Le spectromètre à structure fine d'absorption des rayons X (XAFS) est un outil puissant pour étudier la structure atomique ou électronique locale des matériaux, largement utilisé dans des domaines populaires tels que la catalyse, l'énergie et la nanotechnologie.

Le diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700 offre des performances analytiques exceptionnelles grâce à une technologie de détection innovante et à deux modes de balayage. Doté d'une acquisition de données rapide, d'une utilisation intuitive et d'une sécurité renforcée, il permet une analyse précise des matériaux dans les domaines de la recherche et de l'industrie, établissant ainsi de nouvelles normes pour les instruments scientifiques chinois.

Le diffractomètre de rayons X de bureau TDM-20 intègre une génération de rayons X avancée, une précision goniométrique élevée et une détection efficace dans un format compact. Il fournit des analyses de phase fiables pour les sciences des matériaux, l'industrie pharmaceutique et le contrôle qualité industriel, et bénéficie d'un support mondial et de certifications internationales.

Le diffractomètre à rayons X TD-5000 met fin au monopole international des instruments scientifiques de pointe. Cette innovation chinoise offre une précision exceptionnelle (0,0001°) et des capacités de détection avancées, au service des chercheurs en pharmacie, en science des matériaux et en chimie pour une analyse structurale complète.

Approuvé dans le monde entier : l'analyseur d'orientation des rayons X de Dandong Tongda obtient des certifications multinationales Dans le contexte actuel d'évolution rapide du secteur mondial des semi-conducteurs, des dispositifs optiques et de la science des matériaux, la mesure précise de l'orientation des cristaux est devenue cruciale pour améliorer la qualité des produits et l'efficacité de la production. Spécialiste en développement et fabrication d'instruments d'analyse par rayons X, Dandong Tongda Technology Co., Ltd. annonce le lancement de son analyseur d'orientation par rayons X haute performance. Cet instrument intègre une technologie avancée de diffraction des rayons X et des algorithmes intelligents, offrant des solutions de mesure d'orientation rapides et précises aux industries du cristal du monde entier. Principe technique : l'intégration parfaite de la diffraction des rayons X et de la mesure de précision L'analyseur d'orientation des rayons X fonctionne selon la loi de diffraction de Bragg. Lorsque les rayons X frappent la surface du cristal, les plans atomiques régulièrement disposés à l'intérieur génèrent des phénomènes de diffraction à des angles spécifiques. En captant ces signaux de diffraction à l'aide de détecteurs de précision et en calculant les angles de diffraction, l'instrument peut déterminer avec précision l'orientation du cristal, fournissant ainsi des données fiables pour la découpe et le traitement ultérieurs. Comparée aux méthodes d'orientation traditionnelles, la technologie d'orientation des cristaux par rayons X offre des avantages significatifs : non destructive, haute précision et haute efficacité, garantissant des résultats de mesure fiables sans endommager l'échantillon. L'instrument atteint une précision de mesure de ±30 secondes d'arc (±30″), avec une lecture minimale de 10 secondes d'arc, répondant ainsi aux exigences d'orientation de la grande majorité des matériaux cristallins. Gamme de produits : Solutions complètes pour divers besoins d'application Les analyseurs d'orientation des rayons X de Dandong Tongda Technology comprennent principalement deux modèles fondamentaux : le TYX-200 et le TYX-2H8. Le modèle TYX-200, version de base, est doté d'un écran numérique d'une largeur minimale de 10 pouces et d'une précision de mesure de ±30 pouces, ce qui le rend idéal pour les besoins courants d'orientation des matériaux cristallins. Le modèle TYX-2H8 est une mise à niveau complète du TYX-200, avec une structure de goniomètre améliorée, des rails porteurs optimisés et une platine porte-échantillon surélevée. Le TYX-2H8 peut mesurer des échantillons de 1 à 30 kg et de diamètres compris entre 2 et 8 pouces. Certaines configurations peuvent même être étendues pour traiter des échantillons de 30 à 180 kg, de diamètres allant jusqu'à 350 mm et de longueurs allant jusqu'à 480 mm. Pour les besoins de recherche plus complexes, la société propose également les analyseurs d'orientation à rayons X de la série TDF, qui utilisent une technologie de contrôle PLC importée, offrent une plage de tension de tube de 10 à 60 kV et offrent des fonctionnalités plus étendues, notamment l'orientation des monocristallins, la détection des défauts et la détermination des paramètres de réseau. Applications fonctionnelles : un outil essentiel pour le traitement des cristaux dans de nombreux secteurs L'analyseur d'orientation à rayons X permet de déterminer précisément et rapidement les angles de coupe des monocristaux naturels et synthétiques et, en coordination avec les machines de coupe, de réaliser une coupe orientée. C'est un instrument indispensable pour l'usinage et la fabrication de précision des dispositifs à cristaux. Dans l'industrie des semi-conducteurs, il est largement utilisé pour l'inspection des lingots, des plaquettes et des puces, contrôlant des processus tels que la coupe, le meulage et le polissage afin de garantir des performances constantes des dispositifs semi-conducteurs. Pour le traitement des cristaux optiques et laser, l'instrument permet de déterminer avec précision l'orientation des cristaux, garantissant ainsi la conformité des performances optiques des dispositifs optiques aux exigences de conception et améliorant le rendement. Particulièrement adapté au traitement des cristaux saphir, l'instrument