Le diffractomètre à rayons X TD-3500 offre une précision exceptionnelle avec une répétabilité de 0,0001° et un contrôle PLC avancé. Cet instrument polyvalent réalise des analyses complètes de matériaux (poudres, films et échantillons massifs) tout en garantissant une sécurité maximale grâce à un double système de protection. Adopté par des laboratoires internationaux, il établit de nouvelles normes en matière de performance et de fiabilité analytiques pour les applications de recherche à l'échelle mondiale.

Dandong Tongda lance le TD-Mini, un analyseur de contraintes par rayons X portable. Intégrant une source microfocale et un détecteur de surface, il offre une précision équivalente à celle d'un laboratoire pour les tests sur site. Idéal pour les secteurs de la fabrication industrielle, de l'aérospatiale et de l'énergie, il garantit des mesures rapides et fiables.

Dandong Tongda lance son nouvel analyseur de contraintes résiduelles TD-RSD. Cet instrument à rayons X de pointe garantit des mesures précises et efficaces, ainsi qu'une conformité aux normes internationales, pour une sécurité et une qualité accrues dans les processus de fabrication à travers le monde.

L'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF de Dandong Tongda représente une avancée majeure pour la Chine dans le domaine des instruments d'analyse haut de gamme développés en interne. Il permet une analyse précise, sûre et fiable de la structure cristalline pour la recherche et le développement en science des matériaux et en industrie pharmaceutique à l'échelle mondiale.

Les orienteurs de cristaux à rayons X de Dandong Tongda (précision de ±30 secondes d'arc, capacité de charge de 30 kg) assurent une orientation précise des cristaux piézoélectriques, optiques, laser et semi-conducteurs. Grâce à des modèles et des platines porte-échantillons spécialisés, ces systèmes contribuent à la recherche et à la production de cristaux à l'échelle mondiale, et valent à la Chine une reconnaissance internationale pour ses instruments de précision.

Les orienteurs de cristaux à rayons X de Dandong Tongda (précision de ±30 secondes d'arc, capacité de charge de 30 kg) assurent une orientation précise des cristaux piézoélectriques, optiques, laser et semi-conducteurs. Grâce à des modèles et des platines porte-échantillons spécialisés, ces systèmes contribuent à la recherche et à la production de cristaux à l'échelle mondiale, et valent à la Chine une reconnaissance internationale pour ses instruments de précision.

Le diffractomètre à rayons X TD-3500 de Dandong Tongda Science & Technology Co., Ltd. permet une analyse précise des matériaux pour diverses industries. Son goniomètre de haute précision et sa commande par automate programmable brevetée garantissent des résultats fiables et une utilisation intuitive, offrant ainsi une solution polyvalente aux clients du monde entier.

Dandong Tongda, fabricant chinois de premier plan, produit des orienteurs de cristaux à rayons X de haute précision. Utilisant la diffraction des rayons X, ces instruments permettent une mesure précise des angles de coupe et une taille directionnelle de divers cristaux. Des modèles phares comme le TYX-200 et le TYX-2H8 offrent une grande précision (±30″), une capacité d'échantillon importante, une utilisation intuitive et une détection performante. Largement utilisés dans les secteurs des semi-conducteurs, de l'optique et de la recherche, ces instruments de renommée mondiale sont certifiés, brevetés et exportés dans le monde entier.

Ce dispositif d'analyse de couches minces pour diffractomètres à rayons X permet une analyse de haute précision des films déposés sur des substrats. Son système optique optimisé supprime les interférences du substrat, amplifiant les signaux faibles des films pour des données fiables, de l'échelle nanométrique à l'échelle micrométrique. Indispensable pour la R&D en électronique, semi-conducteurs et énergies nouvelles.

L'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF est un instrument d'analyse à grande échelle utilisé pour étudier la microstructure interne des substances. Il est principalement utilisé pour l'orientation des monocristaux, l'inspection des défauts, la détermination des paramètres du réseau, la détermination des contraintes résiduelles, l'étude de la structure des plaques et des tiges, l'étude de la structure des substances inconnues et les dislocations des monocristaux.