Matériau dont les propriétés sont dominées par des effets bidimensionnels, les propriétés du matériau à une échelle bidimensionnelle sont différentes de ses propriétés à plus grande échelle.

Selon les changements de position et d'intensité des pics de diffraction XRD in situ, les intermédiaires générés au cours du cycle peuvent être déduits et le mécanisme de réaction peut être dérivé de ces intermédiaires.

La diffraction des rayons X traverse chaque étape du contrôle qualité des médicaments, comme l’étude des matières premières et des préparations.

Les contraintes résiduelles ont un impact important sur la stabilité dimensionnelle, la résistance à la corrosion sous contrainte, la résistance à la fatigue, le changement de phase et d'autres propriétés des matériaux et composants. Sa mesure a été largement préoccupée par le monde universitaire et l’industrie.

Récemment, une nouvelle étude a réussi à fusionner des oxydes métalliques avec de la zéolite A et a révélé le mystère de ce processus grâce aux technologies XRD et FTIR.

DRX, est l'abréviation de diffraction des rayons X, en tant que personne matérielle, quel que soit le matériau fabriqué, la DRX est le moyen de caractérisation le plus couramment utilisé et le plus basique.

La structure fine d'absorption des rayons X (XAFS) est un outil puissant pour étudier la structure atomique ou électronique locale des matériaux basée sur une source de lumière à rayonnement synchrotron.

Lorsqu'un faisceau de rayons X extrêmement fin traverse un matériau avec une densité électronique inégale de taille nanométrique, les rayons X se propagent dans une petite région angulaire proche de la direction du faisceau d'origine, ce phénomène est appelé petit angle X. -diffusion des rayons.

La diffusion des rayons X aux petits angles est la diffusion diffuse des électrons vers les rayons X dans la plage des petits angles près du faisceau d'origine. La diffusion aux petits angles se produit dans tous les matériaux présentant une densité électronique non uniforme à l’échelle nanométrique.