répond simultanément aux exigences de mesure des orientations A, C, M et R des cristaux saphir, grâce à une plage de mesure réglable électriquement de 0 à 45°, s'adaptant ainsi aux besoins de traitement complexes. Dans l'industrie de la bijouterie et des pierres précieuses, l'instrument assure une orientation précise des pierres précieuses, améliorant ainsi la précision de la taille et la valeur des produits finis, aidant ainsi les fabricants à optimiser les effets optiques et la valeur commerciale des pierres précieuses. Caractéristiques du produit : La conception innovante améliore l'expérience utilisateur Les analyseurs d'orientation des rayons X de Dandong Tongda Technology intègrent plusieurs fonctionnalités innovantes qui améliorent considérablement la praticité et la fiabilité de l'instrument. Utilisation facile : l'instrument peut être utilisé sans connaissances professionnelles ni compétences approfondies, ce qui réduit la barrière à l'utilisation et réduit le temps de formation du personnel. Affichage numérique : L'affichage numérique de l'angle permet une observation intuitive, réduit les erreurs de lecture et peut être mis à zéro à n'importe quelle position, facilitant l'affichage direct de l'écart d'angle de la plaquette. Conception efficace : certains modèles sont équipés de goniomètres doubles qui peuvent fonctionner simultanément, améliorant considérablement l'efficacité de l'inspection. Précision améliorée : un intégrateur spécial avec amplification de crête améliore la précision de la détection et une plaque d'échantillon à aspiration sous vide assure un positionnement stable de l'échantillon. Fiabilité et durabilité : La conception intégrée du tube à rayons X et du câble haute tension améliore la fiabilité de la haute tension. Le détecteur haute tension utilise un module haute tension CC, garantissant un fonctionnement stable à long terme. Protection de sécurité : L'instrument utilise un verre au plomb haute densité et haute transmittance comme écran de protection contre les rayons X. La dose de rayonnement externe ne dépasse pas 0,1 µSv/h, conformément aux normes de sécurité internationales. Configuration de l'étage d'échantillonnage : adaptation flexible aux divers besoins de mesure Pour répondre aux exigences de mesure pour des échantillons de différentes formes et tailles, Dandong Tongda Technology propose différentes configurations de platines d'échantillonnage : Platine d'échantillonnage de type TA : Conçue spécifiquement pour les tiges de cristal cylindriques, elle est équipée de rails porteurs. Elle permet de mesurer des tiges de cristal pesant de 1 à 30 kg et d'un diamètre de 2 à 6 pouces (extensible jusqu'à 8 pouces), ainsi que la surface de référence de cristaux en forme de tige ou de plaquettes de cristal en forme de feuille. Platine d'échantillonnage de type TB : également conçue pour les tiges de cristal cylindriques, elle intègre des rails de support en forme de V et peut mesurer des tiges de cristal jusqu'à 500 mm de longueur, ce qui la rend particulièrement adaptée à la mesure des faces d'extrémité des cristaux en forme de tige. Platine d'échantillonnage de type TC : Principalement utilisée pour détecter la surface de référence de la circonférence extérieure des plaquettes monocristallines telles que le silicium et le saphir. Sa conception ouverte élimine les problèmes d'obstruction des rayons X et les imprécisions de positionnement dues aux plaques d'aspiration. Platine d'échantillonnage de type TD : Conçue spécifiquement pour la mesure multipoint de wafers tels que le silicium et le saphir. La plaquette peut être tournée manuellement sur la platine (par exemple, 0°, 90°, 180°, 270°) pour répondre aux exigences de mesure spécifiques du client. Marché mondial : permettre aux clients internationaux de réaliser des avancées technologiques Les produits de Dandong Tongda Technology Co., Ltd. ont réussi leur entrée sur le marché international et sont exportés vers de nombreux pays et régions, dont les États-Unis, la Corée du Sud, l'Iran, l'Azerbaïdjan, l'Irak et la Jordanie. Fidèle à ses principes « Le client avant tout, le produit avant tout, le service avant tout », l'entreprise fournit aux utilisateurs du monde entier des produits high-tech de haute qualité et un support technique complet. Pour ses clients étrangers, l'entreprise propose un service complet de conseil technique et d'après-vente, incluant la formation opérationnelle, la maintenance et la fourniture de pièces détachées, garantissant ainsi la satisfaction des utilisateurs. Pour répondre aux besoins de ses clients de différentes régions, l'entreprise propose également des solutions personnalisées, notamment la conception de platines d'échantillonnage spécifiques et le réglage du logiciel de mesure, garantissant ainsi une adaptation parfaite de l'instrument à des scénarios d'application spécifiques. Des interfaces d'utilisation multilingues et une documentation technique détaillée en anglais simplifient l'utilisation pour les clients étrangers et améliorent l'expérience utilisateur internationale. L'analyseur d'orientation à rayons X de Dandong Tongda Technology n'est pas un simple outil de mesure, mais un partenaire stratégique pour améliorer la compétitivité des entreprises. Il permet de raccourcir considérablement le cycle de R&D des matériaux cristallins, d'optimiser les processus de production, de garantir la qualité des produits et de créer une valeur tangible pour l'industrie mondiale de la cristallisation. Que ce soit pour la fabrication de puces semi-conductrices, le traitement de composants optiques ou la recherche sur de nouveaux matériaux, choisir Dandong Tongda Technology, c'est opter pour une solution d'orientation cristalline fiable, efficace et précise.

