La diffraction des rayons X est une technique de base pour l’étude de la structure solide, qui peut fournir des informations spectrales uniques sur la composition chimique et la disposition structurelle des échantillons.

XRD est aujourd'hui le système de diffractomètre à rayons X le plus avancé au monde, avec une conception précise et des fonctions complètes, et peut s'adapter de manière flexible à diverses déterminations de microstructures telles que la poudre.

Fondée en 2002, Dandong Tongda Technology Co., Ltd. est une entreprise nationale de haute technologie dont les principaux produits sont des instruments d'analyse à rayons X et des instruments de contrôle non destructif à rayons X.

Récemment, le ministère de la Science et de la Technologie a annoncé la liste du deuxième lot de projets clés dans le cadre du Plan national clé de recherche et de développement 2023 « Conditions de recherche scientifique fondamentale et recherche et développement d'instruments et d'équipements scientifiques majeurs ».

Différentes formes cristallines d’un même médicament peuvent différer considérablement en termes d’apparence, de solubilité, de point de fusion, etc., affectant la stabilité, la production, la biodisponibilité et la sécurité du médicament.

XRD est une méthode de recherche permettant d'obtenir des informations telles que la composition du matériau, les molécules à l'intérieur du matériau par diffraction des rayons X et l'analyse de son diagramme de diffraction. ​

La diffraction des rayons X est une méthode permettant d'étudier la phase et la structure cristalline d'une substance en utilisant le phénomène de diffraction des rayons X dans un cristal.

Des scientifiques dirigés par NTU Singapour ont développé et simulé une nouvelle méthode d'économie d'énergie capable de produire des rayons X hautement concentrés et finement contrôlés, mille fois plus puissants que les méthodes conventionnelles.

La technique de diffraction des rayons X est souvent utilisée pour détecter la qualité cristalline des tranches et des tranches épitaxiales.

L'analyse XRD est une méthode permettant d'analyser la structure des atomes internes dans la distribution spatiale des substances en utilisant la diffraction des rayons X formés par les cristaux.