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Le système à rayons X WBK-01 produit des rayons X à haute énergie pour irradier les cellules ou les petits animaux. Pour une variété de recherches fondamentales et de recherches appliquées.
La Fête de la Mi-Automne, la fête du festival ! Dandong Tongda Technology Co., Ltd. pour que tous les employés offrent des avantages pour la Fête de la Mi-Automne !
Le principe de nombreux dispositifs de caractérisation est de faire interagir les électrons avec les substances qui doivent être détectées, d'exciter les électrons secondaires, ou d'effectuer des transitions et des retours en arrière au niveau atomique, et de libérer une énergie caractéristique.
XRD peut mesurer des échantillons en vrac et en poudre et a des exigences différentes pour différentes tailles et propriétés d'échantillon.
En août 2023, sous la direction de l'entreprise, la grande famille de Dandong Tongda Technology Co., Ltd. dans la province du Liaoning a organisé un dîner en plein air à la veille de la fin du mois.
Le diffractomètre à rayons X (DRX) mondial s’est développé régulièrement ces dernières années et la Chine est un marché offrant de grandes perspectives de développement.
Prenant comme exemple la mise à l'échelle des dépôts, cet article présente comment utiliser le diffractomètre à rayons X pour l'analyse qualitative et quantitative.
L’application de nouvelles technologies et de nouveaux produits tels que la 5G, le big data et l’intelligence artificielle entraînera une énorme demande sur le marché des semi-conducteurs, et les dépenses mondiales en équipements semi-conducteurs sont entrées dans un cycle ascendant.
La précédente introduction détaillée et complète du service de pré-vente, de vente et après-vente de l'entreprise, présentée aujourd'hui, est le contenu lié à la formation sur les produits de notre entreprise.
La XRD haute résolution (HR-XRD) est une méthode courante pour mesurer la composition et l'épaisseur de semi-conducteurs composés tels que SiGe, AlGaAs, InGaAs, etc.
Le diffractomètre à rayons X (XRD) peut être divisé en diffractomètre à poudre à rayons X et diffractomètre monocristallin à rayons X, le principe physique de base des deux est le même.
La fluorescence des rayons X à réflexion totale (TXRF) est une technique d'analyse des éléments de surface couramment utilisée pour analyser les particules, les résidus et les impuretés sur des surfaces lisses.