Percée dans le domaine des instruments scientifiques : le diffractomètre à rayons X TD-3700 de Dandong Tongda stimule l'innovation en recherche Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. est une entreprise de haute technologie spécialisée dans la recherche, le développement et la production d'instruments d'analyse par rayons X. Son produit phare, le diffractomètre à rayons X TD-3700, allie rapidité d'analyse, simplicité d'utilisation et sécurité renforcée. La parfaite synergie entre son matériel modulaire et ses logiciels personnalisés en fait un outil performant pour la recherche dans des domaines tels que la science des matériaux, la chimie et la minéralogie. Le diffractomètre à rayons X TD-3700 présente des avantages significatifs tant en termes de technologie de détection que de modes de mesure, lui permettant de répondre à un large éventail d'exigences analytiques. Technologie de base et performances Détecteurs hautes performances : L'instrument peut être équipé de détecteurs matriciels 1D haute vitesse (par exemple, MYTHEN2R), de détecteurs SDD ou de détecteurs 2D. Grâce à la technologie de comptage de photons hybride, il fonctionne sans bruit de lecture, atteint des vitesses d'acquisition de données dix à cent fois supérieures à celles des détecteurs à scintillation traditionnels et élimine efficacement les effets de fluorescence pour une excellente résolution énergétique. Par exemple, le détecteur matriciel 1D dispose de 640 canaux avec un temps de lecture remarquablement court de seulement 89 microsecondes, contribuant à un rapport signal/bruit exceptionnel. Modes de balayage flexibles : Le diffractomètre à rayons X TD-3700 prend en charge deux méthodes principales de balayage des données : le mode réflexion (diffraction) conventionnel et le mode transmission. Le mode transmission offre une résolution supérieure, ce qui le rend idéal pour l'analyse d'échantillons limités ou l'analyse structurale. Le mode réflexion offre un signal plus puissant, plus adapté à l'identification de phase en routine en laboratoire. Cette flexibilité permet à l'instrument de traiter une grande variété d'échantillons, allant des traces de poudre et de solides en vrac aux liquides et aux échantillons visqueux. Système de goniomètre de précision : Il utilise un goniomètre vertical θS-θd où l'échantillon reste horizontal et immobile pendant la mesure. Cette conception facilite non seulement la préparation des échantillons, mais prévient également la corrosion potentielle du système d'axes du goniomètre par les échantillons, prolongeant ainsi sa durée de vie. Avec une large plage de balayage 2θ (-110° à 161°) et une précision répétitive exceptionnelle de 0,0001°, il garantit des mesures extrêmement précises et répétables. Caractéristiques de l'instrument et assurance de sécurité Le diffractomètre à rayons X TD-3700 est conçu en mettant l'accent sur l'expérience utilisateur et la sécurité opérationnelle. Conception conviviale : Fonctionnement sans effort : dispose d'un système d'acquisition en un clic et intègre une interface à écran tactile pour une surveillance en temps réel de l'état de l'instrument. Conception modulaire : les composants sont conçus pour une fonctionnalité plug-and-play, ne nécessitant aucun étalonnage et garantissant une maintenance simple. Protection de sécurité complète : Intègre un système de verrouillage de porte électronique pour une protection à double couche, garantissant la sécurité de l'utilisateur. La fuite de rayonnement externe du système de protection est ≤ 0,1 μSv/h, conforme aux normes de sécurité internationales strictes. Comprend plusieurs fonctions de protection contre les kV excessivement élevés/basses, les mA excessivement élevés/basses, les pannes de débit d'eau et la surchauffe du tube à rayons X. Système stable et fiable : Utilise un générateur de rayons X haute fréquence et haute tension reconnu pour sa stabilité et sa fiabilité, avec une stabilité du système ≤ 0,005 %. Le refroidisseur à recirculation intégré intègre une fonction de refroidissement, éliminant ainsi le recours à un système de circulation d'eau externe. Applications et reconnaissance mondiale Le diffractomètre à rayons X TD-3700 est largement utilisé pour l'analyse de phase qualitative/quantitative, l'analyse de la structure cristalline, la recherche sur la structure des matériaux, la détermination de la granulométrie et la mesure de la cristallinité. Reconnus pour leur qualité fiable, les produits Dandong Tongda sont exportés vers de nombreux pays et régions, dont les États-Unis, la Corée du Sud, l'Iran, l'Azerbaïdjan, l'Irak et la Jordanie, gagnant ainsi une reconnaissance internationale. L'entreprise a également obtenu la certification ISO9001 et d'autres certifications internationales de système de gestion de la qualité. Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. offre à ses clients un service et une assistance complets, incluant un service après-vente, des formations professionnelles et un accompagnement commercial international. Nous serions ravis de répondre à vos questions et de vous accompagner dans vos achats !

