Presque tous les laboratoires d'analyse travaillant pour l'industrie pharmaceutique disposent à la fois d'instruments d'analyse thermique et de diffractomètres à rayons X sur poudre. En combinant DSC et XRD en une seule mesure simultanée, les données thermiques et les données de diffraction sur le même échantillon peuvent obtenir des informations riches.

Les polymères sont généralement synthétisés sous forme de fibres, de feuilles et d'autres formes solides. Ses propriétés sont grandement affectées par ses paramètres structurels tels que la cristallinité, la structure cristalline et l'orientation, et peuvent être étudiées par DRX.

La diffraction des rayons X est divisée en deux types de diffraction monocristalline et de diffraction de poudre, le monocristal est principalement utilisé pour la détermination du poids moléculaire et de la structure cristalline, la poudre est principalement utilisée pour l'identification et la pureté des substances cristallines.

Dandong Tongda Technology Co., Ltd. est un fabricant professionnel de diffractomètres à rayons X, a une histoire de 14 ans et a conclu une coopération avec de nombreuses universités et entreprises au pays et à l'étranger.

Avec le développement de la technologie de détection XRD, la miniaturisation des instruments, la faible consommation d'énergie, l'utilisation simple, la détection intelligente devient de plus en plus populaire et est devenue la tendance des instruments.

Le nouveau spectromètre d'imagerie à rayons X sur une grande surface et à haute résolution angulaire révélera les moteurs fondamentaux de l'évolution galactique qui laissent leur marque dans le plasma chaud qui, selon les cosmologistes, existe dans l'espace intergalactique.

Un diffractomètre à rayons X est un instrument utilisé pour mesurer les contraintes résiduelles à l'intérieur d'un matériau. En analysant le diagramme de diffraction des rayons X du matériau, la répartition des contraintes résiduelles à l'intérieur du matériau est calculée.

GIWAXS est une technique permettant de caractériser la microstructure interne d'échantillons de couches minces. La taille de la structure correspondante est comprise entre 10 nm et 1 um, elle est donc largement utilisée pour caractériser la cristallisation à l’intérieur des cellules solaires à couches minces.

HRXRD est une méthode de test non destructif puissante, et ses objets de recherche sont principalement des matériaux monocristallins, des matériaux à couches minces épitaxiales monocristallines et diverses hétérostructures semi-conductrices de faible dimension.

Dans le développement de la technologie d'imagerie à rayons X, la technologie d'imagerie à rayons X a formé un système technologique de test non destructif à rayons X relativement complet. Afin de répondre aux besoins, de nouvelles technologies de détection sont constamment innovées et la technologie de détection en ligne par rayons X est adoptée.