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XRD est une méthode de recherche permettant d'obtenir des informations telles que la composition du matériau, les molécules à l'intérieur du matériau par diffraction des rayons X et l'analyse de son diagramme de diffraction.
La diffraction des rayons X est une méthode permettant d'étudier la phase et la structure cristalline d'une substance en utilisant le phénomène de diffraction des rayons X dans un cristal.
Des scientifiques dirigés par NTU Singapour ont développé et simulé une nouvelle méthode d'économie d'énergie capable de produire des rayons X hautement concentrés et finement contrôlés, mille fois plus puissants que les méthodes conventionnelles.
La technique de diffraction des rayons X est souvent utilisée pour détecter la qualité cristalline des tranches et des tranches épitaxiales.
L'analyse XRD est une méthode permettant d'analyser la structure des atomes internes dans la distribution spatiale des substances en utilisant la diffraction des rayons X formés par les cristaux.
La diffraction des rayons X est une méthode d'analyse de la structure ou de la composition d'un échantillon en y projetant un faisceau de rayons X monochromatique.
La technologie XRD constitue un outil puissant pour étudier la composition chimique et la composition minérale de la saumure. Grâce à l’utilisation de cette technique, les caractéristiques et la valeur de la saumure peuvent être mieux comprises.
Les chercheurs du NREL ont utilisé des capacités de diagnostic par rayons X de pointe comme méthode non destructive pour examiner la composition et la structure des matériaux des batteries.
L'analyse des matériaux des batteries permet de comprendre et d'optimiser les performances des batteries, d'améliorer leur sécurité et leur durée de vie, de réduire les coûts et de promouvoir le développement et l'application de nouveaux matériaux.
La détection qualitative XRD est pratique, rapide et réduit les interférences. Avec l'innovation continue des moyens techniques, la technologie de diffraction des rayons X a des perspectives d'application plus larges dans le domaine de l'analyse des matériaux.
La DRX utilise comme source de diffraction des rayons X monochromatiques, qui peuvent généralement pénétrer dans le solide, afin de vérifier sa structure interne. XRD donne les informations sur la structure de phase globale du matériau.
Depuis les années 1990, la technologie d’imagerie par tomographie à rayons X par rayonnement synchrotron a été largement utilisée dans la recherche sur les matériaux.