Le mini-diffractomètre à rayons X TDM-20 est un instrument d'analyse de paillasse hautes performances développé et fabriqué par Dandong Tongda Technology Co., Ltd. Il est principalement utilisé pour l'analyse de phase des matériaux polycristallins tels que les poudres, les solides, les échantillons en vrac et les pâtes. Utilisant le principe de la diffraction des rayons X, cet instrument permet des analyses qualitatives et quantitatives, ainsi que l'analyse de la structure cristalline, et d'autres fonctions. Ses applications sont nombreuses dans divers domaines, notamment l'industrie, l'agriculture, la défense, l'industrie pharmaceutique, la minéralogie, la sécurité alimentaire, le pétrole et la recherche pédagogique. Le diffractomètre à rayons X de paillasse TDM-20 dépasse la limite conventionnelle de 600 W, délivrant une puissance de sortie maximale de 1 200 W pour des performances élevées. De plus, il intègre une alimentation haute fréquence et haute tension, réduisant ainsi la consommation énergétique globale. Il bénéficie d'une technologie goniométrique haute précision avec une répétabilité angulaire de 0,0001°, une précision de mesure de la position du pic de diffraction de 0,001° et une linéarité de l'angle de diffraction sur profil complet de ± 0,010°. L'instrument intègre un système de contrôle avancé basé sur la technologie PLC (automate programmable industriel) et une conception modulaire pour un fonctionnement précis. Pour la détection, il peut être équipé d'un détecteur proportionnel ou d'un nouveau détecteur matriciel haute performance, améliorant considérablement les performances globales et la vitesse d'acquisition des données. Le TDM-20 offre également une grande flexibilité de configuration, prenant en charge divers accessoires tels qu'une platine porte-échantillon rotative, un détecteur matriciel 1D et un passeur d'échantillons automatique à 6 positions. Le mini-diffractomètre à rayons X TDM-20 se distingue également par sa compacité, sa portabilité, son faible encombrement et son faible poids. Reconnu comme l'un des plus petits diffractomètres à rayons X de paillasse au monde, il est parfaitement adapté aux environnements de laboratoire où l'espace est limité. De plus, il est doté d'une triple protection d'isolement sans interférence. Le rayonnement de fuite de rayons X est maintenu à ≤ 0,12 μSv/h, ce qui garantit la conformité à la norme de protection GBZ 115-2002. Par conséquent, l'utilisation du mini-diffractomètre à rayons X TDM-20 est garantie sûre et fiable. Le mini-diffractomètre à rayons X TDM-20 allie puissance, précision et compacité au sein d'une plateforme unique. Il dépasse les limites des diffractomètres à rayons X traditionnels à grande échelle et offre une solution d'analyse des matériaux efficace, pratique et fiable pour divers secteurs industriels. Grâce à ses performances techniques avancées, son service après-vente complet et sa flexibilité d'utilisation, le TDM-20 est un outil puissant pour l'analyse des matériaux en laboratoire. Pour tout besoin d'équipement de diffraction des rayons X, nous vous invitons à choisir les produits de Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd.

