Le monochromateur à cristal incurvé en graphite est installé devant le détecteur de rayons X, qui monochromatise les rayons X traversant la fente de réception et détecte uniquement les accessoires de diffractomètre à rayons X caractéristiques K α du spectre de rayons X. En utilisant cet appareil, les rayons X continus, les rayons X caractéristiques K β et les rayons X fluorescents peuvent être complètement éliminés, ce qui permet une analyse par diffraction des rayons X à rapport signal/bruit élevé. Lorsque des tubes à rayons X à cible en cuivre sont utilisés en conjonction avec les monochromateurs correspondants, les rayons X fluorescents générés à partir d'échantillons à base de Mn, Fe, Co, Ni peuvent être éliminés, ce qui les rend adaptés à l'analyse de divers échantillons.

Un accessoire à moyenne et basse température est un dispositif expérimental utilisé pour tester et analyser des matériaux ou des échantillons dans une plage de température spécifique (généralement un environnement à moyenne et basse température). Les domaines d'application comprennent la science des matériaux, le génie chimique et la recherche et le développement de médicaments. Avec l'avancement continu de la technologie et la demande croissante d'applications, il jouera un rôle plus important à l'avenir.

L'accessoire haute température est un équipement expérimental utilisé pour l'analyse d'échantillons dans un environnement à haute température, afin de comprendre les changements de structure cristalline des échantillons pendant le chauffage à haute température et les changements de dissolution mutuelle de diverses substances pendant le chauffage à haute température. Selon les différentes exigences expérimentales, différentes configurations de fixation haute température peuvent être modifiées, telles que différents matériaux de fenêtre et conceptions de chambre de réaction, pour s'adapter à des conditions expérimentales spécifiques. L'accessoire haute température est un accessoire de température indispensable dans la recherche en laboratoire, qui non seulement améliore l'efficacité et la précision des expériences, mais repousse également les limites de la recherche scientifique.

L'accessoire de mesure intégré multifonctionnel est un accessoire d'instrument qui peut mesurer plusieurs paramètres. Il s'agit d'un accessoire de mesure pour diffractomètre à rayons X, principalement utilisé pour améliorer l'efficacité de la mesure, augmenter les fonctions de mesure et améliorer la maintenance de l'instrument. Utilisé pour l'analyse et le test de divers matériaux dans des domaines tels que le génie chimique, les machines, la géologie, les minéraux, la métallurgie, les matériaux de construction, la céramique, la pétrochimie, les produits pharmaceutiques, etc. Les accessoires de mesure intégrés multifonctionnels jouent un rôle important dans divers domaines, offrant un soutien solide à la recherche scientifique et à la production industrielle.

Les accessoires de diffractomètre à petit angle sont des accessoires importants utilisés dans les instruments de diffraction des rayons X, principalement pour mesurer les paramètres à l'échelle nanométrique des matériaux. Les accessoires correspondants peuvent être configurés pour la diffraction à petit angle, et la plage d'angle de 0° à 5° peut être utilisée pour tester l'épaisseur des films multicouches nanométriques. En mesurant les paramètres à l'échelle nanométrique des matériaux, des outils puissants ont été fournis pour la recherche dans des domaines tels que la science des matériaux, la biologie et la chimie.

Le porte-échantillon multifonctionnel peut tester des traces d'échantillons de poudre, ainsi que des échantillons en forme de feuille, de grande taille ou irréguliers, qui ne peuvent pas être coupés ou broyés en poudre. Il s'agit d'un équipement expérimental utilisé dans la recherche scientifique et les domaines industriels pour transporter, chauffer, faire pivoter et modeler des échantillons, et est un accessoire des diffractomètres à rayons X.

L'irradiateur à rayons X de type armoire est utilisé pour irradier des cellules ou des petits animaux. Un irradiateur à rayons X est un instrument qui utilise des rayons X à haute énergie pour irradier des substances afin d'obtenir des effets biologiques ou physiques spécifiques. Utilisé pour diverses recherches fondamentales et appliquées. Tout au long de l'histoire, des irradiateurs à isotopes radioactifs ont été utilisés, ce qui nécessite le transport d'échantillons vers une installation d'irradiation centrale. Aujourd'hui, des équipements d'irradiation aux rayons X plus petits, plus sûrs, plus simples et moins coûteux peuvent être installés dans les laboratoires pour une irradiation pratique et rapide des cellules. Les équipements d'irradiation aux rayons X modernes sont équipés de mesures de protection de sécurité complètes, telles que des dispositifs d'arrêt d'urgence, une protection contre la surchauffe, des fonctions de préchauffage automatique, etc., pour garantir un fonctionnement sûr.

