utilisation simple et d'intelligence, et peut s'adapter de manière flexible aux analyses de test et à la recherche dans diverses industries ! Instrument de mesure d'angle avec structure à arbre creux

Diffractomètre à rayons X monocristallin de haute précision conçu spécifiquement pour la recherche en science des matériaux, l'analyse de la structure cristalline et le contrôle qualité industriel. Il utilise l'effet de diffraction généré par l'interaction entre les rayons X et les monocristaux pour fournir aux utilisateurs des informations détaillées sur la structure cristalline en mesurant avec précision les angles et les intensités de diffraction, révélant ainsi la microstructure et les propriétés des matériaux.