Le passeur d'échantillons automatique adopte un moteur pas à pas importé et un automate programmable industriel (API) comme système de contrôle principal. Le choix de ces deux composants clés garantit la précision, la stabilité et la fiabilité à long terme de l'équipement. Le flux de travail du changeur d'échantillons automatique est conçu pour être simple et efficace : L'opérateur précharge jusqu'à six échantillons séquentiellement dans des positions désignées du changeur d'échantillons. Après avoir défini les paramètres de mesure via le système de contrôle, le changeur d'échantillons commence à fonctionner. En suivant les instructions du programme, il délivre automatiquement et avec précision chaque échantillon en séquence à la position de mesure du diffractomètre à rayons X. Une fois la mesure d'un échantillon terminée, l'appareil le retire automatiquement et délivre rapidement l'échantillon suivant jusqu'à ce que tous les échantillons soient mesurés. Les données de mesure sont automatiquement enregistrées, ce qui facilite la révision et l'analyse ultérieures tout en réduisant les erreurs d'enregistrement qui peuvent survenir lors d'opérations manuelles. L'ensemble du processus ne nécessite aucune intervention manuelle, ce qui permet à l'opérateur de libérer du temps pour d'autres tâches et d'éviter les erreurs potentielles liées à la fatigue dues à un fonctionnement prolongé. En plus de la fonction de changement automatique d'échantillon de base, l'équipement dispose également de plusieurs fonctionnalités remarquables : Amélioration de l'efficacité : permet une mesure automatique continue sans surveillance, ce qui la rend particulièrement adaptée au criblage rapide d'échantillons par lots ou à l'analyse séquentielle sur de longues périodes. Cohérence des données : le processus automatisé réduit l’intervention humaine, contribuant ainsi à améliorer la répétabilité et la comparabilité des données de mesure. Facilité d'utilisation : le système de contrôle basé sur PLC est généralement stable et convivial, ce qui abaisse le seuil opérationnel. Application flexible : principalement utilisé dans des domaines tels que la protection de l'environnement, l'électronique/les batteries et d'autres domaines nécessitant des technologies d'analyse des matériaux. Ce changeur d'échantillons automatique est principalement destiné au domaine d'application de l'analyse par diffraction des rayons X (XRD). Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. possède une solide expérience dans le domaine des instruments d'analyse. Sa série TD d'instruments d'analyse et d'équipements de contrôle non destructif est utilisée dans divers domaines de la recherche sur les matériaux. Ce passeur d'échantillons automatique à 6 positions (ou 12 positions) reflète la démarche de l'entreprise visant à intégrer l'automatisation aux équipements d'essai traditionnels afin d'en optimiser l'efficacité globale. Accessoire fonctionnel, il fonctionne en coordination avec les diffractomètres à rayons X, améliorant ainsi les capacités d'automatisation de l'instrument hôte.