L'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF est un instrument d'analyse à rayons X à grande échelle utilisé pour étudier la microstructure interne des substances. Il est principalement utilisé pour l'orientation des monocristallins, l'inspection des défauts, la détermination des paramètres du réseau, la détermination des contraintes résiduelles, l'étude de la structure des plaques et des tiges, l'étude de la structure des substances inconnues et les dislocations monocristallines. L'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF adopte un manchon de tube vertical et quatre fenêtres peuvent être utilisées simultanément. L'analyseur de cristal à rayons X de la série TDF adopte une technologie de contrôle PLC importée, avec une précision de contrôle élevée et de bonnes performances anti-interférences, ce qui permet un fonctionnement fiable du système. Le PLC contrôle l'interrupteur haute tension, le levage et a pour fonction d'entraîner automatiquement le tube à rayons X, prolongeant ainsi efficacement la durée de vie du tube à rayons X et de l'instrument à rayons X.

Le diffractomètre à rayons X TDM-20 est principalement utilisé pour l'analyse de phase des poudres, des solides et des matériaux similaires de type pâte. Le diffractomètre à rayons X peut être utilisé pour l'analyse qualitative ou quantitative, l'analyse de la structure cristalline et d'autres matériaux polycristallins tels que des échantillons de poudre et des échantillons de métal. Le diffractomètre à rayons X est largement utilisé dans des secteurs tels que l'industrie, l'agriculture, la défense nationale, les produits pharmaceutiques, les minéraux, la sécurité alimentaire, le pétrole, l'éducation et la recherche scientifique. La DRX de paillasse est un équipement expérimental utilisé pour analyser la structure cristalline des matériaux. La DRX de paillasse détermine la structure cristalline, les paramètres de réseau et la composition de phase du matériau en émettant des rayons X et en mesurant l'angle et l'intensité de diffraction après leur interaction avec l'échantillon.

Le diffractomètre à rayons X est principalement utilisé pour l'analyse qualitative et quantitative de phase, l'analyse de la structure cristalline, l'analyse de la structure des matériaux, l'analyse de l'orientation cristalline, la détermination des contraintes macroscopiques ou microscopiques, la détermination de la granulométrie, la détermination de la cristallinité, etc. d'échantillons de poudre, de blocs ou de films. Le diffractomètre à rayons X TD-3500 produit par Dandong Tongda Technology Co., Ltd. adopte un contrôle PLC Siemens importé, ce qui confère au diffractomètre à rayons X TD-3500 les caractéristiques de haute précision, de haute précision, de bonne stabilité, de longue durée de vie, de mise à niveau facile, d'utilisation simple et d'intelligence, et peut s'adapter de manière flexible aux analyses de test et à la recherche dans diverses industries ! C'est un outil d'analyse puissant largement utilisé dans des domaines tels que la science des matériaux, la chimie, la physique et la géologie.

Le diffractomètre à rayons X TD-3700 est un nouveau membre de la série TD, équipé d'une variété de détecteurs hautes performances tels que des détecteurs à réseau unidimensionnel à grande vitesse, des détecteurs bidimensionnels, des détecteurs SDD, etc. Il intègre une analyse rapide, une utilisation pratique et la sécurité de l'utilisateur. L'architecture matérielle modulaire et le système logiciel personnalisé permettent d'obtenir une combinaison parfaite, ce qui rend son taux de défaillance extrêmement faible, ses performances anti-interférences bonnes et garantit un fonctionnement stable à long terme de l'alimentation haute tension. Le diffractomètre à rayons X sur poudre TD-3700 prend en charge à la fois les méthodes de numérisation de données de diffraction conventionnelles et les méthodes de numérisation de données de transmission. Le diffractomètre à rayons X sur poudre TD-3700, doté de tous les avantages du diffractomètre à rayons X TD-3500, est équipé de détecteurs hautes performances. Par rapport aux détecteurs à scintillation ou aux détecteurs proportionnels, l'intensité de calcul de diffraction peut être augmentée de plusieurs dizaines de fois et des diagrammes de diffraction complets à haute sensibilité et haute résolution ainsi qu'une intensité de comptage plus élevée peuvent être obtenus dans une période d'échantillonnage plus courte.

Le spectre d'absorption des rayons X à structure fine (XAFS) est un outil analytique utilisé pour étudier la structure et les propriétés des substances. Le XAFS obtient des informations sur les atomes et les molécules d'un échantillon en mesurant l'absorption des rayons X de l'échantillon dans une plage d'énergie spécifique. Le XAFS est un outil puissant pour étudier la structure atomique ou électronique locale des matériaux. La technologie XAFS est largement utilisée dans la science des matériaux, la chimie, la biologie et d'autres domaines, en particulier dans les domaines de recherche tels que la catalyse, les batteries, les capteurs, etc. Le XAFS a une valeur d'application importante. Grâce à la technologie XAFS, les chercheurs peuvent acquérir une compréhension plus approfondie de la microstructure et des propriétés des échantillons, fournissant un support puissant pour la conception et l'optimisation de nouveaux matériaux.