The TD-5000 X-ray Single-Crystal Diffractometer is a high-performance instrument developed by Dandong Tongda Technology. Approved under China's National Key Scientific Instrument and Equipment Development Project, it fills a critical domestic gap in this field. Its primary function is determining the three-dimensional spatial structure and electron density distribution of crystalline substances—including inorganic compounds, organic compounds, and metal complexes—while also analyzing structures of special materials like twinned crystals, incommensurately modulated structures, and quasicrystals. It precisely measures the accurate 3D spatial structure of new crystalline compounds (including bond lengths, bond angles, configuration, conformation, and bonding electron density) and the actual arrangement of molecules within the crystal lattice. The system provides comprehensive structural information such as unit cell parameters, space group, molecular structure, intermolecular hydrogen bonding and weak interactions, and molecular configuration/conformation. It is widely used for analytical research in chemical crystallography, molecular biology, pharmacology, mineralogy, and materials science. Core Technology: A Dual Revolution in Precision and Intelligence (1) The "Mechanical Eye" with Atomic-Level Positioning Four-Circle Concentric Diffractometer: Overcomes traditional mechanical offset limitations, maintaining a constant rotational center to ensure diffraction spot coordinate errors remain below the nanometer level. PILATUS Detector: Combines single-photon counting technology with 172μm ultra-fine pixels. Achieves frame rates up to 20Hz, with noise suppression capability 3 times greater than conventional CCD detectors. (2) Fully Intelligent Closed-Loop Workflow PLC One-Touch Control: Automates the entire process from crystal positioning to data acquisition, reducing manual operation time by 90%. Cryogenic Enhancement System: Features ±0.3 K precision temperature control (100K–300K), boosting signal intensity for weakly diffracting crystals by 50% with liquid nitrogen consumption of only 1.1–2 L/h. (3) Dual Assurance: Safety and Expandability Lead Door Interlock + Leakage Protection (≤0.12 µSv/h), exceeding national safety standards. Optique de focalisation multicouche en option (double cible Mo/Cu), permettant une analyse à grande échelle des produits pharmaceutiques à petites molécules aux minéraux avec de grandes cellules unitaires. The advent of the TD-5000 X-ray Single-Crystal Diffractometer signifies more than an instrumental breakthrough—it marks the era where China's high-end scientific research equipment officially achieves autonomous precision definition. As of 2025, this system has served over 30 leading institutions across fields including chemistry, materials science, and aerospace. As crystals unveil the secrets of life under the probing gaze of domestically developed instruments, China's scientific "eye that discerns the essence of matter" now shines with brilliant clarity.

Présentation produit : Solutions d’analyse cristalline par rayons X de Dandong Tongda Dandong Tongda Science and Technology présente son équipement de pointe d'analyse cristalline par rayons X, offrant précision et fiabilité pour les applications industrielles. L'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF allie des capacités analytiques performantes à une fiabilité industrielle. Doté de quatre fenêtres de fonctionnement et d'une technologie de contrôle par automate programmable, il est destiné aux secteurs de fabrication de pointe, notamment l'inspection des plaquettes de semi-conducteurs, l'évaluation des contraintes des composants aérospatiaux et le traitement des cristaux par laser. Nos orienteurs de cristaux à rayons X (TYX-200/TYX-2H8) permettent une mesure rapide et précise des angles de coupe des cristaux, avec une précision allant jusqu'à ±30 secondes d'arc. Capables de traiter des échantillons jusqu'à 30 kg, ces instruments prennent en charge la coupe directionnelle des cristaux piézoélectriques, optiques, laser et semi-conducteurs. Les deux gammes de produits utilisent la technologie de diffraction des rayons X non destructive, remplaçant les méthodes radioactives traditionnelles tout en améliorant l'efficacité et la précision du traitement pour la recherche et la fabrication de matériaux cristallins.

L'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF est un instrument d'analyse à grande échelle utilisé pour étudier la microstructure interne des substances. Il est principalement utilisé pour l'orientation des monocristaux, l'inspection des défauts, la détermination des paramètres du réseau, la détermination des contraintes résiduelles, l'étude de la structure des plaques et des tiges, l'étude de la structure des substances inconnues et les dislocations des monocristaux.

Le diffractomètre à rayons X haute puissance TDM-20 (DRX de paillasse) est principalement utilisé pour l'analyse de phase des poudres, des solides et des matériaux similaires de type pâte. Le principe de la diffraction des rayons X peut être utilisé pour l'analyse qualitative ou quantitative, l'analyse de la structure cristalline et d'autres matériaux polycristallins tels que les échantillons de poudre et les échantillons de métal. Il est largement utilisé dans des secteurs tels que l'industrie, l'agriculture, la défense nationale, les produits pharmaceutiques, les minéraux, la sécurité alimentaire, le pétrole, l'éducation et la recherche scientifique.